異頻介質(zhì)損耗自動測試儀使用方法

5.1、主菜單

打開電源開關(guān)，首先顯示

歡迎界面，然后進入主菜單（

如圖5—1）；選擇相應(yīng)的測試選項

進行測量。

圖 5—1

5.2、一般測試

圖 5—2 圖 5—3

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器

外部的與被試品之間的連線，然后將光標

移動至主菜單的***項“一般測試”上（

如圖5—1）， 按確認鍵進入下一級設(shè)置菜

單（如圖4）。進入詳細參數(shù)設(shè)置菜單（如

圖5—2）后，再按確認鍵移動光標至每一

項，按上、下鍵修改相應(yīng)的參數(shù)設(shè)置。***

后，所有相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后按確認鍵將

光標移動至***一項接著再按一下確認鍵 圖 5—4

離開設(shè)置菜單，進入測試菜單（如圖5—3）。

測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應(yīng)的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—4）；移動光標可以對結(jié)果數(shù)據(jù)進行保存或者打印等操作。

注 意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

5.3、CVT測試

圖 5—5 圖 5—6

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后打開儀器將光標移動至主菜單的第二項“CVT測試”上（如圖5—5），按確認鍵進入下一級設(shè)置菜單（如圖5—6）。進入具體設(shè)置菜單（如圖5—6）后，接著先將光標移動至此菜單的第“CVT電源設(shè)置”按確認鍵進入，然后再按確認鍵移動光標至“電壓設(shè)置”或“頻率設(shè)置”（如圖5—7）上，按上、下鍵調(diào)整到所需的參數(shù)，調(diào)整完成后按確認鍵返回具體設(shè)置菜單（如圖5—6）。***按上、下鍵移動光標將光標停留在相應(yīng)的“同時測試”或“分別測試”上，按確認鍵離開此菜單，進入測試菜單（如圖5—8）。

圖 5—7 圖 5—8

測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應(yīng)的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果。

注 意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

5.4、CVT變比測試

圖 5—9 圖 5—10

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好

儀器外部的連線， 然后將光標移動至

主菜單的第三項“CVT變比”上（如

圖5—9），按確認鍵進入下一級操作菜

單（如圖5—10）先進入電壓設(shè)置菜單

（如圖5—11）設(shè)置好電壓和頻率，然

后返回上一級菜單開始測試。

圖 5—11

5.4、數(shù)據(jù)查詢

圖 5—12 圖 5—13

打開儀器后按上、下鍵將光標移動至主菜單的第四項“數(shù)據(jù)查尋”（如圖5—12）上，按確認鍵進入。進入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—13）后，按上、下鍵移動光標至想要查看的數(shù)據(jù)項目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時間的先后所排列的，第1個數(shù)據(jù)即***數(shù)據(jù)，第80個數(shù)據(jù)即***老數(shù)據(jù)。）再按確認鍵讀取相應(yīng)的數(shù)據(jù)，在此菜單里面可以按上，下鍵移動光標至屏幕下方相應(yīng)的“打印” 、“刪除”上，按確認鍵可對數(shù)據(jù)進行打印或刪除等操作。

5.5、時間設(shè)置

圖 5—14 圖 5—15

打開儀器后按上、下鍵將光標移動至主菜單的第五項“時間設(shè)置”（如圖5—14）上，按確認鍵進入。進入數(shù)時間菜單（如圖5—15）后，按確認鍵鍵移動光標至想要修改的數(shù)據(jù)項目上，然后再按上、下鍵調(diào)整相應(yīng)的“時” 、“分” 、“秒” ，***將光標移動至***一項后再按一次確認鍵保存修改設(shè)置并退出。

※ 注：

所有步驟在設(shè)置不當或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。