ADI公司的i耦合器數(shù)字隔離器表現(xiàn)出出色的可靠性和質(zhì)量，在過去750年中，已向客戶交付了超過10.0億個通道。ADI公司通過嚴格的資格認證和表征流程確立的質(zhì)量承諾確保了質(zhì)量。然而，對于汽車行業(yè)的苛刻挑戰(zhàn)，需要更高的可靠性和質(zhì)量水平。如今，道路上的許多混合動力電動汽車都使用i耦合器數(shù)字隔離器來監(jiān)控電池電量并驅(qū)動高效的電動機。為了努力實現(xiàn)這些應用的<> ppm缺陷率，我們采取了額外的措施來限制生產(chǎn)中的缺陷。除了ADI公司的標準生產(chǎn)流程外，還包括采取以下步驟：

晶圓級探頭

零件平均測試

額外的生產(chǎn)測試通過

在多個溫度下進行生產(chǎn)測試

專用裝配生產(chǎn)流程

裝配時的完整性門

符合 AEC-Q100 標準的認證

除了這些額外的步驟外，所有用于生產(chǎn)i耦合器數(shù)字隔離器的ADI生產(chǎn)設施均已通過TS-16949認證。所有此類產(chǎn)品的基本部件號后都標有“W”（例如，ADuM1401WSRWZ是相當于ADuM1401ARWZ的汽車級產(chǎn)品）。

晶圓級探頭和零件平均測試

晶圓級探頭允許額外通過測試，以減少潛在的測試逃逸，并且還可以進行零件平均測試（PAT）。PAT 是為生產(chǎn)批次生成分配的方法。拒絕超出該樣本標準分布的單位，即使這些單位在總體限制范圍內(nèi)也是如此。這種方法將這些單位識別為足夠不同或“特立獨行”，因此可能會帶來質(zhì)量風險。PAT的廢品率很低，表明整體質(zhì)量水平高，對成本的影響最小。晶圓級探針還允許生成晶圓圖，可用于排除與剔除單元簇相鄰的合格單元，從而進一步消除可能構成風險的單元。

額外的生產(chǎn)測試通行證和多種溫度的生產(chǎn)測試

額外的測試通過進一步降低了在個位數(shù) ppm 級別可能發(fā)生的測試逃逸的可能性。在不同溫度下執(zhí)行的額外測試通過進一步提高了整體質(zhì)量。標準生產(chǎn)測試在室溫下進行，并具有足夠的限位保護帶，以確保在指定的溫度范圍內(nèi)運行;但是，為了達到 0 ppm，可以使用多個溫度來增加保險。

專用裝配生產(chǎn)流程和完整性門

為了提供最高水平的質(zhì)量，汽車級I耦合器產(chǎn)品在專用生產(chǎn)線上組裝，并具有額外的質(zhì)量控制。這些質(zhì)量控制的一個例子是用作批次驗收測試的完整性門。對組裝產(chǎn)品的樣品進行篩選，以尋找塑料模具化合物與硅芯片和金屬引線框架之間的空隙。然后對這些單元進行相當于三個焊料回流曲線的測試，然后重新檢查空隙。如果該樣本中的任何單元未通過最終檢查，則整個裝配批次將被隔離。

符合 AEC-Q100 的認證

AEC-Q100 是業(yè)界公認的汽車零部件標準。該標準要求進行符合ADI內(nèi)部認證標準的可靠性測試。可能會應用額外的壽命測試和/或不同的條件。所有汽車級耦合器數(shù)字隔離器均符合AEC-Q100標準。

所有ADI汽車級耦合器數(shù)字隔離器均采用與商用級數(shù)字隔離器相同的代工工藝、封裝和測試設備。在大多數(shù)情況下，硅芯片完全相同，并且這些商業(yè)級產(chǎn)品的質(zhì)量水平在超過10年的生產(chǎn)中已被證明是出色的。汽車級數(shù)字隔離器增加的步驟為世界各地車輛中使用的數(shù)百萬個i耦合器數(shù)字隔離器提供了額外的保險。

審核編輯：郭婷