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循環(huán)冗余校驗技術(shù),以及在STM32中的一些具體使用體會

Q4MP_gh_c472c21 ? 來源:嵌入式ARM ? 作者:嵌入式ARM ? 2020-11-18 16:36 ? 次閱讀

嵌入式產(chǎn)品應(yīng)用中,常常需要應(yīng)對系統(tǒng)數(shù)據(jù)在存儲或者傳輸過程中的完整性問題。 所謂完整性是指數(shù)據(jù)在其生命周期中的準(zhǔn)確性和一致性。這些數(shù)據(jù)可能存儲在EEPROM/FLASH里,或者基于通信協(xié)議進(jìn)行傳輸,它們有可能因為外界干擾或者程序錯誤,甚至系統(tǒng)入侵而導(dǎo)致被破壞。如果這些數(shù)據(jù)在使用前不做校驗,產(chǎn)品功能可能失效。在一些特定領(lǐng)域,嚴(yán)重時可能會危及用戶財產(chǎn)甚至生命安全。 本文就來聊聊使用較為廣泛的循環(huán)冗余校驗技術(shù),以及在STM32中的一些具體使用體會。 所謂循環(huán)冗余校驗(CRC:Cyclic Redundancy Check)是一種錯誤檢測算法,通常在通信協(xié)議中或存儲設(shè)備中用于檢測原始數(shù)據(jù)的意外變動。可以簡單理解成對有用數(shù)據(jù)按照一定的算法進(jìn)行計算后,提取出一個特征值,并附加在有用數(shù)據(jù)后。在應(yīng)用中將有用數(shù)據(jù)按照特定的算法提取特征值與預(yù)先存儲的特征值進(jìn)行比對,如相等則校驗通過,反之校驗失敗,從而識別出數(shù)據(jù)是否異常。

為何要校驗數(shù)據(jù)完整性(Data Integrity)?

數(shù)據(jù)在存儲以及傳輸?shù)倪^程中可能發(fā)生異動。以數(shù)據(jù)通信應(yīng)用場景為例,常見的錯誤大致有兩種失效模式:

單個位錯誤(Single Bit Error):僅僅某一個數(shù)據(jù)位出現(xiàn)錯誤,如圖:

突發(fā)錯誤(BurstError):兩個或更多個數(shù)據(jù)位在碼流中出現(xiàn)錯誤,如圖:

為什么可能會出現(xiàn)這些位錯誤呢?對于電子系統(tǒng)通信,它涉及到物理層、鏈路層、通信介質(zhì)等,其中物理層主要將原始二進(jìn)制數(shù)據(jù)利用一定的編解碼原理對其進(jìn)行調(diào)制,然后經(jīng)由發(fā)送電路將調(diào)制信號輸送至傳輸介質(zhì),接收端利用接收電路進(jìn)行接收并解調(diào),將信息還原成二進(jìn)制碼流。在這個過程中介質(zhì)有可能被干擾,接收電路、發(fā)送電路、調(diào)制電路、解調(diào)電路都可能由于某些干擾原因?qū)е鹿ぷ魇Ф霈F(xiàn)誤碼。此時,如果沒有一個很好的機(jī)制去確保數(shù)據(jù)的正確性,比如一個飛控系統(tǒng)中某些控制命令、車輛系統(tǒng)中CAN報文數(shù)據(jù),系統(tǒng)直接使用這些錯誤數(shù)據(jù)去控制被控對象(比如電機(jī)、發(fā)動機(jī)等),嚴(yán)重的時候就會造成難以估量的生命財產(chǎn)災(zāi)難。

存儲系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)也是一樣。一般來說,系統(tǒng)在上電運行時會從物理存儲介質(zhì)裝載系統(tǒng)參數(shù),比如一些校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。如果由于介質(zhì)的某些位被破壞,或者軟件bug導(dǎo)致數(shù)據(jù)被誤操作了,而沒有數(shù)據(jù)完整性檢測,這樣的數(shù)據(jù)直接被應(yīng)用于系統(tǒng)控制,一樣會造成安全隱患。

