在本期中，我計劃深入討論單個事件翻轉（SEU）。但是，我想花更多的時間來研究 SET。在我們繼續(xù)討論SEU之前，我想就這個話題再談幾點。

我們將再次以AD9246S為例，繼續(xù)討論SETs。此處再次提供用于測量該ADC的SET性能的測試設置，供您參考?；叵胍幌?，該測試是在環(huán)境溫度下進行的，這與在 125 下進行的 SEL 測試不同oC 表示該部分。

AD9246S 單事件效應（SEE）測試設置

上個月，我們討論了瞬變如何在ADC的輸出代碼中表現出來，圖AD9246S SET誤差閾值模板對此進行了說明，我在此再次將其包括在內。正如我所指出的，了解瞬態(tài)的大小和長度很重要。在本例中，顯示瞬態(tài)的長度為三個時鐘周期，幅度為6 LSB（這也可以稱為64個代碼）。

AD9246S SET 誤差閾值模板

AD64S的運行9246圖顯示了類似的結果。在運行 64 的情況下，瞬態(tài)的長度為兩個時鐘周期，并且 ADC 輸出代碼的兩位存在錯誤，如 ADS9246S 單事件效應測試報告中所述。下掩碼約為0x2E80，輸出代碼0x2E74，導致 12 個代碼的數量級。

SET 測試的示例運行 – 運行 64

SET的長度可以短至一個時鐘周期。當輸出代碼偏離預期值范圍時，ADC輸出數據代碼中的不安被視為SET。這可以發(fā)生在一個時鐘周期或多個時鐘周期中。下圖的運行 65 中說明了一個時鐘周期長度為 SET 的示例。在這種情況下，上掩碼位于0x0F14，輸出代碼約為0x0F20。這又是ADC輸出代碼的兩位錯誤，如AD9246S單事件效應測試報告所述。與運行64中的誤差一樣，這兩個誤差位也轉化為大約12個ADC代碼的誤差幅度。

SET 測試的示例運行 – 運行 65

重要的方面是確保擾動能夠與ADC固有的非線性代碼誤差區(qū)分開來。因此，AD6S的9246個LSB在SET測試運行期間被屏蔽。這些低位輻射引起的代碼誤差與ADC固有的代碼誤差無法區(qū)分。對于SET運行，直流輸入用于使代碼錯誤易于區(qū)分，因為預期值不僅易于計算，而且還為ADC提供非常穩(wěn)定的信號，從而產生非常穩(wěn)定的輸出。這里唯一的缺點是ADC的整個范圍可能無法完全執(zhí)行。但是，這確實可以很好地了解器件輻射引起的誤差，同時盡可能減少固有ADC噪聲的影響。

總體而言，AD9246S在此測試中表現非常出色。測試期間記錄的樣本誤差很少，如該ADC的單事件效應測試報告表3-2所示。此外，觀察到的誤差幅度僅為ADC輸出代碼的1位或2位誤差，因此SET的幅度非常小。ADC的單事件效應測試報告表3-3對此進行了總結。我認為現在SET測試的總和，我們可以期待在下一部分中討論單個事件翻轉（SEU）。我相信本系列提供了一些關于如何為各種類型的SEE查看設備的一些見解。

審核編輯：郭婷