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剖析如何確保通過USB 3.0認(rèn)證的一些測(cè)試技巧和技術(shù)

電子工程師 ? 來源:Chris Loberg ? 作者:Chris Loberg ? 2021-04-11 10:56 ? 次閱讀

雖然已經(jīng)有早期的USB3.0產(chǎn)品上市,但向超速(SuperSpeed)USB的大規(guī)模轉(zhuǎn)換還沒有開始。部分問題是USB 2.0已經(jīng)十分普及,生產(chǎn)成本非常低。高帶寬設(shè)備(如視頻攝像機(jī)和存儲(chǔ)設(shè)備)成為了SuperSpeed USB的第一批應(yīng)用對(duì)象。然而,至少目前為止,成本因素將USB 3.0實(shí)現(xiàn)仍限制用于較高端的產(chǎn)品。

除了廣泛部署任何 新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)所面臨的固有挑戰(zhàn)外,USB 3.0不僅僅是USB 2.0的常規(guī)升級(jí),因?yàn)閁SB 3.0可以提供10倍的性能提升。雖然性能提高了,但消費(fèi)者對(duì)低成本互連的期望一直沒有改變。這就給工程師帶來了巨大的壓力,他們只能使用速度低得多的通道,同時(shí)仍要在各種條件下確保可靠性、互操作性和高性能。確保物理層(PHY)一致性的測(cè)試和認(rèn)證從未有現(xiàn)在這么關(guān)鍵或重要。

USB 3.0共享許多其它高速串行技術(shù)(如PCI Express和串行ATA)的特性:8b/10b編碼、顯著的通道衰減以及擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘。本文將討論一致性測(cè)試方法,以及如何對(duì)發(fā)送端、接收端、電纜及互連實(shí)施最精確、可重復(fù)的測(cè)量。掌握這些技巧后,到SuperSpeed平臺(tái)集成實(shí)驗(yàn)室(PIL)的旅程也許會(huì)更精彩。

高速Vs.超速

USB 3.0可以滿足帶寬日益增加的需求,能夠支持應(yīng)用提供更加實(shí)時(shí)的體驗(yàn)。目前在用的USB設(shè)備數(shù)量估計(jì)超過10億,因此USB 3.0需要具有后向兼容功能,以支持傳統(tǒng)的USB 2.0設(shè)備。當(dāng)然,USB 2.0和3.0之間還有多個(gè)重要的PHY區(qū)別(表1)。

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為了應(yīng)對(duì)與更高速度接口有關(guān)的新挑戰(zhàn),SuperSpeed USB一致性測(cè)試已經(jīng)作出了很大的修改。USB 2.0接收端的驗(yàn)證包括接收端靈敏度測(cè)試。USB 2.0設(shè)備必須響應(yīng)150mV或150mV以上的測(cè)試包,同時(shí)忽略(抑制)低于100mV的信號(hào)

另一方面,SuperSpeed USB接收端必須在有許多信號(hào)損傷的條件下還能正常工作,因此測(cè)試要求比USB 2.0更加嚴(yán)格。設(shè)計(jì)師還必須考慮傳輸線效應(yīng),并且使用包括在發(fā)送端進(jìn)行去加重、在接收端進(jìn)行連續(xù)時(shí)間線性均衡(CTLE)在內(nèi)的均衡技術(shù)。如今還要求在接收側(cè)進(jìn)行抖動(dòng)容限測(cè)試,但使用擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)和異步參考時(shí)鐘可能導(dǎo)致互操作性問題。

評(píng)估USB 3.0串行數(shù)據(jù)鏈路的另外一個(gè)重要部分是測(cè)量波形和互連通道行為之間的復(fù)雜交互。以下假設(shè)已經(jīng)不再成立:因?yàn)榘l(fā)送端輸出信號(hào)符合眼圖模板,所以在所有通道達(dá)到給定損耗條件下設(shè)計(jì)都能正常工作。為了理解在給定最差通道條件下發(fā)送端的余量,除了一致性要求外,你還需要建模通道和電纜的組合,并使用通道建模軟件分析通道效應(yīng)(圖1)。

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發(fā)送端的一致性測(cè)試

發(fā)送端測(cè)試需要使用各種測(cè)試圖案(表2)。每種圖案的選擇依據(jù)是與評(píng)估圖案的測(cè)試有關(guān)的特征。CP0是一個(gè)D0.0擾碼序列,用于測(cè)量確定性抖動(dòng)(Dj),比如數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)抖動(dòng)(DDJ)。而CP1是一種無擾碼的D10.2全速時(shí)鐘圖案,不產(chǎn)生DDJ,因此更加適合用于評(píng)估隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)。