所以,對于數(shù)據(jù)完整性檢測的重要性不言而喻。常見的數(shù)據(jù)完整性算法有很多種,比如簡單的異或校驗、CRC循環(huán)冗余校驗、FEC前向糾錯算法等等。而循環(huán)冗余校驗在嵌入式系統(tǒng)中應(yīng)用非常廣泛,在通信協(xié)議制定、數(shù)據(jù)存儲、壓縮解壓算法等都有廣泛的應(yīng)用。

循環(huán)冗余校驗使用二進(jìn)制除法作為算法原理,具有強大的錯誤檢測機(jī)制。對于二進(jìn)制除法使用少量的硬件邏輯電路就可實現(xiàn)。至于軟件代碼實現(xiàn),有查表法和移位計算兩種思路及策略。查表法以空間換時間,移位計算法以時間換空間。

何為循環(huán)冗余校驗?

循環(huán)冗余校驗的核心數(shù)學(xué)算法原理基于循環(huán)碼,在不增加原始數(shù)據(jù)的信息基礎(chǔ)上擴(kuò)展了信息,以極小的存儲代價存儲其冗余特征。該算法是W. Wesley Peterson 于1961年發(fā)明的。

這里的n位二進(jìn)制數(shù)據(jù)為有效信息載荷。(可能是傳輸或存儲的有用信息)

根據(jù)CRC算法計算出m位冗余碼,即根據(jù)該CRC校驗多項式結(jié)合CRC算法從前面有效數(shù)據(jù)中提取出特征冗余碼,這就是冗余的真實含義。

實際傳輸或者存儲的就是n+m位二進(jìn)制數(shù)據(jù)。

這里引出一個概念:多項式,在CRC校驗算法中多項式可做如下理解及表示:

其本質(zhì)就是多進(jìn)制的數(shù)學(xué)表示法,這里是二進(jìn)制,故X為2。

其基本的算法處理過程示意如下:

假定待發(fā)送有效數(shù)據(jù)為二進(jìn)制多項式M(x),而校驗多項式P(x)為收發(fā)雙方約定好了的,雙方已知,這里介紹一下幾個多項式表示的意思及相關(guān)處理流程:

接收方接收到數(shù)據(jù)后進(jìn)行CRC校驗。余數(shù)為0,校驗通過。

其實CRC的本質(zhì)就是二進(jìn)制多項式除法求取冗余碼的計算過程,無論軟件的查表法、移位計算法,還是純硬件邏輯電路實現(xiàn),本質(zhì)都是一樣的。對于數(shù)字邏輯電路利用移位計算則更具優(yōu)勢,因為幾乎不占用CPU時間。

常見的CRC校驗多項式

常見的CRC校驗多項式算子有哪些?

不同的校驗多項式,除了復(fù)雜度有差異外,從應(yīng)用角度看有什么差異呢?從應(yīng)用角度看主要體現(xiàn)在錯誤診斷率。不妨看看CRC-16以及CRC-CCITT的錯誤檢測效果:

可完全檢測出單bit及雙bit錯誤

奇數(shù)個位錯誤

能檢測出16位長度及小于16的突發(fā)錯誤

能以99.997%的概率檢測出長度為17位及以上的錯誤

選擇不同的校驗多項式算子,其位錯誤診斷成功率是不一樣的,當(dāng)然其計算開銷也不一樣。我們來查查權(quán)威的IEC標(biāo)準(zhǔn)看看。下圖截自《IEC61508-7》。

由上文可見,CRC-8可診斷出99.6%的位錯誤概率,而CRC-16則提高至99.998%的位錯誤概率。

注:IEC61508是國際電工委員會功能安全標(biāo)準(zhǔn)(Functional safety of electrical/electronic/programmable electronicsafety-related systems)。

