向量(Pattern)發生器發生時鐘時，其實現方法有示于圖2的使用Variable Delay的方法和使用PLL來發生的2種模式。一般半導體測試系統采用的是VariableDelay方式，計測器等脈沖發生器等處于高速及低Jitter的要求，采用的是PLL方式。圖3是由采用Variable Delay方式，利用T6683發生的500MHz信號的XOR方式合成的5Gbps數據的波形。各通道的輸出Delay已經經過最適化的調整，但是還是可以看到XOR的輸入Jitter沒有任何改善顯現在輸出波形中，單純這樣的波形是不能適用于數GHz的高速信號傳輸。

　　因此我們采用的是如圖4所示的低速時鐘發生采用Variable Delay方式，高速部采用與低速部保持同步的PLL方式。另外，Jitter Reduce電路的嵌入也可以使得高速部的向量(Pattern)發生盡可能的不受到低速部的Jitter誤差的影響。

　　從PE到被測芯片(DUT)的高速信號傳送

　　在實際測試中，從ATE的Driver端到被測芯片(DUT)的信號傳送過程，會遇到如圖6-1所示的Pin-Relay、傳輸線路(同軸線)、接線端子、印刷線路等各影響高頻信號衰減的問題。圖6-2是一般的1GHz信號用線路的傳輸特性，當用它來傳輸更高頻率的信號時，我們可以看到在2.5GHz開始就會造成較大的衰減損失。這個衰減如果是超過10dB以上的話，是很難進行正確補償的。因此為了減小在高頻帶的損失，我們對上述圖6-1線路進行了以下4個項目的改進。

　　① Pin Relay & DC Relay

　　② 同軸線

　　③接線端子(Connecter)

　　④ 印刷線路