ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環境條件下驗證IC是否能完成設計所預期的工作或功能。將合格的芯片與不合格的芯片區分開，保證產品的質量與可靠性。
IC測試用于驗證IC是否能完成設計所預期的工作或功能。功能測試是數字電路測試的根本，它模擬IC的實際工作狀態，輸入一系列有序或隨機組合的測試圖形，以電路規定的速率作用于被測器件，再在電路輸出端檢測輸出信號是否與預期圖形數據相符，以此判別電路功能是否正常。其關注的重點是圖形產生的速率、邊沿定時控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等。

凱智通IC測試座的優勢：

測試座探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或導向孔，保證IC定位精確，生產效率高,探針可以更換，維修方便，成本低。

IC測試座采用手動翻蓋式結構和自動下壓式結構，操作方便；翻蓋的上蓋的IC壓板采用彈壓式結構，能自動調節下壓力，保證IC的壓力均勻。

交期快，最快一天交貨，提高使用效率。
ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環境條件下驗證IC是否能完成設計所預期的工作或功能。將合格的芯片與不合格的芯片區分開，保證產品的質量與可靠性。
IC測試用于驗證IC是否能完成設計所預期的工作或功能。功能測試是數字電路測試的根本，它模擬IC的實際工作狀態，輸入一系列有序或隨機組合的測試圖形，以電路規定的速率作用于被測器件，再在電路輸出端檢測輸出信號是否與預期圖形數據相符，以此判別電路功能是否正常。其關注的重點是圖形產生的速率、邊沿定時控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等。

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審核編輯 黃宇