近日，根據HuaweiCentral網站的報道，華為自研麒麟A2即將量產，作為麒麟A1的迭代產品，其尺寸為4.3mm×4.4mm，集成了藍牙處理單元、音頻處理單元、低功耗的應用處理器和獨立的電源管理單元。適用于無線耳機、頭戴式耳機、頸戴式耳機、智能音箱、智能眼鏡和智能手表等設備。

按照華為的規劃，麒麟A1首發于華為真無線藍牙耳機FreeBuds 3。它已經廣泛用于華為真無線耳塞、無線頭戴、頸掛式無線耳機、智能眼鏡、智能手表等產品。華為的耳機、手表，大概率都有這款芯片的功勞。所以，不出意外，麒麟A2會在麒麟A1的基礎上繼續調優、精進，依然會用于耳機、手表等可穿戴設備。

此類小尺寸芯片的電磁兼容性測試主要涉及到以下兩個方面：

1） 電磁發射：主要研究 IC 芯片產生的騷擾信號以傳導/輻射方式對其它器件的影響。 IC 發射是由于內部快速的電壓/電流變化產生的， 這些變化在 IC 芯片內/外部激勵出射頻電流， 并以傳導方式通過芯片管腳在 PCB 上形成傳導回路，這些回路可看成發射環天線， 并輻射電場與磁場。

2） 電磁抗擾度：主要研究環境電磁騷擾信號以傳導或輻射方式對 IC 芯片的影響。 在外界干擾存在的條件下， 研究 IC 芯片的抗擾能力， 提高其對電磁騷擾的承受能力， 可有效保證集成電路工作的可靠性。

同理， 小尺寸IC芯片的測量標準也分為電磁發射與抗擾度兩個方面。

目前出版的 IEC61697 系列標準與 IEC62132 系列標準分別涉及到 IC 芯片的電磁發射與抗擾度測量。

深圳市華瑞高電子技術有限公司推出的高頻TEM小室HTM-8G，完美的解決了此類小尺寸芯片的電磁兼容性測試。集成電路安裝在一個用螺栓固定的測試夾具上，安裝完成后，可在9K-8GHZ的范圍內進行符合IEC 61967-2/-8、SAE 1752-3和IEC 62132-8的測試。

我們推出的高頻TEM小室同時也可用于抗擾度測試，只需要輸入0.1毫瓦的功率就可以實現每米14伏的電場，使得我們的芯片類EMC高頻測試不再受到限值。

深圳市華瑞高電子技術有限公司作為一家專業的電磁兼容測試設備廠家，我們有著相關豐富的電磁兼容測試的經驗，歡迎致力于電磁兼容測試的朋友多多溝通交流！