在线观看www成人影院-在线观看www日本免费网站-在线观看www视频-在线观看操-欧美18在线-欧美1级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

芯片電學測試是什么?都有哪些測試參數(shù)?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-10-26 15:34 ? 次閱讀

電學測試是芯片測試的一個重要環(huán)節(jié),用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。

什么是芯片電學測試?

芯片電學測試就是檢測芯片、元件等電性能參數(shù)是否滿足設(shè)計的要求。檢測的項目有電壓、電流、阻抗、電場、磁場、EDM、相應(yīng)時間等。電學測試是評估芯片性能的重要環(huán)節(jié),確保芯片的穩(wěn)定性、可靠性,保證其可以正常運行工作。

芯片電學測試參數(shù)

芯片電測試參數(shù)包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。

1. 直流參數(shù)測試

是對芯片的直流特性進行測試,包括:

靜態(tài)電流測試:測試芯片在不同電壓下靜態(tài)電流的大小,評估芯片的電流驅(qū)動能力。

電壓測試:測試芯片在不同電壓下的表現(xiàn),包括芯片的最大工作電壓和靜態(tài)電壓。

斜率測試:測試芯片在不同電流下的電壓數(shù)值變化。

反向電流測試:測試芯片在反向電流下的性能表現(xiàn)。

2.交流參數(shù)測試

是測試芯片的動態(tài)電特性,包括:

共模抑制比(CMRR)測試:測試芯片在輸入信號存在共模干擾時輸出信號的變化量。

變化時間測試:測試芯片在輸入信號變化時輸出信號的變化時間。

放大器帶寬測試:測試芯片放大器的傳輸帶寬。

相位測試:測試芯片信號傳輸?shù)南辔蛔兓?/p>

3.高速數(shù)字信號性能測試

主要是針對數(shù)字信號處理芯片進行測試,包括:

時鐘偏移測試:測試芯片的時鐘誤差,評估芯片時鐘同步性。

捕獲時延測試:測試芯片捕獲信號的時延。

輸出時延測試:測試芯片輸出數(shù)字信號的時延。

串行接口電氣特性測試:測試芯片的串行接口傳輸電氣特性。

納米軟件專注于各類儀器自動化測試軟件的開發(fā),其研發(fā)的ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)針對MCUAnalogIGBT半導體等以及各分立器件指標測試提供軟硬件解決方案,實現(xiàn)自動化測試、數(shù)據(jù)自動采集記錄、多方位多層級數(shù)據(jù)圖表分析,助力解決測試難點。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 磁場
    +關(guān)注

    關(guān)注

    3

    文章

    901

    瀏覽量

    24650
  • 電流
    +關(guān)注

    關(guān)注

    40

    文章

    7116

    瀏覽量

    134234
  • 芯片測試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    144

    瀏覽量

    20589
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    晶圓揀選測試的具體過程和核心要點

    在半導體制造流程中,晶圓揀選測試(Wafer Sort)堪稱芯片從“原材料”到“成品”的關(guān)鍵質(zhì)控節(jié)點。作為集成電路制造中承上啟下的核心環(huán)節(jié),其通過精密的電學測試,為每一顆
    的頭像 發(fā)表于 04-30 15:48 ?4227次閱讀
    晶圓揀選<b class='flag-5'>測試</b>的具體過程和核心要點

    芯片不能窮測試

    做一款芯片最基本的環(huán)節(jié)是設(shè)計->流片->封裝->測試芯片成本構(gòu)成一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測試5%【對于先進工藝,流片成本可能超過60%】。
    的頭像 發(fā)表于 04-11 10:03 ?464次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>不能窮<b class='flag-5'>測試</b>

    什么是EMC測試?EMC測試的作用都有哪些呢?

    ,重則引發(fā)安全隱患。如何確保設(shè)備在復雜電磁環(huán)境中穩(wěn)定運行?答案正是?EMC測試?。 什么是EMC測試?? EMC?(Electromagnetic Compatibility,電磁兼容性)測試,是評估電子設(shè)備或系統(tǒng)在特定電磁環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 03-16 17:28 ?628次閱讀

    射頻產(chǎn)品測試基礎(chǔ)

    產(chǎn)線測試則是在射頻芯片的生產(chǎn)過程中進行的,主要用于保證芯片的質(zhì)量和一致性。(鴻怡電子射頻芯片測試座工程師提供
    的頭像 發(fā)表于 02-28 10:03 ?504次閱讀
    射頻產(chǎn)品<b class='flag-5'>測試</b>基礎(chǔ)

    功率器件晶圓測試及封裝成品測試介紹

    ???? 本文主要介紹功率器件晶圓測試及封裝成品測試。?????? ? 晶圓測試(CP)???? 如圖所示為典型的碳化硅晶圓和分立器件電學測試
    的頭像 發(fā)表于 01-14 09:29 ?1001次閱讀
    功率器件晶圓<b class='flag-5'>測試</b>及封裝成品<b class='flag-5'>測試</b>介紹

    Advantest CEO:先進芯片測試需求大增

    近日,半導體測試設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)Advantest愛德萬測試集團的首席執(zhí)行官Douglas Lefever在接受英國媒體采訪時,就現(xiàn)代先進芯片測試需求發(fā)表了見解。 Lefever指
    的頭像 發(fā)表于 01-03 14:26 ?465次閱讀

