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三月底，納微半導體正式發(fā)布全球首個氮化鎵功率芯片行業(yè)20年質(zhì)保承諾新聞稿，近日，納微再次發(fā)布相關(guān)白皮書，幫助業(yè)內(nèi)讀者進一步解讀相關(guān)內(nèi)容。了解詳情，歡迎您請查看以下內(nèi)容或點擊閱讀原文，下載納微官網(wǎng)PDF原件。

眾所周知，工業(yè)和汽車應用需要最高的可靠性和使用壽命，整個行業(yè)都制定了嚴格的測試和標準 ，以確保功率器件在其規(guī)格范圍內(nèi)運行 10 年或更長時間。各種內(nèi)部和外部應力會影響器件的整個使用壽命，例如熱循環(huán)、濕度以及電壓和溫度應力。

對于氮化鎵 (GaN) 功率器件，納微半導體開創(chuàng)了成為 JEDEC 70.1 標準的高頻測試類型，該標準是由于寬帶隙和化合物半導體特性的獨特品質(zhì)而專門創(chuàng)建的，納微半導體是該委員會的創(chuàng)始成員之一。

自 2018 年初獲得認證以來，GaNFast? 電源 IC 已成為三星、戴爾、聯(lián)想和 LG 等 客戶的行業(yè)領先的快速和超快速手機充電器解決方案。截至 22 年 3 月，已出貨超過 40,000,000 臺， GaN 相關(guān)的終端市場失效率為零。納微半導體致力于加速創(chuàng)新、性能和可持續(xù)性進入高可靠性市場，例如數(shù)據(jù)中心、 電動汽車和太陽能。憑借超過 1740 億小時的終端市場使用時間和 58 億等效器件小時的 測試，納微為其 GaNFast 技術(shù)提供業(yè)界首創(chuàng)的 20 年質(zhì)保——比標準電力電子產(chǎn)品長 10 至 20 倍——并且是 GaN 在這些市場被采用的關(guān)鍵推動力，這一史無前例的20 年質(zhì)保是建立在納微通過設計、測試、表征和驗證實現(xiàn)最高產(chǎn)品可靠性的整體方法基礎上而得到的。

納微20年質(zhì)保承諾白皮書

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