近年來,隨著物聯(lián)網(wǎng)產品的無線化、智能化的發(fā)展,產品無線性能的重要性也日趨凸顯,而天線作為產品實現(xiàn)無線傳輸?shù)闹匾浇椋錅y量技術也不斷地向著更全、更快、更準的方向演進,天線性能的好壞也越來越受工程師們的重視,天線相關的測量也逐步成為一門不可小視的測試技術,今天給大家介紹下OTA近場測量的相關內容。
閑言少敘,今日份重點:
1.近場測量技術及場地的發(fā)展
2.近場測量的分類
3.現(xiàn)今主流近場多探頭OTA系統(tǒng)簡介
1.近場測量技術及場地的發(fā)展
近場測量的理論基礎于20世紀50年代末產生的,它的發(fā)展主要分為四個階段:
第一個階段為無探頭修正探索階段
(1950~1961年)
第二階段為探頭修正理論研究階段
(1961~1975年)
第三階段為實驗驗證探頭修正理論階段
(1965~1975年)
第四階段為探頭修正理論實踐階段
(1975~至今)
天線測量領域最早出現(xiàn)的測量場地是室外遠場,由于室外場地沒有屏蔽效果,容易受到外界電磁信號的干擾,而且還有外界不可控因素的影響,不僅使得測試的精度較低,還會出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)不可復現(xiàn)的結果。
20世紀50年代初,微波暗室技術出現(xiàn),早期的暗室無屏蔽殼體,暗室反射性能不高,隨著新興技術的不斷提升,目前的暗室屏蔽效能和靜區(qū)反射性能都能達到較高水準。
對于微波暗室技術的發(fā)展,天線測量從室外轉移到室內進行,解決了室外遠場背景電平高、保密性差、不支持全天候測試等問題。
天線場區(qū)可分為感應場區(qū)、輻射近場區(qū)和輻射遠場區(qū),天線測量場地可分為遠場、近場、緊縮場、混響法等。
2.近場測量的分類
根據(jù)采樣面的不同,近場測量場地可分為平面近場、柱面近場、球面近場三種類型;
平面采樣主要適用于高增益、筆形波束天線的測量。常見的是垂直面采樣,測量時天線放置在固定位置,探頭在離被測天線3-5個波長的平面進行采樣。如圖1
圖1
柱面采樣主要適用于中等增益、扇形波束天線的測量。測量時天線在轉臺的帶動下做360°轉動,探頭進行上下移動進行采樣。如圖2
圖2
球面采樣主要適用于低增益、寬波束天線的測量。球面采樣的方式有多種,以我們16探頭暗室為例,被測天線放置在轉臺上做180°轉動,每轉一個角度,15個探頭依次進行采樣,以達到球面的采樣效果。
圖3
根據(jù)采用探頭數(shù)量的不同,近場可分為單探頭近場和多探頭近場兩種類型。
傳統(tǒng)的單探頭球面測試系統(tǒng),被測天線必須在一個單探頭前二維旋轉,其旋轉范圍為方位角從0到360°和俯仰角從0°到180°,以便確定在包圍該天線的一個球面的上的場,由于單探頭的采樣點很多,測量時間長,信號的漂移,儀器的穩(wěn)定性,溫度的變化都將會對測量精度產生影響。
多探頭球面近場測試系統(tǒng)實在俯仰方向上布置多個寬帶低反射的探頭進行電子掃描,這樣被測天線只需要在方位方向旋轉180°就夠了,由于電子掃描時瞬時完成的,這使天線測量速度提高了數(shù)十倍到上百倍。
3. 現(xiàn)今主流近場多探頭OTA系統(tǒng)簡介
圖4
1.近場天線測試系統(tǒng)主要由以下幾部分組成:
a. 多軸掃描架子系統(tǒng)(包括控制驅動器及電纜組件)。
b. 被測天線定位子系統(tǒng), 通常由一個單軸或多軸轉臺,控制驅動器及電纜組件組成。
c. 射頻子系統(tǒng),包括發(fā)射源,接收機及射頻電纜組件。
d. 系統(tǒng)主控器及一個負責給掃描架及轉臺子系統(tǒng)發(fā)定位指令,采集測試數(shù)據(jù),近遠場變
換計算和分析測試結果的系統(tǒng)軟件。
2.工作原理:
以16探頭暗室為例:
該暗室是在一個環(huán)上均勻放置16根天線(有的還有24、32、64、128個等)作為接收天線,環(huán)上的天線是交叉極化的。
該環(huán)稱為星門(Stargate)。它采用多個探頭垂直面全方位實時采集待測物在垂直面的數(shù)據(jù)。當一個探頭工作時,其它探頭50歐匹配,從而不對其工作造成影響。因各要求不同,待測物也放置在一個轉臺上,轉臺每轉過一個角度,15個探頭會快速掃描一次成一個圓面,這樣很快就能獲得數(shù)據(jù),此時測試出的數(shù)據(jù)是近場的數(shù)據(jù),系統(tǒng)軟件會根據(jù)近場-遠場轉換算法對數(shù)據(jù)進行變換進而得到遠場(直接法)的數(shù)據(jù)。
這種測試速度很快,雖然相對精度稍有降低,卻極大的滿足了研發(fā)階段對測試效率的追求。
審核編輯 黃宇
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