D-TEM，既可以用來(lái)做抗擾度測(cè)試，也可以用來(lái)做EMI測(cè)試。ISO11452-3規(guī)定了采用具有橫向電磁模式（The transversal electromagnetic mode）的 D-TEM cell來(lái)進(jìn)行抗擾度測(cè)試的方法。

D-TEM 小室可以看成是同軸電纜的擴(kuò)展，電纜的芯線演變成平面隔板，電纜的屏蔽層演變成矩形殼體，整個(gè)小室的幾何尺寸使之阻抗依舊保持為50Ω。小室的中間是平面隔板，分成上下對(duì)稱的兩個(gè)相同體積的部分，如圖1所示。

圖1：上下對(duì)稱的D-TEM小室

D-TEM小室的工作頻率范圍由小室的隔板與地之間的高度決定的，超過(guò)截止頻率會(huì)有諧振現(xiàn)象；能夠產(chǎn)生的場(chǎng)強(qiáng)大小是由隔板與地之間的距離以及施加的電壓/功率決定的。

圖2所示這款D-TEM，符合ISO 11452-3和CISPR 25的要求，隔板的高度是300mm, 可根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行不同頻率范圍的測(cè)試。小室提供兩排接線端子，根據(jù)實(shí)際走線情況，外接同軸濾波器使用。

全套測(cè)試系統(tǒng)，除了D-TEM，還需要有射頻源，功率計(jì)，功放，場(chǎng)強(qiáng)探頭，軟件等構(gòu)成。盡管在ISO11452-3里只提到采用計(jì)算法的測(cè)試方法，實(shí)際上，跟ISO11452-5帶狀線法一樣，還可以利用場(chǎng)強(qiáng)探頭，采用替代法和實(shí)時(shí)反饋法進(jìn)行抗擾度測(cè)試，這3種方法我們的測(cè)試系統(tǒng)都支持。

審核編輯：劉清