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如何使用商業級實驗室設備測量超低偏置電流

jf_pJlTbmA9 ? 來源:jf_pJlTbmA9 ? 作者:jf_pJlTbmA9 ? 2023-07-12 11:03 ? 次閱讀
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問題:

有沒有一種簡單的辦法來測量飛安級別的超低偏置電流

答案

有——只需要仔細設置。

簡介

在要求低漏電流的應用中,請務必選擇低輸入偏置電流(IB)的運算放大器。盡管“應用筆記AN-1373”中曾介紹了如何使用ADA4530-1評估板測量超低偏置電流。然而,由于飛安(fA)級電流的實際處理性質,測量環境(夾具、屏蔽、電纜、連接器等設備)也會影響測量結果。

本文將介紹ADI如何嘗試使用常見的商業級實驗室設備、夾具和材料重現AN-1373中的測量過程,并提供一些替代方案來改進測量,最終測試的偏置電流將達到50fA。首先,測量用于測量偏置電流的輸入電容(運放內部的等效共模輸入電容),以及125°C條件下給輸入電容充電時輸出電壓的變化。其次,嘗試根據測得的輸出電壓推導偏置電流值。最后,將嘗試根據測量結果來改進測量環境。

容性集成測量

根據AN-1373,為了使用容性集成測量方法,必須先測量ADA4530-1的輸入電容(Cp)。本次實驗將使用ADA4530-1R-EBZ-BUF來執行,ADA4530-1配置為單位增益的緩沖器模式。

接著,計算輸入電流(IB+)。具體來說,使用圖1所示的電路配置,當測試盒中的SW從ON(接地至GND)轉到OFF(開路)時,IB+流入Cp。當IB+給Cp充電時,輸出電壓升高,因此通過監控IB+并將其代入等式1,可以計算其值。

1664175103410444.jpg

圖1.容性集成測量方法示意圖

1664175098559350.jpg

通過輸入串聯電阻測量總輸入電容

為計算Cp,本實驗使用串聯電阻法。圖2顯示了一個簡單的電路示意圖。串聯電阻的值基于AN-1373第6頁的測量指南,實際值是Rs = 8.68 MΩ。此外,在測試盒中安裝了SW,以供稍后的實驗使用(此時,SW開路)。

可以測量函數發生器的波形衰減到-3dB時的頻率,并且可以使用等式2計算輸入電容。

1664175088822643.jpg

圖2.使用輸入串聯電阻計算Cp

1664175083378873.jpg

圖3顯示了這一設置。在“通過已知輸入電容測量IB+”部分(AN-1373的第6頁)描述的實驗中,由于溫控室中的溫度提高至125°C,因此需使用能夠承受該溫度的材料。如將RG-316U用作同軸電纜的材料。此外,評估板上ADA4530-1的同相輸入是三軸連接器。為此,三軸-同軸轉換連接器(Axis公司的BJ-TXP-1)被采用。在該配置中,三軸側的保護端口保持浮空。

1664175075327932.jpg

圖3.Cp測量設置:(a)溫控室內部——所示為ADA4530-1的評估板和(b)測試盒側的設置

獲得的測量結果是Cp = 73.6pF,這是一個相對較大的值,因為根據AN-1373,實際測量值約為2pF。其原因與測試盒(更像是測試板)到同相輸入的電纜長度有關。

通過已知輸入電容測量IB+

下面開始測量偏置電流。電路配置如圖1所示,安裝的測試盒如圖4所示。注意,移除了“通過輸入串聯電阻測量總輸入電容”部分使用的輸入電阻。如AN-1373(容性集成測量方法,第7頁)中所述,將SW短接至GND,然后將其置于開路,并使用數字萬用表(DMM)監控輸出電壓波動持續數分鐘(此處使用的是Keysight Technologies的34401A DMM)。最后,通過將VOUT代入等式1,計算IB+。

1664175065194539.jpg

圖4.容性集成測量的設置

相同條件下的三次測量結果如圖5所示。圖中下半部分顯示了通過DMM測量的ADA4530-1的輸出電壓波動,上半部分顯示了使用等式1計算的電流值。該圖顯示,對于所有三個實例,測得的電壓值都沒有可重復性。因此,計算得到的電流值波形也與AN-1373中描述的結果不同(參見AN-1373圖13和14)。

圖5.測量結果:下半部分顯示了通過DMM測量的ADA4530-1的輸出電壓,上半部分顯示了使用等式1計算的電流值。藍線是第一次測量,綠線是第二次測量,紅線是第三次測量。

如何改進測量環境

在“容性集成測量”部分,根據AN-1373測量了IB+,但結果有所不同。接下來會分享如何改進測量環境,從而提高測量精度。

安裝屏蔽盒并縮短輸入電纜

首先,可實施以下兩項改進:

在恒溫室內的評估板上安裝了屏蔽盒(參見圖6)。

1664175051683956.jpg

圖6.安裝屏蔽盒

縮短了連接到同相輸入端子的同軸電纜,以減小Cp(參見圖7)。

1664175009884004.jpg

圖7.縮短同軸電纜

第一項改進旨在減少外部噪聲的影響,第二項改進是降低電纜中的小漏電流(重新計算的Cp是35.2pF)。然而,雖然采取了這些措施并重新進行了測量,但與“容性集成測量”中獲得的結果類似,沒有觀察到可重復性。波形與預期波形顯著不同。

移除測試盒

移除所用的測試盒,然后將SW改為直接短接至地和開路(參見圖8)。也就是說,移除稱為測試盒的電導組件,然后執行測量。因此,能夠獲得如圖9所示的波形。

1664175003773543.jpg

圖8.移除測試盒后進行測量。在SW內部手動執行短路和開路操作。

1664174991768684.jpg

圖9.移除測試盒后的測量結果:藍線、橙線和綠線是Cp = 35.2pF時的測量結果。紅線是Cp = 26.5pF時的測量結果。

在所有測量中,由DMM測量的輸出電壓以恒定斜率升高,并達到約4.16V。對應的電流值約為50fA。

此外,圖9中的紅線顯示使用更短的同軸電纜連接到同相輸入端子時,重新測量的波形(Cp = 26.5pF)。電壓升高的斜率與理論計算值一樣大。從這些測量結果可以看出,輸入側的電導組件會對測量精度產生顯著的不利影響。

結論

雖然fA級測量可在一般實驗室環境中執行,但需要仔細考慮運算放大器輸入側的漏電流路徑。

為了提高測量精度,建議在輸入側使用特氟龍端子模塊或評估板配合使用三軸電纜。

責任編輯:彭菁

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