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抖動(dòng)和眼圖高度是在應(yīng)用均衡器函數(shù)和合適的時(shí)鐘恢復(fù)設(shè)置(二階鎖相環(huán)或PLL,閉環(huán)帶寬是10MHz,阻尼系數(shù)為0.707)之后用100萬個(gè)連續(xù)單位間隔測(cè)量的。抖動(dòng)結(jié)果的計(jì)算方法是以1 x 10-12的誤碼率(BER)從測(cè)量數(shù)據(jù)總量中提取抖動(dòng)性能。例如,利用抖動(dòng)外推法,目標(biāo)RJ等于測(cè)量得到的RJ(rms)乘以14.069。

圖2顯示了標(biāo)準(zhǔn)化的發(fā)送端一致性測(cè)試裝置,其中包括參考測(cè)試通道和電纜。測(cè)試點(diǎn)2(TP2)最靠近被測(cè)設(shè)備(DUT),而測(cè)試點(diǎn)1(TP1)是遠(yuǎn)端測(cè)量點(diǎn)。所有發(fā)送端的常規(guī)化測(cè)量都是在TP點(diǎn)的信號(hào)上進(jìn)行的。

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在TP1點(diǎn)采集到信號(hào)后,可以使用一款稱為SigTest的軟件工具進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,類似于正式的PCI Express一致性測(cè)試。對(duì)于要求預(yù)先一致性測(cè)試、表征或調(diào)試的應(yīng)用,還可以用其它工具深入觀察不同條件或參數(shù)下的設(shè)計(jì)行為。帶USB 3.0特定軟件的高速示波器可以提供自動(dòng)的標(biāo)準(zhǔn)化和信息化PHY發(fā)送端測(cè)試。這些工具可以確保測(cè)試設(shè)備得到了正確配置,從而有效節(jié)省時(shí)間。

在測(cè)試完成后,一份詳細(xì)的通過/失敗測(cè)試報(bào)告將突出顯示可能存在設(shè)計(jì)問題的地方。如果在不同測(cè)試位置(例如公司實(shí)驗(yàn)室,測(cè)試室)之間出現(xiàn)矛盾,應(yīng)該使用前次測(cè)試運(yùn)行時(shí)保存的數(shù)據(jù)再次執(zhí)行測(cè)試。

在要求進(jìn)一步分析的場(chǎng)合,可以用抖動(dòng)分析和眼圖分析軟件進(jìn)行查錯(cuò)和設(shè)計(jì)表征。例如,一次可以顯示多個(gè)眼圖,允許工程師分析不同的時(shí)鐘恢復(fù)技術(shù)或分析軟件通道模型的效果。另外,可以使用不同的濾波器分析SSC效應(yīng),最終解決系統(tǒng)互操作性問題。

均衡考慮事項(xiàng)

由于有較大的通道衰減,SuperSpeed USB要求采用某種形式的補(bǔ)償機(jī)制來打開接收端的眼圖。發(fā)送端一般采用去加重形式的均衡技術(shù)。歸一化的去加重比率在線性刻度下規(guī)定為3.5dB或1.5x。舉例來說,當(dāng)跳變沿比特電平為150mVp-p時(shí),非跳變沿比特電平將為100mVp-p。

CTLE一致性均衡實(shí)現(xiàn)包括裸片上的有源接收端均衡或無源高頻濾波器(比如電纜均衡器中使用的濾波器)。這種模型非常適合用于一致性測(cè)試,因?yàn)樵诿枋鲛D(zhuǎn)移函數(shù)時(shí)非常簡(jiǎn)單。CTLE實(shí)現(xiàn)在頻域有一組極點(diǎn)和零點(diǎn),因此在目標(biāo)頻率處會(huì)出現(xiàn)峰值。

CTLE實(shí)現(xiàn)對(duì)設(shè)計(jì)而言更加簡(jiǎn)單,并且比替代性技術(shù)消耗更低的功率。然而,在某些情況下,由于適配性、精度和噪聲放大等方面的限制,它們可能還不夠。其它技術(shù)包括前饋均衡(FFE)和判定反饋均衡(DFE),這些技術(shù)使用經(jīng)比例因子加權(quán)的數(shù)據(jù)樣本來補(bǔ)償通道損耗。

