作為知名的可靠性檢測(cè)設(shè)備制造商,我們有許多來(lái)自電子元件器行業(yè)的客戶。我們有非常完美的生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)。今天,關(guān)注我們,了解電子元器件行業(yè)高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性檢測(cè)。
零件是整機(jī)的基礎(chǔ)。在制造過(guò)程中,由于固有缺陷或制造過(guò)程控制不當(dāng),可能會(huì)導(dǎo)致與時(shí)間或應(yīng)力相關(guān)的故障。
為了保證整批電子元器件的可靠性,滿足整機(jī)的要求,在使用環(huán)境中可能出現(xiàn)初始故障的電子元器件必須被淘汰。電子元器件故障率隨時(shí)間變化的過(guò)程可以用“浴缸曲線”描述故障率曲線。初始故障率隨著時(shí)間的增加而迅速下降。故障率在使用壽命(或意外故障期)基本不變。
1、高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備用于高溫儲(chǔ)存
電子元器件的故障主要是由機(jī)體和表面的各種物理化學(xué)變化引起的,與溫度密切相關(guān)。溫度升高后,化學(xué)反應(yīng)速度大大加快,故障過(guò)程也加快。有缺陷的部件可以及時(shí)暴露和清除。
半導(dǎo)體器件廣泛采用高溫篩選,能有效去除表面污染.鍵合不良.氧化層缺陷等是失效機(jī)制的器件。通常在最高結(jié)溫下儲(chǔ)存24至168小時(shí)。
高溫篩選簡(jiǎn)單.便宜,可以在許多部件中實(shí)現(xiàn)。高溫儲(chǔ)存后,可以穩(wěn)定電子元器件的參數(shù)性能,減少使用時(shí)的參數(shù)漂移。合理選擇各部件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)間,防止新的故障機(jī)制。
![pYYBAGLXZoGAB1NuAAMBmYu0g5o280.png](https://file.elecfans.com/web2/M00/54/EE/pYYBAGLXZoGAB1NuAAMBmYu0g5o280.png)
2、高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備用于篩選功率和電老化
在篩選過(guò)程中,在熱電應(yīng)力的綜合影響下,能夠有效的暴露出電子元器件本體和表面的多種潛在缺陷,是可靠性篩選的重要本身。
各種電子元器件通常在額定功率環(huán)境中老化數(shù)小時(shí)至168小時(shí)。有些產(chǎn)品,如集成電路,不能隨意改變條件,但可以選擇高溫工作方法,提高工作溫度,達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)。應(yīng)適當(dāng)選擇電子元器件的電應(yīng)力,可等于或略高于額定條件,但不能引入新的失效機(jī)制。
電源老化需要特殊的檢測(cè)設(shè)備,成本高,篩選時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)。民用產(chǎn)品一般需要幾個(gè)小時(shí),軍用高可靠性商品可以選擇100、168小時(shí),航空級(jí)部件可選擇240小時(shí)甚至更長(zhǎng)的周期。
3、高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的溫度循環(huán)
電子設(shè)備在使用過(guò)程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應(yīng)力影響下,熱匹配性能差的電子元器件容易出現(xiàn)故障。溫度循環(huán)篩選利用極高溫和極低溫之間的熱升冷縮應(yīng)力,可以有效去除熱性能缺陷的商品。電子元器件常用的篩選條件為-55℃~125℃,循環(huán)5~10次。
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試驗(yàn)設(shè)備
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