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Type-C新技術與接口芯片

是德科技KEYSIGHT ? 來源:是德科技KEYSIGHT ? 2023-04-28 12:30 ? 次閱讀

芯片測試大講堂系列又和大家見面了。

本期,我們來聊聊基于消費類接口芯片Type-C,以及支持Type-C的技術規范USB和DisplayPort技術,內容涉及市場趨勢,標準演進,設計與測試面臨的挑戰以及是德科技的解決方案等。

前言

Type-C接口尺寸小、支持正反插和多用途使其在消費類電子行業被廣泛使用,圍繞Type-C接口的生態蓬勃發展。僅Type-C接口上可支持USB4。USB4 V2規范將數據速率提升至80Gbps使得消費電子產品接口性能有極大提升,以高端筆記本為例,可通過USB4擴展塢連接高端顯示器、移動硬盤盒及U盤等外設,滿足8K甚至更高y分辨率視頻、數據文件同時高速傳輸要求。高端游戲顯卡通常是雙HDMI2.1和雙DP1.4a配置,連接不同標準的顯示器,滿足流暢、清晰游戲體驗。

隨著DP V2.1規范發布,顯卡、臺式機、筆記本、擴展塢和電纜等支持UHBR速率產品開始增多。UHBR信號4路同時傳輸,通過認證的DP40、DP80線纜連接高端顯示器,滿足8K@60Hz、16K@60Hz等顯示要求。目前支持USB4 V2.0及DP V2.1接口的芯片與產品較少,仍處在研發階段,需要IP核、芯片、產品生態鏈企業共同推動發展及落地。

USB與DisplayPort的標準演進

USB-IF于2022年10月18日發布USB4 Version 2.0規范,替代USB4 Version 1.0規范,主要變化包括:

?是數據速率翻倍到80Gbps;

?支持非對稱鏈路;

?借助Tunneling技術承載PCIe4.0、DP V2.1數據包;

?在低功耗狀態仍舊不損失時間同步精度;

?支持交替模式。

隨著新規范的發布,USB接口將統一以傳輸帶寬命名,USB4 V2.0對應USB 80Gbps,USB4對應USB 40Gbps,USB 3.2 Gen2x2對應20Gbps,USB 3.2 Gen2對應USB 10Gbps,USB 3.2 Gen1對應USB 5Gbps。

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來源:USB-IF與USB Implementers Forum

VESA在同月發布DP V2.1規范,替代V2.0,性能、互連與USB4 V2.0對齊。DP V2.0規范支持128b/132b編碼、UHBR10、UHBR13.5、UHBR20速率,可選支持Pannel Replay功能(滿足系統降功耗和未來自適應同步功能),必須支持DSC能力。DP V2.1規范不僅支持DP線纜、USB-C to DP適配器,而且支持USB-C線纜,增加了ALPM電源管理功能,可在Pannel Relay及Adaptive-Sync操作時使能,考慮兼容HDMI,也提出協議轉換器DP到HDMI的要求。

USB與DisplayPort設計和測試面臨的挑戰

USB與DP標準的速率變化:

USB-IF在USB4 V2規范中增加Gen 4模式,將單路速率提升至25.6GBd。通過建立11-bits到7-trits映射(每個trit有0/1/2狀態),實現1個符號承載1.57 bits,相比理論極限1.58bits,效率超過99%。信令格式變化,USB-IF在USB4 V2中首次采用PAM3調制格式,相比同幅度NRZ,其信噪比下降6dB,與PAM4比較,其電平判決閾值與遲滯放寬,噪聲容忍度增強,是綜合考慮性能、Type-C信道、時延和信噪比因素滿足原始Trit Error Ratio/1E-8唯一的調制格式。DP V2.1相比DP V2.0,速率沒變化,功能及線纜兼容等方面有變化。USB4 V2和DP V2.1用于Router/Host/Device/Captive Device和Source/Sink/DP Cable開發的標準已發布,但物理層一致性測試標準還在草稿階段。

