自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備
應(yīng)用
由計(jì)算機(jī)控制的測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)提高效率和質(zhì)量來(lái)幫助提高制造生產(chǎn)力。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)起著至關(guān)重要的作用,因?yàn)樗軌蛞愿斓乃俣群透煽氐姆绞竭M(jìn)行更有力的測(cè)試。ATE可以實(shí)現(xiàn)以非常高的速率連續(xù)進(jìn)行的單個(gè)測(cè)量,也可以實(shí)現(xiàn)由許多不同的儀器進(jìn)行的多次測(cè)量。在被測(cè)設(shè)備(DUT)或被測(cè)單元(UUT)上進(jìn)行的測(cè)量通常由某種形式的計(jì)算機(jī)以自動(dòng)方式計(jì)算,存儲(chǔ)和分析。該過(guò)程有助于消除人為錯(cuò)誤,并允許以可重復(fù)的方式執(zhí)行故障診斷,即使涉及復(fù)雜的測(cè)量。
虹科
方案
虹科Spectrum提供極其廣泛的數(shù)字化儀和任意波形發(fā)生器,適用于需要捕獲,生成和分析電子信號(hào)的ATE應(yīng)用。這些產(chǎn)品適用于各種流行的標(biāo)準(zhǔn),包括PCI、PCIe、PXI、LXI和cPCI。數(shù)字化儀提供 50 kHz 至 1.5 GHz 的帶寬、100 KS/s 至 5 GS/s 的采樣率以及 8 位至 16 位的分辨率。由于能夠捕獲和分析從DC到1.5 GHz的信號(hào),數(shù)字化儀可用于測(cè)試各種DUT和UUT。例如,當(dāng)需要大動(dòng)態(tài)范圍和最大靈敏度時(shí),高分辨率14位和16位數(shù)字化儀可用于捕獲和分析頻率高達(dá)250 MHz的信號(hào)。這些高分辨率產(chǎn)品具有出色的信噪比(高達(dá)72 dB)和無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍(高達(dá)90 dB),因此可以檢測(cè)和分析微小的信號(hào)變化。它們是測(cè)試精密組件、傳感器和系統(tǒng)的完美工具,這些組件、傳感器和系統(tǒng)產(chǎn)生的信號(hào)需要嚴(yán)格控制。對(duì)于更高頻率的測(cè)量,例如PCB板和半導(dǎo)體器件上的測(cè)量,虹科Spectrum的具有5 GS/s的板卡可以表征低至納秒和亞納秒范圍的信號(hào)和脈沖。
為了便于集成到ATE系統(tǒng)中,虹科Spectrum提供了與32位和64位版本的Windows和Linux配合使用的軟件和儀器驅(qū)動(dòng)程序。這些板卡的編程可以使用各種語(yǔ)言進(jìn)行,如 LabVIEW、 LabWindows/CVI、 C++、 MatLab、 Borland Delphi、 Visual Basic、 VB.NET、 C#、 J# 和 IVI。
每個(gè)數(shù)字化儀卡可以有一到十六個(gè)通道,多個(gè)卡可以與虹科Spectrum的StarHub系統(tǒng)連接在一起,以創(chuàng)建具有多達(dá)數(shù)百個(gè)完全同步通道的儀器。這使得它們非常適合需要監(jiān)控多個(gè)信號(hào)或測(cè)試點(diǎn)的應(yīng)用。一些卡還提供額外的模擬和數(shù)字I /O功能以及高級(jí)觸發(fā)和時(shí)鐘選項(xiàng),以便它們可以與許多不同的測(cè)試儀器一起工作。
虹科推薦
板卡系列
59XX系列
65XX系列
75XX系列
虹科
產(chǎn)品特點(diǎn)
l PCIe、PXIe 和 LXI 外形規(guī)格
l分辨率從 8 位到 16 位
l 具有模擬和數(shù)字通道采集和生成的混合模式系統(tǒng)
l 采樣率從 100 kS/s 到 10 GS/s
l 用于具有完全同步功能的高通道數(shù)系統(tǒng)的 Star-Hub功能
l LabVIEW、 LabWindows、 MATLAB、 C++、 Delphi、 Visual Basic、 VB.NET、 c#、 J#、 Python 和 IVI 驅(qū)動(dòng)程序
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自動(dòng)化
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