IM7581日置（HIOKI）阻抗分析儀IM7581
IM7581日置(HIOKI)阻抗分析儀IM7581
快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻
測(cè)量頻率1MHz~300MHz
測(cè)量時(shí)間：快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小
豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
主機(jī)不帶測(cè)試治具。需要使用阻抗分析儀的測(cè)試治具。
日置阻抗分析儀IM7581 HIOKI/日置總代理全國(guó)優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
購(gòu)買(mǎi)日置阻抗分析儀IM7581請(qǐng)選擇正規(guī)渠道濟(jì)南千斗工業(yè)科技有限公司代理銷(xiāo)售的HIOKI日置阻抗分析儀IM7581具有以下特點(diǎn)測(cè)量頻率1MHz~300MHz
測(cè)量時(shí)間：zui快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
主機(jī)大小僅機(jī)架一半
豐富的接觸檢查功能
日置阻抗分析儀IM7581適用于對(duì)元器件電感、電容、電阻的測(cè)量
日置阻抗分析儀IM7581主機(jī)不帶測(cè)試治具。需要使用阻抗分析儀的測(cè)試治具。
日置阻抗分析儀IM7581基本參數(shù)
測(cè)量模式 LCR（LCR測(cè)量），分析（掃頻測(cè)量），連續(xù)測(cè)量
測(cè)量參數(shù) Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

精度保證范圍 100 mΩ~5 kΩ
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測(cè)量時(shí)間：zui快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
日置阻抗分析儀IM7581 HIOKI/日置總代理全國(guó)優(yōu)勢(shì)供應(yīng)

審核編輯 黃宇