下面結合仿真和測試,從發送、互連和接收三個方面展開介紹。

01發送端:

從仿真的角度:需構建IBIS-AMI模型且可修改其參數,支持NRZ、PAM3調制格式。USB4 V2相比V1,增加Gen 4及非對稱工作模式。Gen 4模式單路速率25.6GBd/40Gbps,在非對稱情況下,3路同時發送,總速率達120Gbps,1路接收,速率是40Gbps。DP V2.1 UHBR最高速率達20Gbps,4路同時傳輸,信號質量、串擾影響、過孔、過孔陣列、走線、特性阻抗等設計約束均需嚴格考慮。

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圖:過孔陣列設計優化及插損對比[1]

從一致性測試的角度:USB4 V2與V1都需使用協會發布的控制軟件。該軟件通過sideband信號寫配置空間寄存器8/9/18,實現port operation,產生測試信號。USB4 V2使用PRTS7測試碼型,該碼型實現多電平序列。為克服PAM3多電平信號高頻損耗,USB4 V2 Gen 4 Tx FFE 比Gen 3多一個precusor-c[-2],Preset數量達42個,明確了歸一化的每個抽頭系數波動范圍。新增TP2多項時域測試參數,比如Level Mismatch、Steady State Voltage、Linear Fit Pulse、SNDR、ISI Margin等,不在使用眼圖模板進行約束,增加頻域積分回波損耗參數,頻率覆蓋到20GHz,差分回波損耗模板測試降為Informative項,其頻率覆蓋到14GHz。DP V2.1相比DP V2.0速率不變,都需使用協會認證的aux channel controller實現 TP2及TP3_EQ自動化測試。DP V2.1 Tx FFE Preset達16種,TP2測試需使用DDJ最小的Preset,Reference CTLE達10種,TP3_EQ眼圖與抖動測試需使用160種組合中Eye Area最大的一個組合,測試花費大量時間,VESA協會也在優化測試方法。

從互連的角度:USB4 Gen 4僅支持Type-C互連,相比Gen3奈奎斯特頻點增加2.8GHz,系統損耗預算相比Gen 3放寬6dB,6dB三等分分配到Host、Cable及Device。Host/Device的損耗預算包含封裝、pcb線、共模電感、防護器件、耦合電容連接器。Gen 4可使用0.8米Gen 3線纜,若傳輸更遠距離,需使用LRD線纜。USB 4 Gen 3/Gen 4 Type-C線纜相比USB 3.2 Type-C線纜增加了更嚴格的覆蓋頻率范圍的積分參數,比如積分多次反射、積分回波損耗、積分串擾等。另外還引入COM方法進行電纜質量評估。Gen 3使用COM,Gen 4使用eCOM。相比COM,eCOM門限大于等于0 dB,信道僅支持S參數導入,不支持信道特性阻抗、衰減、長度參數,增加了接收端抖動和噪聲參數。DP V2.1 UHBR信號可在增強型DP/mDP及Type-C接口上通過DP40/DP80電纜進行互連,其中UHBR20信號包含Source/Sink/DP80端到端損耗預算約22.5dB。DP40電纜可支持到UHBR10,長度約1m/1.5m/2m,DP80電纜可支持到UHBR20,兩者已有商用認證產品。DP40/80電纜都包含Cable ID,相比DP8K電纜,增加了對間時延參數。

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圖:USB Gen3/20Gbps近端串擾影響[2]

02接收端:

