ATE(Automatic Test Equipment)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是用于檢測(cè)電子產(chǎn)品、電氣設(shè)備的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),是電測(cè)行業(yè)首選的一種測(cè)試方式,被廣泛應(yīng)用于通信、消費(fèi)電子、汽車(chē)電子、智能家居、半導(dǎo)體、電源模塊、醫(yī)療電子、航天航空等領(lǐng)域。ATE測(cè)試設(shè)備在電子設(shè)計(jì)、研發(fā)、制造生產(chǎn)過(guò)程中有著重要作用,通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試,將測(cè)試結(jié)果與設(shè)計(jì)要求進(jìn)行對(duì)比,從而幫助企業(yè)提升電子產(chǎn)品性能和質(zhì)量,降低測(cè)試成本。
ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的原理
ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備由軟件和硬件兩部份組成。硬件主要是指測(cè)試中用到的測(cè)試夾具、測(cè)試接口、測(cè)試設(shè)備(如示波器、萬(wàn)用表、程控電源、負(fù)載)等,軟件主要包括測(cè)試程序、算法、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等。
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備在測(cè)試時(shí),將被測(cè)產(chǎn)品與測(cè)試設(shè)備連接,測(cè)試設(shè)備通過(guò)模擬實(shí)際工作環(huán)境對(duì)待測(cè)品進(jìn)行信號(hào)激勵(lì),此時(shí)待測(cè)品會(huì)在信號(hào)激勵(lì)下產(chǎn)生電氣信號(hào),測(cè)試設(shè)備會(huì)采集這些電氣信號(hào)(如電壓、電流、電阻等)并傳輸給軟件,軟件在一系列測(cè)試算法和數(shù)據(jù)處理算法后得到測(cè)試結(jié)果,并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析,生成數(shù)據(jù)報(bào)告,判斷待測(cè)品是否符合要求。
ATE測(cè)試設(shè)備的特點(diǎn)
1. 自動(dòng)化測(cè)試:與傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)試相比,自動(dòng)化測(cè)試簡(jiǎn)化了繁瑣的測(cè)試程序,會(huì)自動(dòng)采集存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù),提高了測(cè)試效率和準(zhǔn)確性,解放人力。
2. 支持多種測(cè)試內(nèi)容:如功能測(cè)試、可靠性測(cè)試、時(shí)序測(cè)試、電性測(cè)試等,可以模擬多種測(cè)試環(huán)境,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和穩(wěn)定性。
3. 批量測(cè)試:ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備支持批量測(cè)試,可以滿(mǎn)足企業(yè)大批量測(cè)試的需求。
4. 數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)報(bào)告:自動(dòng)測(cè)試設(shè)備會(huì)自動(dòng)記錄、分析測(cè)試數(shù)據(jù),并且支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出。
ATECLOUD自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
ATECLOUD是納米軟件開(kāi)發(fā)的專(zhuān)注于電源模塊、電源管理芯片、IC測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),在提供軟件定制開(kāi)發(fā)的同時(shí),也會(huì)根據(jù)企業(yè)需求提供相應(yīng)的測(cè)試硬件設(shè)備,為企業(yè)提供整體軟硬件方案。
ATECLOUD不同于Labview,它是一種文字語(yǔ)言編程軟件,采取無(wú)代碼開(kāi)發(fā)模式,無(wú)需編程,操作簡(jiǎn)單,可以快速上手。該系統(tǒng)支持用戶(hù)自由編輯測(cè)試項(xiàng)目,創(chuàng)建測(cè)試程序進(jìn)行測(cè)試,并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行多方位、多層級(jí)可視化看板分析,同時(shí)生成數(shù)據(jù)報(bào)告,方便查看數(shù)據(jù)。
ATECLOUD可以模擬多種測(cè)試環(huán)境來(lái)測(cè)試產(chǎn)品的性能,內(nèi)含設(shè)備自檢功能和測(cè)試監(jiān)控功能,通過(guò)移動(dòng)端實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)測(cè)試數(shù)據(jù)情況,可以隨時(shí)隨地進(jìn)行測(cè)試。ATECLOUD也有極強(qiáng)的兼容性,支持多種測(cè)試儀器型號(hào),用戶(hù)可以自由選型。
審核編輯 黃宇
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