多層瓷介電容器（MLCC），簡稱片式電容器，是由印好電極（內電極）的陶瓷介質膜片以錯位的方式疊合起來，經過一次性高溫燒結形成陶瓷芯片，再在芯片的兩端封上金屬層（外電極），從而形成一個類似獨石的結構體，故也叫獨石電容器。雖然MLCC功能簡單，但是由于廣泛應用于智能手機等電子產品中，一旦失效會導致電路失靈，功能不正常，甚至導致產品燃燒，爆炸等安全問題，其失效模式不得不受到品質檢測等相關工程師的關注。

而在多種失效模式中，電容漏電（低絕緣阻抗）是最常見的失效類型，其主要原因可分為制造過程中的內在因素及生產過程中的外界因素。

1.內在因素

1.1空洞（Void）

電容內部異物在燒結過程中揮發(fā)掉形成的空洞。空洞會導致電極間的短路及潛在電氣失效，空洞較大的話不僅降低IR，還會降低有效容值。當上電時，有可能因為漏電導致空洞局部發(fā)熱，降低陶瓷介質的絕緣性能，加劇漏電，從而發(fā)生開裂，爆炸，燃燒等現象。

空洞現象

1.2燒結裂紋（Crack）

燒結裂紋一般緣于燒結過程中快速冷卻，在電極邊垂直方向上出現。

燒結裂紋

1.3分層（Delamination）

分層的產生往往是在堆疊之后，因層壓不良或排膠、燒結不充分導致，在層與層間混入了空氣，外界雜質而出現鋸齒狀橫向開裂。也有可能是不同材料混合后熱膨脹不匹配導致。

分層

2.外界因素

2.1熱沖擊

熱沖擊主要發(fā)生在波峰焊時，溫度急劇變化，導致電容內部電極間出現裂縫，一般需要通過測量發(fā)現，研磨后觀察，通常是較小的裂縫，需要借助放大鏡確認，少數情況下會出現肉眼可見的裂縫。

熱沖擊

這種情況下建議使用回流焊，或者減緩波峰焊時的溫度變化（不超過4~5℃/s），在清洗面板前控制溫度在60℃以下。

2.2外界機械應力

因為MLCC主要成分是陶瓷，在放置元件，分板，上螺絲等工序中，很可能因為機械應力過大導致電容受擠壓破裂，從而導致潛在的漏電失效。此時的裂縫一般呈斜線，從端子與陶瓷體的結合處開裂。外界機械應力

2.3焊錫遷移

高濕環(huán)境下進行焊接有可能導致電容兩端焊錫遷移，連接到一起導致漏電短路。

原理：

由印好電極（內電極）的陶瓷介質膜片以錯位的方式疊合起來，經過一次性高溫燒結形成陶瓷芯片，再在芯片的兩端封上金屬層（外電極），以實現所需的電容值及其他參數特性。

結構原理

分類：

按照溫度特性、材質、生產工藝。MLCC可以分成如下幾種：NP0、C0G、Y5V、Z5U、X7R、X5R等。NP0、C0G溫度特性平穩(wěn)、容值小、價格高；Y5V、Z5U溫度特性大、容值大、價格低；X7R、X5R則介于以上兩種之間。

按材料SIZE大小來分。大致可以分為 3225、3216、2012、1608、1005、0603、0402 數值越大。SIZE就更寬更厚。常用的最多為3225最小為0402。

在便攜產品中廣泛應用的片式多層陶瓷電容器（MLCC）材料根據溫度特性，主要可分為兩大類：BME化的C0G產品和LOW ESR選材的X7R（X5R）產品。

審核編輯：郭婷