可焊性和耐焊接熱試驗(yàn)?zāi)康模捍_定晶振能否經(jīng)受焊接 (烙焊、浸焊、波峰焊或回流焊) 端頭過(guò)程中所產(chǎn)生的熱效應(yīng)考驗(yàn)。耐焊接熱試驗(yàn)可以參照GJB 360B.208/ 210方法試驗(yàn)要求。試驗(yàn)設(shè)備有熔錫爐和放大鏡。
試驗(yàn)?zāi)康?/strong>
耐受性:評(píng)估晶振能否承受高溫環(huán)境;
可焊性:評(píng)估材料能否用于焊接;
穩(wěn)定性:在高溫下,評(píng)估材料能否會(huì)變形融化等。
試驗(yàn)說(shuō)明
焊料溫度260℃±5℃ 10秒 3次,其中SMD產(chǎn)品保持30秒1次:
DIP直插晶振:錫面離本體1.5mm;
SMD貼片晶振:錫覆蓋PAD。
本試驗(yàn)對(duì)晶振的影響
晶體諧振器:頻率降低2ppm左右(5max);諧振阻抗變化3Ω左右(5max) 或10%;??
晶體振蕩器:頻率降低2ppm左右(5max)。
晶振的焊接
如果焊接操作不當(dāng)會(huì)對(duì)晶振造成損傷,嚴(yán)重時(shí)會(huì)造成停振;或造成軟傷害,即使可以正常工作,在未來(lái)的使用中也會(huì)造成停振的現(xiàn)象。
KOAN晶振安裝焊接環(huán)節(jié)需要格外的注意。焊接分為手工和機(jī)器焊接:
手工焊接:烙鐵頭應(yīng)該控制在350℃/3s,或者260℃/5s;
機(jī)器焊接:回流焊主要用于貼片晶振的焊接(例如KS32, KS50, KS70...); 波峰焊用于插件元件(DIP封裝,例如KS08, KS14...)。
審核編輯:劉清
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