從仿真的角度,需支持PAM3接收機內部模塊參數調整,比如CTLE、AGC、Compression、DFE和CDR。

從接收一致性的角度:校準環境下Gen 4相比Gen 3,壓力參數ACCM noise大小不變,RJ/PJ大小降至約一半,不在使用眼圖約束,而是通過SNDR/RLM/Jitter約束。測試場景包括case 1和case 2。Case 1是直連。case 2包括額外電纜,有USB4 Gen 3 passive cable互連和USB Type-C LRD Cable互連兩種場景。測試情況下,需支持多種碼型及切換,初始PRBS11不帶SSC用于接收機訓練,切至PRTS7,帶校準的壓力參數和優化的Preset用于第2次訓練,切至PRTS19,帶pre-coding和3400ppm下展頻的SSC用于Case 1測試,帶pre-coding和3000ppm的下展頻用于case 2測試。DP V2.1與DP 1.4a使用相同DPCD寄存器,控制物理層測試模式,寄存器在不同編碼時(8b/10b和128b/130b),功能不同。UHBR20 Sink校準參數類型與USB4 Gen 3一樣,但TP1和TP3_EQ眼圖幅度和眼寬略有壓縮,鏈路訓練方法有更新,規范要求被測件物理邏輯子層必須支持128b/132b LANEx_CHANNEL_EQ_DONE和LANEx_CDS_DONE/LANEx_SYMBOL_LOCKED/INTERLANE_ALIGN_DONE兩個任務,接收原始誤碼率小于等于1E-9,置信度大于99.9%。

是德科技測試方案

是德科技提供仿真、物理層發送一致性測試、接收一致性測試和互連一致性測試整體方案。

仿真平臺PathWave可提供W3801E軟件,幫助用戶建立并修改USB AMI模型。該軟件可支持NRZ、PAM3信號格式,提供收發及參考信道模型。以Rx為例,提供CTLE功能支持Pole-zero、Impulse response和Step response方法、AGC功能支持Output Swing和Alpha參數調整、增益壓縮選項支持電路非線性影響修正、DFE功能支持多抽頭系數調整、提供CDR支持自動和手動調整環路濾波器/VCO靈敏度、提供Rx_DCD/Rx_Dj/Rx_Rj/Rx_Noise/Rx_Receiver_Sensitivity保留參數。DP V2.1技術可借助該選件完成相應參數調整。

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圖:USB4 V2 AMI Modeler-W3801E

基于UXR高性能實時示波器平臺推出D9050USBC物理層一致性測試軟件,覆蓋USB4 V2.0標準,支持25.6GBd PAM3信號自動化測試。也推出了D9042DPPC軟件,覆蓋DP V2.1標準Source測試。UXR實時示波器模擬帶寬覆蓋5GHz~110GHz,集成10 bit高速ADC,固有抖動小,本底噪聲低,支持規范提及的噪聲移除功能,可滿足未來多年高速信號精確測試。

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圖:USB4 V2 Tx&DP V2.1 Source測試方案

基于M8040A高性能誤碼儀平臺推出了N5991U42A物理層接收一致性測試軟件,可產生USB4 V2.0要求的PAM3格式信號和PRBS/PRTS碼型,并支持注入PJ、RJ及SSC壓力,實現接收抖動容限自動測試。也推出了N5991DP2A軟件,覆蓋DP V2.1標準,支持DP V2.1 Sink接收抖動容限測試。

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圖:USB4 V2 Rx&DP V2.1 Sink測試方案

基于ENA/Streamline USB/PXI矢量網絡分析儀和開關矩陣推出S94USBCB USB Type-C互連一致性測試軟件,提供向導方便完成參數配置、校準及測試,支持去嵌入和AFR功能可實現精確測量,覆蓋USB2/3/4標準,支持 Type-C電纜、連接器和裸線測試。

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圖:USB等高速互連測試方案

綜上所述,目前支持USB4 V2.0及DP V2.1接口的芯片與產品較少,仍處在研發階段,需要IP核、芯片、產品生態鏈企業共同推動發展及落地;是德科技作為USB-IF與VESA的協會成員,一直致力與業界各企業協作,共同推動規范的完善與測試方案的開發,更多的有關于Type-C的內容,請參考下載資料。

同時也感謝大家一直以來對是德科技的支持,我們準備了精美的抽獎,大家如果有更多的需求,也可以留言給我們。

審核編輯:湯梓紅

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原文標題:芯片測試大講堂——Type-C新技術與接口芯片

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