在調(diào)試MCU時，經(jīng)常會遇到復(fù)位的情況。要找到復(fù)位的原因，我們就需要了解到有哪些因素會導(dǎo)致MCU復(fù)位。

1.外部輸入復(fù)位

當(dāng)我們改變MCU的reset引腳的電平，并保持一段時間，就可以復(fù)位MCU。

外部輸入復(fù)位是重啟MCU最有效的方式了。

2.上電復(fù)位（LVD）

我們發(fā)現(xiàn)MCU不接外部復(fù)位電路，也能正常啟動起來，這就是上電復(fù)位在發(fā)揮作用。

如下圖，當(dāng)電源電壓達到POR釋放電壓后，MCU開始內(nèi)部初始化，一定時間后開始執(zhí)行用戶程序。

當(dāng)然，如果電源電壓掉到了POR檢測電壓以下時，MCU會被復(fù)位住。

3.低電壓復(fù)位（LVD）

當(dāng)我們希望MCU不在某一電壓以下運行時，開啟LVD是一個很好的選擇。

當(dāng)電源電源下降到LVD檢測電壓以下時，MCU會被復(fù)位住。

當(dāng)電源電壓上升的LVD釋放電壓以上時，MCU會被釋放，重啟運行。

4.看門狗復(fù)位（WDT）

當(dāng)MCU因為干擾等因素導(dǎo)致進入死循環(huán)，這個時候需要一種機制讓MCU重新啟動，這種機制就是看門狗。

在開啟看門狗后，如果不及時喂狗，那么它將毫不猶豫的復(fù)位MCU，使其重新開始執(zhí)行用戶程序。

5.系統(tǒng)時鐘復(fù)位

如果系統(tǒng)時鐘的設(shè)置，使MCU進入死鎖狀態(tài)，那么就會發(fā)生系統(tǒng)時鐘復(fù)位。

6.修整數(shù)據(jù)復(fù)位

低電壓復(fù)位（LVD）的檢測值是可以由用戶的選擇的。

根據(jù)用戶選擇，得到修整數(shù)據(jù)，從而調(diào)整電阻梯以形成不同電壓的比較值。

如果這個修整數(shù)據(jù)因為噪聲等原因發(fā)生改變，那么將發(fā)生修整數(shù)據(jù)復(fù)位。

7.閃存待機復(fù)位

當(dāng)設(shè)置閃存flash進入待機狀態(tài)，如果這個時候試圖去讀取閃存flash中的數(shù)據(jù)，那么就會發(fā)生閃存待機復(fù)位。

除了第一種外部輸入復(fù)位為外部因素外，其他復(fù)位都是內(nèi)部因素。

當(dāng)發(fā)生復(fù)位時，我們?nèi)绾闻袛嗍悄囊环N因素導(dǎo)致的呢？

如果是使用東芝TLCS-870/C1系列的TMP89FS60，可以通過它的寄存器IRSTSR來判斷。

IRSTSR是一個特殊的只讀寄存器，它只能被外部輸入復(fù)位或者上電復(fù)位（POR）初始化。

當(dāng)發(fā)生復(fù)位時，我們?nèi)ゲ榭催@個寄存器哪個位被置位了，就能知道是哪種內(nèi)部因素導(dǎo)致的復(fù)位了。

如果發(fā)生復(fù)位后，這個寄存器沒有被置位，那么我們就要去考慮是外部輸入復(fù)位導(dǎo)致的，還是上電復(fù)位（POR）導(dǎo)致的了。
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