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PCB熔錫不良失效分析

新陽檢測中心 ? 來源:新陽檢測中心 ? 作者:新陽檢測中心 ? 2022-08-10 14:25 ? 次閱讀

案例背景

錫厚度不均勻導致的鍍層合金化是熱風整平(噴錫)工藝PCB常見的失效模式。本篇文章針對此問題,分享以下案例。

不良解析過程

1.外觀目檢

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說明:PCB焊盤的表面處理方式為熱風整平(噴錫)。

2.EDS分析

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說明:失效焊點PAD上無明顯錫膏(Sn)附著,未發現異常元素, C元素約占30%(助焊劑主要成分之一)。

3.斷面金相分析

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說明:斷面分析顯示,未潤濕位置具有表面合金化的典型特征,即IMC層裸露。

4.斷面SEM分析

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說明:PCB的鍍層分析Sn的厚度,對PAD位置進行斷面SEM分析, PAD表層呈現合金化狀態。

失效機理解析

PCB表面Sn鍍層厚度不均勻,導致局部位置焊盤表面的鍍層合金化,即IMC層(Cu6Sn5)裸露,由于IMC含有大量的Cu,其熔點遠高于錫焊料,從而造成焊盤表面可焊性降低,回流焊接時易發生焊盤不潤濕,焊錫爬至器件焊端的現象。

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本篇文章介紹了PCB熔錫不良失效分析。如需轉載本篇文章,后臺私信獲取授權即可。若未經授權轉載,我們將依法維護法定權利。原創不易,感謝支持!
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審核編輯 黃昊宇

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