11月10-11日,中國集成電路設計業2023年會暨廣州集成電路產業創新發展高峰論壇(ICCAD)在廣州保利世貿博覽館舉行。
本屆年會主題為“灣區有你,芯向未來”,逾5000名相關行業協會代表、企業家代表以及專家學者齊聚一堂,深入探討新形勢下集成電路產業發展現狀,以及面臨的機遇和挑戰。朗迅·芯云應邀參展,以國內領先的ATE高端測試服務產業生態吸引眾多參觀者駐足洽談。
展會同期,朗迅·芯云在高峰論壇中發表《高端芯片量產 ATE 測試趨勢與挑戰》演講,贏得現場掌聲連連。
芯程大海,行則將至。朗迅芯云不忘初心,將持續加快產業綜合體建設,以高度國產化/IT化/自動化的中高端測試產線和端到端的測試服務生態,搭建循環的產學研用創協同創新平臺機制,致力為構建高端芯片創新研發和產業化集群高地、建立自主可控的國產化芯片供應鏈貢獻朗迅力量。
審核編輯:彭菁
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原文標題:ICCAD 2023圓滿落幕,朗迅芯云精彩亮相
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