技術(shù)發(fā)展至今,已有大量不同的校驗多項式生成器被各行各業(yè)使用。下面是來自wikipedia截圖,供大家參考:

STM32的CRC硬件外設(shè)

如下圖,STM32內(nèi)置了一個CRC-32硬件計算單元,實現(xiàn)了一個固定多項式0x4C11DB7(16進(jìn)制表示),可應(yīng)用于以太網(wǎng)報文校驗碼計算。

STM32 全系列產(chǎn)品都具有 CRC 外設(shè),對 CRC 的計算提供硬件支持,節(jié)省了應(yīng)用代碼存儲空間。CRC 校驗值既可以用于傳輸中的數(shù)據(jù)正確性驗證,也可用于數(shù)據(jù)存儲時的完整性檢查。在 IEC60335 中,也接受通過 CRC 校驗對 FLASH 的完整性進(jìn)行檢查。在對 FLASH 完整性檢查的應(yīng)用中,需要事先計算出整個 FLASH 的 CRC 校驗值(不包括最后保存CRC 值的字節(jié)),放在FLASH 的末尾。在程序啟動或者運行的過程中重新用同樣的方法計算整個 FLASH 的 CRC 校驗值,然后與保存在 FLASH 末尾地址空間的 CRC 值進(jìn)行比較。

EWARM 從 v5.5 版本之后開始支持 STM32 芯片的 CRC計算。計算整個 FLASH的 CRC 校驗值并保存在 FLASH末尾的過程,可以在 IAR 中完成。通過配置EWARM 的 CRC 計算參數(shù),自動對整個 FLASH 空間進(jìn)行 CRC 計算,并將計算結(jié)果放到 內(nèi)部FLASH空間 的末尾。

或許你會問,這有什么應(yīng)用價值呢?不妨以基于MCU程序的升級為例。在代碼升級過程中,如果不對bootloader升級接口傳入的二進(jìn)制程序文件做校驗,就無法及時發(fā)現(xiàn)升級過程中發(fā)生的代碼錯誤。相反,如果原始代碼添加了校驗碼,升級程序在接受到升級文件后做校驗計算,并與待升級文件末尾的校驗碼進(jìn)行比對,如果不匹配則放棄升級,這樣就不至于將無效的甚至有安全隱患的代碼寫進(jìn)芯片。

修改 Link 文件,指定 checksum 在FLASH 中的存儲位置,在 Link 文件中增加下面語句。

placeatendofROM_region{rosection.checksum};

該語句指定將 CRC 的值放在 FLASH 空間的末尾位置。是整個 FLASH 空間的末尾,不是應(yīng)用程序的代碼末尾。這樣,CRC 值的位置就是固定的,不會隨代碼大小而變化。

配???????????????????置 Checksum 頁面的參數(shù)

IAR Checksum 頁說明(v6.4 及以上)

IAR 的 checksum 頁面分為兩個部分:

紅線圈出的部分:定義了FLASH 中需要計算 CRC 的范圍和空閑字節(jié)填充值。

checksum 計算參數(shù)的設(shè)定部分:
Checksum size :選擇 checksum 的大小(字節(jié)數(shù))
Alignment:指定 checksum 的對齊方式。不填的話默認(rèn) 2 字節(jié)對齊。

Algorithm:選擇 checksum 的算法

Complement:是否需要進(jìn)行補碼計算。選擇“As is”就是不進(jìn)行補碼計算。

Bit order:位輸出的順序。MSB first,每個字節(jié)的高位在前。LSB first,每個字節(jié)的低位在前。

Reverse byte order within word:對于輸入數(shù)據(jù),在一個字內(nèi)反轉(zhuǎn)各個字節(jié)的順序。

Initial value:checksum 計算的初始化值

Checksum unit size :選擇進(jìn)行迭代的單元大小,按 8-bit,16-bit 還是 32-bit 進(jìn)行迭代。

STM32 CRC 外設(shè)使用默認(rèn)配置時 IAR 的配置

STM32CRC 外設(shè)的配置:

