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進口芯片失效怎么辦?做個失效分析查找源頭

jf_84560273 ? 來源:jf_84560273 ? 作者:jf_84560273 ? 2023-05-10 17:46 ? 次閱讀

芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要,進口芯片在設(shè)計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當下,生產(chǎn)對進口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。

芯片失效是指芯片因為某種原因?qū)е缕涑叽纭⑿螤罨蛘呤遣牧系慕M織與性能發(fā)生變化,從而不能完美地完成指定的功能。進口芯片失效分析可以判斷進口芯片失效的性質(zhì)以及分析出進口芯片失效的原因,是研究進口芯片失效的預防措施的技術(shù)工作。研究進口芯片失效能夠起到非常大的作用,比如能夠提高進口芯片的品質(zhì)以及改善生產(chǎn)方案。通過進口芯片失效分析,可以非常及時地找出器件的缺陷或者是參數(shù)的異常,能夠追本溯源發(fā)現(xiàn)問題所在,而且還能夠從根本上預防進口芯片產(chǎn)業(yè)所出現(xiàn)的質(zhì)量危機。

檢測進口芯片失效的方法有很多,比如外部目檢、x-ray檢測、聲學掃描以及開封后sem檢測。外部目檢方法則是對進口芯片進行外部觀測,判斷進口芯片外觀是否存在裂紋、破損等異常的現(xiàn)象,對進口芯片進行x-ray檢測,能夠通過無損害的手段利用X射線透視進口芯片內(nèi)部,從而檢測其進口芯片封裝情況,可以判斷進口芯片封裝內(nèi)部是否出現(xiàn)各種缺陷問題,比如分層剝離、鍵合線錯位斷裂以及爆裂等。

進口芯片聲學掃描方法是利用超聲波反射與傳輸?shù)奶匦耘袛喑銎骷?nèi)部材料的晶格結(jié)構(gòu)是否存在雜質(zhì)顆粒,并且能夠有效發(fā)現(xiàn)器件中是否存在裂紋,以及進口芯片封裝材料內(nèi)部的氣孔和分層剝離等異常情況。進口芯片開封其實是一種有損的檢測方法,不過優(yōu)勢在于能夠剝除外部進口芯片,在封膠之后觀察進口芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

以上就是安瑪科技小編為大家分享的關(guān)于進口芯片失效分析的全部內(nèi)容了,希望可以幫助到大家。

審核編輯:湯梓紅

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