分享一份華為關于射頻天線匹配的設計機調試指導，做過相關的設計，覺得指導性比較強，可以供參考，也是很好的學習資料。

Chrent整體介紹

1.1 概述

華為終端模塊產品設計中， 雖然天線口與外接天線連接器 switch 都是按 50 ohm 設計的，但由于分布參數影響工藝上很難做到剛好都是 50 ohm，如果天線口與外接天線連接器 switch 的阻抗剛好能共軛匹配，將會獲得最優的射頻性能。所以在模板的天線與外接天線連接時要增加匹配網絡，避免因射頻通路上的阻抗不匹配而造成的反射和損耗，以致降低了射頻性能。

本設計指南介紹了使用終端模塊產品時， 射頻天線口匹配的設計和調試方法。

Chrent儀器說明

2.1 所用儀器

我們這里用的矢量網絡分析儀是 Agilent E5071C，當然也可選用其它型號的矢量網絡分析儀。Agilent E5071C 參數如下：

品牌：美國安捷倫 Agilent

型號：E5071C | Agilent E5071C

描述：Agilent E5071C ENA 網絡分析儀具有同類產品中最高的射頻性能和最快的速度，并具有寬頻率范圍和全面的功能。它是制造和研發工程師們測試頻率范圍在 20GHz 以內的射頻元器件和電路的理想解決方案。

Agilent E5071C ENA網絡分析儀新款20GHz選件可將E5071C ENA系列網絡分析儀的頻率范圍擴展至20GHz。新款20GHz選件支持雙端口（選件2K5）和四端口（選件4K5）兩種配置，可用于測量各種成分，例如WLAN、WiMAX、UWB或任何4G 技術中的無源器件的第三個諧波。

Agilent E5071C ENA網絡分析儀， 9kHz至8.5GHz/300kHz至 20GHz。

廣泛動態范圍：在測試端口處具有 >123dB的動態范圍(典型值)

極快測量速度：全雙端口校準時為41ms，1601點

低跡線噪聲：70kHz中頻帶寬(IFBW)處為0.004dBrms

Agilent E5071C ENA網分儀集成的S參數測試裝置

端口選項：2端口和4端口

平衡測量能力(4端口選件）

Chrent模塊天線口匹配參考原理圖

3.1 模塊天線口匹配參考原理圖

華為模塊天線口匹配參考原理圖如下圖所示：

圖3-1 華為模塊天線口匹配參考原理圖

說明

匹配網絡為 C1、 L1 和 C2 構成的∏型匹配， C3 為隔直電容。

匹配網絡在布局放置時最好能靠近模塊的天線焊盤。而從模塊的天線焊盤到天線（ 或天線SWITCH） 的走線總長度盡量短。

匹配網絡中電容電感符號只是示意圖， C1， L1 和 C2 的值要通過阻抗匹配調試來確定， 既可能是電容也可能是電感，當然也可能不用焊上器件（ NC）。

Chrent天線口匹配調試

4.1 天線口匹配網絡模型和網絡參數

常見的二端口網絡如下圖所示：

圖4-1 常見的二端口網絡

a1 和 b1 分別為輸入端口的入射波和出射波；

a2 和 b2 分別為輸出端口的入射波和出射波；

Sij 表示網絡散射參數的各個分量，其中 Sii 表示當所有其它端口接匹配負載時端口 i 的反射系數， Sij 表示當所有其它端口接匹配負載時從端口 j 到端口 i 的傳輸系數。

我們的天線口匹配就是如圖 4-1 所示的一個二端口網絡，而且具有互易性，即S12 = S21。

4.2 天線口匹配調試

調試時，要先設定矢量網絡分析儀的測試頻率范圍，顯示模式用 smith（R+jX），然后用校準件進行校準， 最后在 ANT PAD 端口焊開口電纜， ANT 接 50 ohm 射頻匹配負載，用矢量網絡分析儀調試 C1， L1 和 C2 ，使 S11 參數在所用頻帶內收斂于 SMITH圓圖圓心（50 ohm）處， 越收斂越好， 如圖 4-2 所示。

圖4-2 模塊天線口匹配 S11 圓圖

將 S11 參數在所用頻帶內收斂于 SMITH 圓圖圓心（50 ohm）后，匹配已調試完畢，此時測量所用頻點的 S12 值，作為線損補償。測量 S12 時，顯示模式最好選用幅值的對數模式 Log Mag 來讀值，如圖 4-3 所示。一般情況下選所用頻帶的中信道頻點的S12 值作為插損。

圖4-3 模塊天線口匹配補償值測量

把 Marker 功能打開， 在圖 4-3 的左上方可以讀得各 marker 點的 S12 值，其表示這段線路的插損，理論上其絕對值越小越好。