CTLE和FFE都是線性均衡器,因此都會(huì)由于高頻噪聲的提升而出現(xiàn)信噪比的劣化。然而,DFE在反饋環(huán)路中使用非線性元件,因而能最大限度地減少噪聲放大,補(bǔ)償碼間干擾(ISI)。

圖3所示例子顯示了經(jīng)過顯著通道衰減后的5Gbit/s信號(hào)以及使用去加重、CTLE和DFE技術(shù)均衡過的信號(hào)。

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USB 3.0接收端測(cè)試

USB 3.0接收端測(cè)試類似于其它高速串行總線接收端的一致性測(cè)試,一般分為三個(gè)階段,開始是受壓眼圖校準(zhǔn),然后是抖動(dòng)容限測(cè)試,最后是分析。下面讓我們看看這個(gè)過程的流程圖(圖4)。

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受壓眼圖校準(zhǔn)使用最糟糕信號(hào),這個(gè)信號(hào)通常在垂直方向(通過增加的抖動(dòng))和水平方向(通過將幅度設(shè)置為接收端在部署時(shí)能看到的最低值)都有損傷。當(dāng)任何測(cè)試夾具、電纜或儀器發(fā)生改變時(shí)都必須執(zhí)行受壓眼圖校準(zhǔn)。

抖動(dòng)容限測(cè)試將校準(zhǔn)后的受壓眼圖用作輸入,然后施加更高頻率帶來的附加正弦抖動(dòng)(SJ)。這種SJ將作用于接收端內(nèi)的時(shí)鐘恢復(fù)電路,因此不僅使用最差信號(hào)條件測(cè)試了接收端,而且時(shí)鐘恢復(fù)也得到了明確的測(cè)試。最后,通過分析評(píng)估測(cè)試完成后是否需要執(zhí)行額外的設(shè)計(jì)任務(wù)才能達(dá)到一致性。

受壓眼圖校準(zhǔn)過程首先要用一致性夾具、電纜和通道設(shè)置好測(cè)試設(shè)備(圖5)。下一步是反復(fù)測(cè)量和調(diào)整各種類型的外加應(yīng)力,如抖動(dòng)。校準(zhǔn)步驟執(zhí)行時(shí)不需要DUT,但需要一致性測(cè)試夾具、通道以及測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生的特定數(shù)據(jù)圖案。測(cè)試儀器應(yīng)能執(zhí)行兩種功能——能夠增加各種應(yīng)力的圖案發(fā)生功能,以及抖動(dòng)和眼圖測(cè)量等信號(hào)分析功能。

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校準(zhǔn)受壓眼圖時(shí)必須完成三種損傷校準(zhǔn):RJ、SJ和眼圖高度。每種校準(zhǔn)都要求對(duì)圖案發(fā)生器和分析儀進(jìn)行特定的設(shè)置。對(duì)每組電纜、適配器和儀器也必須做一次受壓眼圖校準(zhǔn)。

由于使用不同的適配器和參考通道組,主機(jī)和設(shè)備將經(jīng)過不同的受壓眼圖校準(zhǔn)過程。一旦完成后,校準(zhǔn)眼圖的設(shè)置可以重復(fù)使用,只有當(dāng)設(shè)備設(shè)置發(fā)生改變時(shí)才必須做再次校準(zhǔn)。

額外的圖案發(fā)生器要求

前面已經(jīng)介紹了要求校準(zhǔn)的全部事項(xiàng),下面讓我們?cè)倏纯疵坎叫?zhǔn)對(duì)圖案發(fā)生器的附加要求,包括使用的數(shù)據(jù)圖案、去加重程度、SSC是否應(yīng)激活等。在受壓眼圖校準(zhǔn)方案中,列出了兩種圖案,即CP0和CP1。表3列出了所有的USB 3.0一致性圖案供參考。

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CP0是一種8b/10b編碼、PRBS-16數(shù)據(jù)圖案(將D0.0字符送到USB 3.0發(fā)送端中進(jìn)行擾碼和編碼的結(jié)果)。經(jīng)過8b/10b編碼后,最長(zhǎng)的連1或連0長(zhǎng)度從PRBS-16圖案中的16比特減少到了5個(gè)比特。CP3是類似于8b/10b編碼過的PRBS-16的圖案,其中包含最短(單個(gè)比特)和最長(zhǎng)的相同比特序列。

