上行解調測試 - 如何快速準確的仿真多天線環境
2011年08月14日 09:54 C114中國通信網 作者：秩名 用戶評論（0）
上行測試需要使用單向的1*8環境，支持SCME、IMTA信道模型，基站設置為交叉極化，終端設置為垂直極化，天線具有方向性。
在每種信道模型下，通過調整信噪比獲得不同的吞吐量。
可方便的遍歷終端速度、信噪比設置等。
上行解調測試可用SR5500M或VR5，下圖是SR5500M的例子：
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圖7 上行解調測試連接
信道模型為實時的SCME或IMTA M.2135模型：
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圖8 SCME信道模型實時配置
3.3.2雙向8*2測試
雙向測試需要使用雙向的8*2環境，支持SCME、IMTA信道模型，基站設置為交叉極化，終端設置為垂直極化，天線具有方向性。
雙向測試必須保證上下行信道的互易性。所以開始測試前，需要執行相位校準。并保證相位校準的精度。相位校準的間隔應該盡量長。VR5-HD的校準精度在20M的帶寬里達到5°，請校準周期可達到1周。大大提高了測試效率。
VR5內置雙工器，無需添加然后外部器件即可完成雙向測試：
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圖9 雙向8*2連接
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圖10 雙向8*2配置
小結
TD-LTE因為更多的天線，以及因為beamforming而必須同時進行上下行的雙向測試，給實驗室的信道模擬帶來了較大的挑戰。同時TD-LTE需要全新的業界最前沿的基于幾何地理的信道模型，給信道模擬器的模擬帶來了新的課題。
- 第 1 頁：如何快速準確的仿真多天線環境
- 第 2 頁：TD-LTE研發技術試驗
- 第 3 頁：思博倫簡介
- 第 4 頁：上行解調測試
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( 發表人：葉子 )