關(guān)于MOS管的米勒效應(yīng),已經(jīng)輸出了8篇,今天這一篇是MOS管章節(jié)的最后一篇,下一篇就開(kāi)始整理運(yùn)放相關(guān)的內(nèi)容。我個(gè)人認(rèn)為今天聊的這個(gè)話題至關(guān)重要:抑制米勒效應(yīng)和抑制EMI之間如何平衡。
一道問(wèn)題
在前面文章《MOS管的米勒效應(yīng)(3)--如何減小米勒平臺(tái)》中有提到:如何抑制米勒效應(yīng),三種優(yōu)化策略其中之一就是減小柵極串阻Rg。但是在文章中沒(méi)有提及減小到多少才算是合適。
照例,先拋出來(lái)一道連環(huán)問(wèn)題:想要抑制米勒效應(yīng),減小柵極串阻Rg,減小到什么程度才算合適?如何衡量?減小Rg會(huì)不會(huì)引入其他問(wèn)題,比如EMI問(wèn)題?
這道題,大概率不會(huì)在技術(shù)面試中出現(xiàn),太細(xì),也太考驗(yàn)基本功。但是,我覺(jué)得搞研發(fā)的硬件小伙伴想要設(shè)計(jì)出高質(zhì)量的電路,有必要花精力研究下。
仿真模型的升級(jí)
上圖,看過(guò)前面幾篇文章的同學(xué)應(yīng)該不陌生,我們就只用阻性負(fù)載,MOS管驅(qū)動(dòng)也很簡(jiǎn)單,就一個(gè)R1=100Ω。VG1設(shè)置成5V的階躍,上升變壓為1us。用示波器捕捉波形,如下圖所示,示波器的具體設(shè)置方法在第(3)篇文章中講過(guò),這里不做重復(fù)。
我們嘗試調(diào)整不同的R1(1Ω/10Ω/50Ω/100Ω),則對(duì)應(yīng)有不同的米勒平臺(tái),如下圖所示,R1=1Ω時(shí)米勒平臺(tái)時(shí)間最短。
我們把上面的阻性負(fù)載換成感性負(fù)載,則有如下模型:
仿真出來(lái)是這樣,前面文章詳細(xì)分解過(guò),這里不展開(kāi)。
這里需要考慮,在咱們的實(shí)際電路中,元器件引腳會(huì)有寄生電感和寄生電容,PCB走線會(huì)有分布電感和分布電容,而MOS管引腳之間還有結(jié)電容Cgs、Cgd、Cds等,這些都會(huì)對(duì)電路的實(shí)際性能產(chǎn)生影響。
考慮到寄生/分布電容、寄生/分布電感,還有結(jié)電容,那上面感性負(fù)載的模型可能就要適當(dāng)發(fā)生變化。我們對(duì)仿真模型稍作調(diào)整,如下圖所示:
L3是柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)上寄生電感和分布電感的總和,約為1uH。C1為柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)上PCB走線的分布電感。這里Cgs、Cgd、Cds都沒(méi)有畫(huà)出來(lái)。
L1為MOS寄生電感和PCB分布電感的總和。
注意:這里的模型調(diào)整可能未必合適,僅供理論分析參考和趨勢(shì)判斷。
仿真驗(yàn)證
基于上述模型的調(diào)整,如果給VG1一個(gè)擺幅為0~5V,頻率10kHz的方波信號(hào),此時(shí)我們把R1(Rg)設(shè)置為變量,分別去1~1kΩ中不同的值,我們看下仿真結(jié)果會(huì)是怎樣的。
上圖給出的是VF1(即Vgs)的波形,能總結(jié)出什么結(jié)論么?
①當(dāng)R1=1Ω,Vgs上發(fā)生了劇烈的振蕩,而且振蕩幅值(能量)很高;
②隨著R1的增大,振蕩幅值逐漸減小;
③隨著R1的增大,米勒平臺(tái)時(shí)間卻在增大;
④當(dāng)R1=1kΩ時(shí),振蕩幅值最小,但米勒平臺(tái)時(shí)間最大。
我們?cè)倏聪耉F2(即Vds)的波形,如下圖所示:
從VF2(Vds)的變化趨勢(shì),能總結(jié)出什么結(jié)論呢?
①當(dāng)R1=1Ω,Vds上發(fā)生了劇烈的振蕩,而且振蕩幅值(能量)很高;
②隨著R1的增大,振蕩幅值逐漸減小;
③當(dāng)R1=1kΩ時(shí),振蕩幅值最小。
我們?cè)贀Q一個(gè)角度,只看R1=1Ω的情況下,如下圖所示:
VF1(Vgs)和VF2(Vds)都發(fā)生了強(qiáng)烈振蕩,說(shuō)明在此過(guò)程中有LC諧振發(fā)生,這期間高次諧波能量必然被放大,必然會(huì)增加EMI問(wèn)題的風(fēng)險(xiǎn)。但是我們也注意到此時(shí)米勒平臺(tái)持續(xù)時(shí)間卻是最短的,這樣MOS管的開(kāi)關(guān)損耗則可以降低。
我們?cè)倏聪翿1=1kΩ的情況下,如下圖所示:
VF1(Vgs)和VF2(Vds)振蕩不明顯,但此時(shí)米勒平臺(tái)的時(shí)間則大大延長(zhǎng),這樣MOS管的開(kāi)關(guān)損耗會(huì)增大。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:MOS管的米勒效應(yīng)(9)--如何平衡抑制米勒效應(yīng)和抑制EMI風(fēng)險(xiǎn)的關(guān)系
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