CP1是用于RJ校準(zhǔn)的時(shí)鐘圖案。許多儀器在RJ測(cè)量時(shí)采用dual-Dirac隨機(jī)與確定性抖動(dòng)分離方法。使用時(shí)鐘圖案可以避免dual-Dirac方法的一些缺陷,例如將DDJ報(bào)告為RJ,特別是針對(duì)長(zhǎng)圖案。通過使用時(shí)鐘圖案,作為ISI結(jié)果的DDJ將從抖動(dòng)測(cè)量中消除,從而形成更精確的RJ測(cè)量結(jié)果。

在圖案發(fā)生器和分析儀之間的有損通道(即USB 3.0參考通道和電纜)將導(dǎo)致垂直和水平方向表現(xiàn)為眼圖關(guān)閉的頻率相關(guān)損耗(圖6)。為了解決這種損耗問題,需要使用發(fā)送端去加重技術(shù)提升信號(hào)中的高頻分量,從而使BER為10-12或更高的工作鏈路有足夠好的接收眼圖。

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從這些眼圖可以看出,沒有去加重時(shí)所有幅度名義上都是相同的。采用去加重后,跳變沿比特的幅度要高于非跳變沿比特的幅度,從而有效提升了信號(hào)的高頻分量。

在通過有損通道和電纜后,沒有經(jīng)過去加重處理的信號(hào)將受到碼間干擾(ISI)的影響,眼圖開度要比經(jīng)過了去加重的信號(hào)小。同時(shí),采用去加重的信號(hào)是全開的。從這里可以看出,去加重程度會(huì)影響ISI和DDJ的程度,進(jìn)而影響接收端的眼圖開度。

在同步數(shù)字系統(tǒng)(包括USB 3.0)中經(jīng)常使用SSC來減小電磁干擾(EMI)。如果不使用SSC,數(shù)字流頻譜中的載頻(即5Gbps)及其諧波處會(huì)出現(xiàn)大幅度的尖峰,并且有可能超過調(diào)整極限(圖7)。

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為了防止出現(xiàn)這個(gè)問題,可以用SSC擴(kuò)展頻譜能量。在這個(gè)案例中載頻被一個(gè)三角波所調(diào)制。用于接收端測(cè)試的頻率“擴(kuò)展”量是5000ppm或25MHz,頻率調(diào)制周期為33kHz或每隔30μs,即三角波的一個(gè)周期。經(jīng)過SSC后,頻譜中的能量得到了擴(kuò)展,不會(huì)再有單個(gè)頻率破壞規(guī)范極限。

如前所述,USB 3.0中的接收側(cè)均衡可以改善被碼間干擾損傷的信號(hào),這種碼間干擾是由于參考通道和電纜中的頻率相關(guān)損耗引起的。這種概念等同于去加重——通過信號(hào)處理方法提升信號(hào)中的高頻分量。

雖然設(shè)備或主機(jī)中的接收端均衡電路與具體實(shí)現(xiàn)有關(guān),但USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)為一致性測(cè)試規(guī)定了CTLE(圖8)。這種CTLE必須在進(jìn)行一致性測(cè)試測(cè)量(都是針對(duì)發(fā)送端測(cè)試,在本例中是接收端受壓眼圖校準(zhǔn))之前,由誤碼率測(cè)試儀(BERT)或示波器等參考接收端實(shí)現(xiàn),并且通常采用軟件模擬的方式。

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使用CTLE模擬進(jìn)行抖動(dòng)測(cè)量主要影響由信號(hào)處理方法引起的抖動(dòng),即ISI。CTLE模擬不影響與數(shù)據(jù)圖案(如RJ和SJ)不相關(guān)的抖動(dòng)分量,雖然根據(jù)一致性測(cè)試規(guī)范(CTS)這兩種測(cè)量都要求使用CTLE。另一方面,眼圖高度會(huì)直接受到影響,因?yàn)镮SI影響測(cè)量。

抖動(dòng)測(cè)量時(shí)必須使用具有一致性抖動(dòng)轉(zhuǎn)移函數(shù)(JTF)的時(shí)鐘恢復(fù)“黃金PLL”,如圖9中的藍(lán)線所示。JTF表明了有多少抖動(dòng)從輸入信號(hào)轉(zhuǎn)移到下游分析儀。在本例中,-3dB截止頻率是4.9MHz。

