電學測試是芯片測試的一個重要環(huán)節(jié),用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
什么是芯片電學測試?
芯片電學測試就是檢測芯片、元件等電性能參數(shù)是否滿足設(shè)計的要求。檢測的項目有電壓、電流、阻抗、電場、磁場、EDM、相應(yīng)時間等。電學測試是評估芯片性能的重要環(huán)節(jié),確保芯片的穩(wěn)定性、可靠性,保證其可以正常運行工作。
芯片電學測試參數(shù)
芯片電測試參數(shù)包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
1. 直流參數(shù)測試
是對芯片的直流特性進行測試,包括:
靜態(tài)電流測試:測試芯片在不同電壓下靜態(tài)電流的大小,評估芯片的電流驅(qū)動能力。
電壓測試:測試芯片在不同電壓下的表現(xiàn),包括芯片的最大工作電壓和靜態(tài)電壓。
斜率測試:測試芯片在不同電流下的電壓數(shù)值變化。
反向電流測試:測試芯片在反向電流下的性能表現(xiàn)。
2.交流參數(shù)測試
是測試芯片的動態(tài)電特性,包括:
共模抑制比(CMRR)測試:測試芯片在輸入信號存在共模干擾時輸出信號的變化量。
變化時間測試:測試芯片在輸入信號變化時輸出信號的變化時間。
放大器帶寬測試:測試芯片放大器的傳輸帶寬。
相位測試:測試芯片信號傳輸?shù)南辔蛔兓?/p>
3.高速數(shù)字信號性能測試
主要是針對數(shù)字信號處理芯片進行測試,包括:
時鐘偏移測試:測試芯片的時鐘誤差,評估芯片時鐘同步性。
捕獲時延測試:測試芯片捕獲信號的時延。
輸出時延測試:測試芯片輸出數(shù)字信號的時延。
納米軟件專注于各類儀器自動化測試軟件的開發(fā),其研發(fā)的ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)針對MCU、Analog、IGBT、半導體等以及各分立器件指標測試提供軟硬件解決方案,實現(xiàn)自動化測試、數(shù)據(jù)自動采集記錄、多方位多層級數(shù)據(jù)圖表分析,助力解決測試難點。
審核編輯:湯梓紅
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