Detectus HRE/SCN系列EMC掃描儀

Pendulum/Detectus系列 EMC 掃描儀是功能強(qiáng)大的用于測(cè)量和分析電磁干擾（EMI）的預(yù)兼容測(cè)試工具。這些掃描儀可以對(duì)電磁干擾信號(hào)進(jìn)行可重復(fù)的高分辨率掃描測(cè)試，也有抗擾度測(cè)試選件，掃描步進(jìn)低至25um，IC測(cè)試選件也可以對(duì) IC內(nèi)部的干擾信號(hào)進(jìn)行掃描。

EMC預(yù)兼容測(cè)試是電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中必須的測(cè)試環(huán)節(jié)，從IC到部件到整機(jī)，產(chǎn)品在定型前都需要在實(shí)驗(yàn)室完成EMC及EMI的摸底實(shí)驗(yàn)。

HRE/SCN系列EMC 掃描儀的優(yōu)點(diǎn)

Advantages

01

在產(chǎn)品定型前使? EMC-Scanner，您可以找到輻射信號(hào)的頻率幅度及發(fā)生點(diǎn)，可以大幅度節(jié)約您的開發(fā)成本縮短開發(fā)周期。

在產(chǎn)品開發(fā)過程中越早發(fā)現(xiàn)您產(chǎn)品的 EMC 熱點(diǎn)，整改補(bǔ)救的成本就會(huì)越低！

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

在EMC認(rèn)證測(cè)試之前檢測(cè) EMC的問題，避免再次檢測(cè)，節(jié)省時(shí)間和金錢。

通過重復(fù)和一致性的測(cè)量，非常容易比較不同的設(shè)計(jì)備選方案。

通過消除內(nèi)部EMI熱點(diǎn)，提高設(shè)計(jì)質(zhì)量。

功能強(qiáng)大且易于使用的軟件可以對(duì)任何頻率的電磁干擾信號(hào)發(fā)射或者抗擾度熱點(diǎn)進(jìn)行出色的可視化顯示。

多維 2D、3D 或 4D 掃描（3D 加近場(chǎng)探頭尖端旋轉(zhuǎn)），提供有關(guān) EMI 噪聲源的有價(jià)值信息。

以低至 25um 的步長進(jìn)行掃描，可以對(duì) IC 內(nèi)部噪聲進(jìn)行測(cè)量。

支持市場(chǎng)上100多種不同型號(hào)的頻譜分析儀，不斷為新型號(hào)頻譜分析儀創(chuàng)建新的驅(qū)動(dòng)程序。

4D 掃描 = 3D 移動(dòng) + 旋轉(zhuǎn)！

如果產(chǎn)品在EMC認(rèn)證測(cè)試中未通過，通常您只會(huì)知道哪個(gè)頻率沒有通過，而不會(huì)知道噪聲源的位置信息。EMC 掃描儀可以幫助您找到電磁輻射噪聲源的位置，在您重新設(shè)計(jì)產(chǎn)品時(shí)可以進(jìn)行多次重復(fù)測(cè)量，幫助您降低電磁輻射信號(hào)的強(qiáng)度以便順利通過認(rèn)證測(cè)試。

六種不同 IC 去耦電容器替代方案的 EMI 比較測(cè)量

世界一流的軟件，能夠看到電磁輻射信號(hào)的分布

易于使用且功能豐富的 DSS 軟件可讓您在元器件級(jí)別，甚至在芯片的內(nèi)部，測(cè)量和可視化顯示電磁輻射信號(hào)的強(qiáng)度和位置，測(cè)量結(jié)果可以二維或者三維彩色顯示，并可以輕松的重復(fù)測(cè)量，從而可以對(duì)多次的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行客觀比較。

由于掃描儀可以精確的重復(fù)掃描，測(cè)量結(jié)果可以保存，所以在產(chǎn)品的板級(jí)升級(jí)改進(jìn)過程中，可以對(duì)不同版本的電路板的電磁輻射測(cè)量結(jié)果進(jìn)行精確比較。掃描儀軟件甚至允許兩個(gè)掃描結(jié)果相減，以得到由于任何電路板布局或組件變化而引起的電磁輻射信號(hào)的真正差異。

產(chǎn)品介紹

Introductions

02

1

SCN 系列 EMC 掃描儀，

帶 2D/4D 掃描功能

SCN系列有三種不同的尺寸，以適應(yīng)大多數(shù)DUT的需要。將0.1 mm的高掃描分辨率與探頭旋轉(zhuǎn)相結(jié)合，以及一流的掃描軟件，SCN系列可以提供強(qiáng)大的可視化EMC預(yù)兼容掃描測(cè)試。對(duì)于元器件/模塊/組件高度起伏不同的電路板，可選的激光測(cè)距選件可以跟蹤 DUT 的表面進(jìn)行激光測(cè)距掃描，按照與 DUT 固定距離進(jìn)行測(cè)量的要求，自動(dòng)創(chuàng)建 DUT 的精確 3D 掃描路徑模型。

2

HRE 系列 EMC 高分辨率掃描儀，

帶 3D/4D 掃描功能

HRE系列有兩種不同的尺寸，以適應(yīng)大多數(shù)DUT的需要。25μm的超高掃描分辨率與探頭旋轉(zhuǎn)相結(jié)合，以及一流的掃描軟件，HRE系列可以提供功能強(qiáng)大的可視化EMC預(yù)兼容掃描測(cè)試。可選的 IC 掃描測(cè)試套件配有專用的檢測(cè)攝像頭和高分辨率近場(chǎng)探頭，讓您甚至可以掃描 IC芯片 內(nèi)部的電磁干擾信號(hào)發(fā)射和抗擾度熱點(diǎn)。

產(chǎn)品參數(shù)

Key Specifications

03

（點(diǎn)擊查看大圖）

Pendulum/Detectus

AboutPendulum/Detectus

04

時(shí)間及頻率的測(cè)量、分析、模擬

和校準(zhǔn)專家

自1990年代以來，瑞典公司 Detectus 就是世界領(lǐng)先的 EMC 掃描儀產(chǎn)品供應(yīng)商。自 2020 年 7 月起，Detectus 公司成為 Pendulum Instruments 不可分割的一部分。

Pendulum公司的歷史可以追溯到20世紀(jì)50年代，當(dāng)時(shí)Pendulum還是飛利浦測(cè)試和測(cè)量部門的瑞典分部，后于1998年從中分離出來的。目前，Pendulum儀器公司在波蘭、瑞典和美國設(shè)有辦事處，在各大洲約100個(gè)國家都設(shè)有銷售代表，并在多個(gè)國家設(shè)有服務(wù)中心。

Pendulum的產(chǎn)品多次被T&M World雜志授予測(cè)試儀器翹楚的榮譽(yù)獎(jiǎng)，Pendulum Instruments還被雜志《Elektronik i Norden》授予“年度電子公司”的稱號(hào)。

審核編輯 ：李倩