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在更低的SJ頻率(沿著JTF的傾斜部分,此處的PLL環(huán)路響應(yīng)是平坦的),恢復(fù)時(shí)鐘跟蹤數(shù)據(jù)信號(hào)上的抖動(dòng)。這樣,相對(duì)于時(shí)鐘的數(shù)據(jù)抖動(dòng)將按照J(rèn)FT得到衰減。在較高的SJ頻率點(diǎn),JTF變平,PLL響應(yīng)向下傾斜,信號(hào)中的SJ部分被轉(zhuǎn)移到下游分析儀。除了受壓眼圖校準(zhǔn)期間的SJ外,所有測(cè)量都規(guī)定要使用一致性JTF。

一旦受壓眼圖完成校準(zhǔn),接收端測(cè)試就可以開始了。USB 3.0與以前的USB 2.0不同,要求進(jìn)行BER測(cè)試。采用抖動(dòng)容限測(cè)試形式的BER測(cè)試僅是接收端測(cè)試要求的測(cè)試項(xiàng)目。抖動(dòng)容限測(cè)試使用最差輸入信號(hào)條件試驗(yàn)接收端(受壓眼圖的校準(zhǔn)見前面部分)。在受壓眼圖頂部,圍繞JTF的-3dB截止頻率且覆蓋一定頻率范圍的一系列SJ頻率和幅度被注入測(cè)試信號(hào),同時(shí)由誤碼檢測(cè)器監(jiān)視接收端的錯(cuò)誤或比特誤碼,并計(jì)算BER。

本文小結(jié)

隨著USB 3.0開始走向主流,需要對(duì)發(fā)送端和接收端進(jìn)行成功的一致性和認(rèn)證測(cè)試,這是將新產(chǎn)品推向市場(chǎng)的關(guān)鍵。這些產(chǎn)品不僅要求能與其它USB 3.0設(shè)備一起工作,而且要滿足消費(fèi)者對(duì)各種條件下的性能和可靠性的期望值。

性能的急劇提高帶來了許多新的測(cè)試要求,也使得設(shè)計(jì)和認(rèn)證比前代標(biāo)準(zhǔn)更具挑戰(zhàn)性。幸運(yùn)的是,有一整套測(cè)試工具和資源可以用來協(xié)助SuperSpeed USB商標(biāo)認(rèn)證。

編輯:jq

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原文標(biāo)題:確保通過USB 3.0認(rèn)證的一些測(cè)試技巧和技術(shù)

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    通過嚴(yán)格的溫度沖擊試驗(yàn),無人機(jī)產(chǎn)品可以滿足GB、GB/T、ISO、MIL-STD、RTCA DO-160等行業(yè)認(rèn)證和標(biāo)準(zhǔn)的要求,確保其在各種環(huán)境條件下的可靠性和穩(wěn)定性。合規(guī)經(jīng)理、認(rèn)證負(fù)
    的頭像 發(fā)表于 02-14 17:14 ?542次閱讀
    溫度沖擊試驗(yàn):<b class='flag-5'>確保</b>無人機(jī)符合<b class='flag-5'>認(rèn)證</b>和標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)鍵步驟

    CH634USB3.0HUB控制芯片USB3.0國產(chǎn)控制芯片

    CH634是南京沁恒微電子股份有限公司推出的款高性能、工業(yè)級(jí)4端口USB3.0 HUB控制器芯片,該芯片全面符合USB3.2 Gen1協(xié)議規(guī)范,集成了四口USB HUB和
    的頭像 發(fā)表于 02-07 16:07 ?1999次閱讀
    CH634<b class='flag-5'>USB3.0</b>HUB控制芯片<b class='flag-5'>USB3.0</b>國產(chǎn)控制芯片

    擴(kuò)頻時(shí)鐘技術(shù)分享:SSC技術(shù)是什么、SSC對(duì)測(cè)試高速總線信號(hào)的影響

    高速信號(hào)的速率時(shí),我們會(huì)發(fā)現(xiàn)信號(hào)的比特率并不是穩(wěn)定在個(gè)數(shù)值而是在個(gè)很小的范圍內(nèi)浮動(dòng);在一些總線的致性測(cè)試中也有規(guī)范SSC
    的頭像 發(fā)表于 01-06 11:38 ?4049次閱讀
    擴(kuò)頻時(shí)鐘<b class='flag-5'>技術(shù)</b>分享:SSC<b class='flag-5'>技術(shù)</b>是什么、SSC對(duì)<b class='flag-5'>測(cè)試</b>高速總線信號(hào)的影響

