簡介
創建基于傳感器的物聯網(IoT)邊緣器件會涉及多個設計領域,因此極具挑戰性(圖1)。但是,在同一硅片上創建一個既有采用傳統CMOS IC流程制作的電子器件,又有MEMS傳感器的邊緣器件似乎不大現實。實際上,許多IoT邊緣器件會在單個封裝中集成多個芯片,將電子器件與MEMS設計分開。Tanner AMS IC設計流程支持單芯片或多芯片技術,因而有助于成功實現IoT邊緣器件的設計和驗證。不過,本文將著重介紹在單個芯片上融合CMOS IC與MEMS設計的獨特挑戰。
圖1:一個典型IoT邊緣器件,涉及數字、模擬、射頻和MEMS領域
了解設計流程
Tanner設計流程(圖2)為AMS IC設計提供了一個完整的環境。
圖2:Tanner AMS設計流程
不過,多年以來,Tanner支持自上而下的MEMS IC流程(圖3),能讓客戶將MEMS設計融入這一流程中。
圖3:自上而下的IC/MEMS流程
-
傳感器
+關注
關注
2564文章
52707瀏覽量
764640 -
mems
+關注
關注
129文章
4086瀏覽量
192876 -
物聯網
+關注
關注
2928文章
46015瀏覽量
389340
發布評論請先 登錄
評論