    芯片的HBM靜電都有哪些測試標準,各標準之間有沒有差異

    知道,芯片的靜電測試標準主要有HBM,MM和CDM,通過前面文章,我們知道了如下兩點信息。 1.上面三種測試標準,MM現(xiàn)在只是可選項,不做強制要求,參考文章: 芯片規(guī)格書里的靜電指標為
    的頭像 發(fā)表于 11-27 10:48 ?4013次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>的HBM靜電<b class='flag-5'>都有</b>哪些<b class='flag-5'>測試</b>標準,各標準之間有沒有差異

    半導體器件測試的理想型解決方案

    測試。探針卡通過其上安裝的精密金屬探針,能夠準確地與晶圓表面的測試點接觸,建立起必要的電氣連接,進而實現(xiàn)對芯片各項電學參數(shù)的測量。這種高效且
    的頭像 發(fā)表于 11-25 10:27 ?701次閱讀
    半導體器件<b class='flag-5'>測試</b>的理想型解決方案

    IC芯片老化測試以及方案詳解

    。2.測試方案設(shè)計:-選擇適當?shù)?b class='flag-5'>測試負載:根據(jù)芯片的應(yīng)用場景和預期使用條件,確定合適的測試負載,包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計
    的頭像 發(fā)表于 11-23 01:02 ?2144次閱讀
    IC<b class='flag-5'>芯片</b>老化<b class='flag-5'>測試</b>以及方案詳解

    IV測試助力解芯片失效原因

    失效原因提供了關(guān)鍵線索。 ? 窺探芯片電學特性的窗口 IV 測試,簡單來說,就是通過對芯片施加不同的電壓,并測量相應(yīng)的電流變化,從而繪制出芯片
    的頭像 發(fā)表于 11-21 17:13 ?1264次閱讀
    IV<b class='flag-5'>測試</b>助力解<b class='flag-5'>芯片</b>失效原因

    測試點的直徑參數(shù)

    這個直徑是測試點的最小尺寸,用于確保測試探針可以準確地與測試點接觸。如果測試點直徑小于這個值,可能會導致測試探針無法正確接觸到
    的頭像 發(fā)表于 10-28 10:31 ?1126次閱讀
    <b class='flag-5'>測試</b>點的直徑<b class='flag-5'>參數(shù)</b>

    soc芯片測試有哪些參數(shù)和模塊

    SOC(System on Chip,芯片上的系統(tǒng))芯片測試是一個復雜且全面的過程,涉及多個參數(shù)和模塊。以下是對SOC芯片
    的頭像 發(fā)表于 09-23 10:13 ?2490次閱讀

    揭示射頻芯片性能測試的核心指標

    NSAT-1000射頻自動化測試系統(tǒng)集成是專門針對各類元器件S參數(shù)測試的自動化測試設(shè)備,通過測試軟件程控網(wǎng)分,實現(xiàn)兩者之間的通訊,完成射頻
    的頭像 發(fā)表于 08-19 10:35 ?1162次閱讀
    揭示射頻<b class='flag-5'>芯片</b>性能<b class='flag-5'>測試</b>的核心指標

    芯片失效分析中常見的測試設(shè)備及其特點

    芯片失效分析中,常用的測試設(shè)備種類繁多,每種設(shè)備都有其特定的功能和用途,本文列舉了一些常見的測試設(shè)備及其特點。
    的頭像 發(fā)表于 08-07 17:33 ?1631次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>失效分析中常見的<b class='flag-5'>測試</b>設(shè)備及其特點

    芯片測試有哪些 芯片測試介紹

    本文就芯片測試做一個詳細介紹。芯片測試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會進
    的頭像 發(fā)表于 07-26 14:30 ?3799次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>測試</b>有哪些 <b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>測試</b>介紹
    主站蜘蛛池模板: 羞羞答答91麻豆网站入口 | 理论片国产 | 热re66久久精品国产99热 | 天堂最新在线资源 | 亚洲性久久久影院 | 操操操干干干 | 俄罗斯毛片基地 | 手机看片国产免费久久网 | 午夜欧美精品久久久久久久 | 欧美成人免费全部观看天天性色 | 狠狠色噜噜狠狠狠狠色综合久 | 人人搞人人干 | 五月婷婷六月婷婷 | 关晓彤被调教出奶水的视频 | 天天曰天天爽 | 韩国视频在线播放 | 亚洲美女高清一区二区三区 | 天天拍天天射 | 四虎最新紧急入口 | 日本免费在线一区 | 男人操女人免费 | 九七婷婷狠狠成人免费视频 | 日本三级高清 | 噜噜噜色 | 天天透天天干 | 奇米影视欧美 | 夜夜艹日日干 | 欧美xxx另类 | 欧美日韩伦理 | 黄色网址中文字幕 | 免费永久欧美性色xo影院 | 国产一线在线观看 | 日本大片免费观看视频 | 最近2018中文字幕免费视频 | 久操视频在线观看免费 | 无遮挡高清一级毛片免费 | 九九51精品国产免费看 | 午夜免费观看_视频在线观看 | 亚洲精品一卡2卡3卡三卡四卡 | 天堂色综合 | 91久娇草 |