POLY= 0x4C11DB7(CRC32)

Initial_Crc = 0Xffffffff

輸入/輸出數(shù)據(jù)不反轉(zhuǎn)

輸入數(shù)據(jù):0x08000000~0x0801FFFB。(最后 4 個字節(jié)用來放計算出的 CRC 值)

在實驗的過程發(fā)現(xiàn), ”Alignment ”似乎對計算出的 CRC 值沒有影響。但“Reverse byte order within word ”與“Checksumunit size ”這兩項的配置有一定關(guān)系。如果后者選擇 32-bit,則不能勾選前者;反之如果后者選擇 8-bit,則一定要勾選上“ Reverse byte order within word ”。也可以參照下圖進(jìn)行設(shè)置:

對于IAR v6.4 以下版本,沒有”Checksum unit size”選項。參考配置如下:

代碼怎么寫?

如前文描述,這個應(yīng)用可以用于對Flash中數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗,參考代碼如下:

/*-1- 配置CRC外設(shè) */ CrcHandle.Instance = CRC; /* 默認(rèn)二進(jìn)制多項式使能 */ CrcHandle.Init.DefaultPolynomialUse = DEFAULT_POLYNOMIAL_ENABLE; /* 默認(rèn)初值設(shè)置 */ CrcHandle.Init.DefaultInitValueUse = DEFAULT_INIT_VALUE_ENABLE; /* 輸入數(shù)據(jù)不反轉(zhuǎn) */ CrcHandle.Init.InputDataInversionMode = CRC_INPUTDATA_INVERSION_NONE; /* 輸出數(shù)據(jù)不反轉(zhuǎn) */ CrcHandle.Init.OutputDataInversionMode = CRC_OUTPUTDATA_INVERSION_DISABLED; /* 輸入數(shù)據(jù)基本單元長度為32bit */ CrcHandle.InputDataFormat = CRC_INPUTDATA_FORMAT_WORDS; if (HAL_CRC_Init(&CrcHandle) != HAL_OK) { /* 初始化錯誤 */ Error_Handler(); } pdata = (uint32_t*)ROM_START; /*##-2- 調(diào)用HAL庫利用硬件CRC外設(shè)對ROM區(qū)計算CRC-32校驗碼*/ uwCRCValue = HAL_CRC_Calculate(&CrcHandle, pdata, ROM_SIZEinWORDS);

小結(jié)

對于CRC應(yīng)用,還可以根據(jù)多項式算子編寫純軟件方案,網(wǎng)上有很多現(xiàn)成的代碼。其基本思路無外乎查表法以及移位計算法。差異在于一個犧牲存儲空間以換取計算效率,一個犧牲計算時間而節(jié)省存儲空間,至于如何選擇,則根據(jù)所設(shè)計的系統(tǒng)綜合考慮,一般根據(jù)應(yīng)用場景來定。

將塊數(shù)據(jù)利用CRC算法計算出冗余碼,有的文章、標(biāo)準(zhǔn)稱這個冗余碼為簽名。實際應(yīng)用時計算有效數(shù)據(jù)所得校驗碼與預(yù)存校驗碼進(jìn)行比較,相等則校驗通過,反之則失敗。當(dāng)然,也可以將原數(shù)據(jù)與所存校驗碼一起傳入校驗算法,所得結(jié)果為0則校驗通過,反之失敗。

對于數(shù)據(jù)通信,一般會在報文的尾部添加有效數(shù)據(jù)的校驗碼,再由接收方校驗收到報文的數(shù)據(jù)完整性。

責(zé)任編輯:xj

原文標(biāo)題:資深工程師:圖說CRC原理應(yīng)用及STM32硬件CRC外設(shè)

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