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BUCK開關(guān)振鈴的原因與優(yōu)化方法

CHANBAEK ? 來源:模擬應(yīng)用工程師 ? 作者:模擬應(yīng)用工程師 ? 2023-04-19 11:01 ? 次閱讀
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LMR14020是一款40V/2A在工業(yè)領(lǐng)域非常popular的buck芯片,下面是他的推薦電路。

pYYBAGQ_V16AY6a4AACBlqqEpXE695.png

你有看過BUCK關(guān)鍵引腳的波形么? CCM下正常的SW波形如下圖方波。

pYYBAGQ_V3CAeSitAAYpevzTIaU450.png

DCM模式下的SW波形在斷續(xù)模式下,上管下管都不導(dǎo)通,輸出LC能量諧振,這個(gè)時(shí)候的震蕩是正常的。

pYYBAGQ_V4CAOPrJAAcQDtF_JLQ551.png

一、什么是開關(guān)振鈴?

由于寄生參數(shù)的存在,開關(guān)電源電路在開關(guān)動(dòng)作瞬間會(huì)產(chǎn)生開關(guān)振鈴。SW波形在上管導(dǎo)通瞬間,SW電壓過沖超過VIN 10V。

pYYBAGQ_V42AMZnpAASFNJHjYrw427.png

振鈴的存在,可 能使得開關(guān)管承受的電壓超過其耐壓值而發(fā)生擊穿;另一方面,開關(guān)振鈴為遠(yuǎn)超開關(guān)頻率的高頻振鈴, 并伴隨很高的 dV/dt,會(huì)帶來傳導(dǎo)和輻射的 EMI 問題,可能會(huì)使得終端產(chǎn)品不能通過 EMI 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試, 更嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)蓴_開關(guān)電源自身的信號(hào)電路或臨近的其他功能電路的正常工作。所以盡可能地抑制 開關(guān)振鈴是開關(guān)電源設(shè)計(jì)中一個(gè)很重要的環(huán)節(jié)。

二、振鈴的原因?

pYYBAGQ_V5eAEgwqAAJtuYRiBhU720.png

雖然MOS管模型通常都有Lg,Ld,Ls,即管子三個(gè)引腳的寄生電感,但通常MOS集成在芯片內(nèi)部,因此振鈴的主要原因都來自layout走線過長導(dǎo)致的寄生電感與下管結(jié)電容諧振導(dǎo)致SW點(diǎn)電壓的震蕩。

看上圖,其中,L1、L2為走線與MOS管寄生電感之和。在上管導(dǎo)通瞬間,正在導(dǎo)通的下管突然被加上反向電壓,在瞬間會(huì)產(chǎn)生非常大的反向恢復(fù)電流,即從SW到GND會(huì)產(chǎn)生很大的di/dt,通過寄生電感L2在SW節(jié)點(diǎn)會(huì)產(chǎn)生很高的電壓幅值。之后L1、L2與下管結(jié)電容C產(chǎn)生諧振,進(jìn)而引發(fā)振鈴現(xiàn)象,其本質(zhì)是LCR阻尼振蕩。

從以上分析可推斷出,寄生電感L1比較大,那么產(chǎn)生的尖峰電壓肯定是越大的;負(fù)載電流越大,那么意味著功率電感電流越大,在SW從0上升到Vin電壓時(shí),寄生電感L1得到的電流也越大,L1獲得的用于振蕩的能量也是越大的,振蕩尖峰越高;開關(guān)速度越快,寄生電感電流上升的速度也越快,在SW從0上升到Vin電壓時(shí),寄生電感L1得到的電流也越大,參與振蕩的能量也越多,所以尖峰也越高。

三、 如何優(yōu)化振鈴現(xiàn)象

pYYBAGQ_V5-AU-TbAAI-vURWXys484.png

1. 輸入濾波電容的位置盡可能的靠近芯片供電引腳,以減小輸入回路面積。

2. 優(yōu)化PCB Layout降低走線電感量。

1盎司銅厚,線寬50mil,走線長度10mm的電感量是6.52nH,而通過仿真測(cè)試看到,在VIN=12V,VOUT=3.3V,IOUT=6.6A 時(shí),設(shè)置上管走線電感0.5nH,可引起SW 超過VIN 4V 的電壓尖峰!基本優(yōu)秀的Layout 會(huì)極大減小SW的過沖電壓。

3. 可以通過從SW連接到BOOT引腳的外置RC控制開關(guān)速度,減小di/dt從而減小諧振峰值電壓

4. SW對(duì)地添加snubber電路吸收:R Csnub放置在SW節(jié)點(diǎn)與GND之間。

電容越大,抑制振鈴振幅效果越好。而且當(dāng)電容達(dá)到一定程度大小以后,電容的增加給振鈴抑制的效果并不顯著,并且Csnub越大也會(huì)帶來損耗的問題,效率會(huì)變差。一般工程經(jīng)驗(yàn)取值范圍:(R:5~10ohm,C:1nF~10nF) 。

四、Snubber快捷設(shè)計(jì)方法分享

poYBAGQ_V6qAWUjHAAC2CNXLqhA901.png

(上圖Csnub阻抗小,被進(jìn)一步簡(jiǎn)化)

第一步,需要確定圖上圖中的 LR和 CR。首先測(cè)量初始振鈴頻率。

pYYBAGQ_V7OAdJRQAAApJTYNk4w878.png

pYYBAGQ_V7yAHM0YAABMAbbeveU435.png

然后在 snubber 將要放置的位置上,放置一個(gè) Cadd,因此新的可測(cè)得的振鈴頻率表達(dá)式 為

poYBAGQ_V8SAXHY8AAA7dXtn2jI786.png

以上兩式中,僅 LR和 CR為未知量,故可通過兩式聯(lián)立,解得 LR和 CR.

poYBAGQ_V8yAVVLOAABOH6H1Rrw784.png

poYBAGQ_V9SAZhiZAAA6l5C9lEA225.png

第二步,選取合適的 R 值,使得 R 值近似于

pYYBAGQ_V9yAGjdsAAAzyYo_Ajs968.png

注意,電阻的封裝應(yīng)考慮散熱。使得電阻功率等級(jí)大于電阻上損耗。電阻損耗表達(dá)式為

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第三步,選擇合適的電容值 Csnub。如前文所說,電容值的選擇是振幅抑制和控制損耗的折中。可選擇以下式作為起點(diǎn),根據(jù)損耗情況和振幅抑制效果,進(jìn)行進(jìn)一步的調(diào)整:增大電容抑制振幅,減小電容提高效率。

poYBAGQ_V_6AKgs-AAA3K7Xb81M654.png

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