以白光干涉為原理的光纖微裂紋檢測儀，最初受限于延時纖的測量長度，只能測試6cm,使得測試場景非常局限，為解決測量長度問題，昊衡科技歷時3年，推出測量長度1m的國產光纖微裂紋檢測儀。

光纖微裂紋檢測儀測量長度升級到1m,是希望能更大程度滿足客戶測試所需，解決客戶不斷匹配跳線，測試繁瑣問題，1m的測試長度能更大限度包容待測樣品，為測試器件留有更大空間，更便捷客戶使用。

設備測試性能和穩定性也有了質的飛躍，在升級長度過程中，不斷迭代已有的光路和模塊，長時間的實驗驗證，以最優化的結構，提升設備測試效果。

以下是光纖微裂紋檢測儀測量保偏光鏈路，該器件長0.955m,末端是保偏光纖，OLI能測試出由保偏光纖雙折射引起的2個不同時延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測。

圖1.保偏光鏈路測試圖

昊衡推出的光纖微裂紋檢測儀叫做低成本光學鏈路診斷系統（OLI），該系統通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內的回波損耗， 進而判斷此測量范圍內鏈路的性能，其事件點定位精度高達幾十微米，最低可探測到-80dB光學弱信號，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產品批量出貨合格判定。

圖2.低成本光學鏈路診斷儀

OLI 低成本光學鏈路診斷儀產品應用

光纖微裂紋檢測

硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測

FA光纖陣列鏈路性能檢測

光器件、光模塊內部耦合點、連接點性能檢測