    充電樁3C認(rèn)證有哪些測(cè)試項(xiàng)目

    充電樁3C認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目是為了確保產(chǎn)品在電氣安全、電磁兼容性(EMC)、環(huán)境適應(yīng)性等方面達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)的要求。以下是基于現(xiàn)有資料整理的一些主要測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 12-25 17:13 ?819次閱讀

    USB3.0連接器:UL認(rèn)證守護(hù)下的科技紐帶

    在科技的奇妙世界里,USB3.0 連接器宛如條條靈動(dòng)的紐帶,將各種電子設(shè)備緊密相連,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的高速傳輸與交互。然而,這些看似渺小卻身負(fù)重任的連接器,為何要踏上 UL 認(rèn)證的征程呢?而 UL
    的頭像 發(fā)表于 12-25 11:48 ?842次閱讀

    如何判斷產(chǎn)品需不需要做AT&amp;amp;T認(rèn)證?AT&amp;amp;T測(cè)試內(nèi)容和要求分享

    隨著經(jīng)濟(jì)全球化的發(fā)展,國內(nèi)越來越多產(chǎn)品廠商選擇將自家產(chǎn)品出口到北美市場(chǎng),而這時(shí)候各位廠商都會(huì)面臨產(chǎn)品需不需要做AT&T的問題。今天英利檢測(cè)針對(duì)這問題整理了一些關(guān)于AT&T認(rèn)證
    的頭像 發(fā)表于 12-23 17:46 ?521次閱讀
    如何判斷產(chǎn)品需不需要做AT&amp;amp;T<b class='flag-5'>認(rèn)證</b>?AT&amp;amp;T<b class='flag-5'>測(cè)試</b>內(nèi)容和要求分享

    星閃聯(lián)盟認(rèn)證 SLE SLB測(cè)試

    星閃檢測(cè)站式服務(wù)星閃聯(lián)盟認(rèn)證:開啟您的無線通信之旅探索星閃聯(lián)盟認(rèn)證的魅力在無線通信技術(shù)的浪潮中,星閃聯(lián)盟認(rèn)證為您的產(chǎn)品插上騰飛的翅膀。我們
    的頭像 發(fā)表于 11-15 16:59 ?744次閱讀
    星閃聯(lián)盟<b class='flag-5'>認(rèn)證</b> SLE SLB<b class='flag-5'>測(cè)試</b>

    OTA測(cè)試暗箱的技術(shù)原理和應(yīng)用場(chǎng)景

    等新代通信技術(shù)的不斷發(fā)展,OTA測(cè)試暗箱也在不斷更新和升級(jí)。例如,一些先進(jìn)的OTA測(cè)試暗箱已經(jīng)支持毫米波等高頻段的
    發(fā)表于 11-14 14:36

    分享一些常見的電路

    理解模電和數(shù)電的電路原理對(duì)于初學(xué)者來說可能比較困難,但通過一些生動(dòng)的教學(xué)方法和資源,可以有效地提高學(xué)習(xí)興趣和理解能力。 下面整理了一些常見的電路,以動(dòng)態(tài)圖形的方式展示。 整流電路 單相橋式整流
    的頭像 發(fā)表于 11-13 09:28 ?725次閱讀
    分享<b class='flag-5'>一些</b>常見的電路

    USB3.0的識(shí)別問題

    做了個(gè)USB3.0集線器,現(xiàn)在遇到這個(gè)問題,USB3.0無法識(shí)別,插拔幾次后可以識(shí)別,接上其他設(shè)備也能正常工作,求高手幫忙啊,怎么處理USB3.0識(shí)別問題
    發(fā)表于 10-29 11:36

    國民技術(shù)N32 MCU通過IEC/EN/UL 60730功能安全認(rèn)證

    近期,國民技術(shù)多個(gè)系列的N32MCU產(chǎn)品先后通過了全球領(lǐng)先的檢驗(yàn)、鑒定、測(cè)試認(rèn)證機(jī)構(gòu)SGS的IEC/EN/UL60730功能安全測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 10-25 08:07 ?880次閱讀
    國民<b class='flag-5'>技術(shù)</b>N32 MCU<b class='flag-5'>通過</b>IEC/EN/UL 60730功能安全<b class='flag-5'>認(rèn)證</b>
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