可控硅（Silicon Controlled Rectifier，簡稱SCR），也稱為晶閘管，是一種大功率電器元件，廣泛應用于電力電子控制系統中。其性能的好壞直接影響到整個電路的穩定性和效率。

一、了解可控硅的基本結構與極性

在開始測量之前，首先需要了解可控硅的基本結構和極性。可控硅一般由陽極（A）、陰極（K）和柵極（G）三個電極組成。其極性根據封裝形式的不同而有所區別：

• 螺栓型可控硅 ：螺栓端為陽極（A），較細的引線端為柵極（G），較粗的引線端為陰極（K）。
• 扁平可控硅 ：引線端為柵極（G），扁平端為陽極（A），另一端為陰極（K）。
• 金屬封裝可控硅（T0-3） ：外殼為陽極（A）。
• 塑料封裝可控硅（T0-220） ：中間引腳為陽極（A），多與自身散熱片相連。
• 塑封式MCR100系列可控硅 ：正對文字，從左至右依次為陰極（K）、柵極（G）、陽極（A）。

二、根據封裝形式初步判斷極性

對于封裝形式明確的可控硅，可以直接通過外觀判斷其極性。然而，當封裝標識模糊或無法直觀判斷時，則需要進一步通過萬用表測量來確定。

三、使用萬用表測量可控硅的極性

1. 準備工具 ：數字萬用表或模擬萬用表，確保萬用表處于正常工作狀態。
2. 設置萬用表 ：將萬用表設置為電阻測試功能，一般選擇R×100或R×1kΩ檔位。
3. 測量步驟 ：
   • 測量A和K引腳 ：用黑色表筆接可控硅的一個引腳（假設為A），紅色表筆依次接觸另外兩個引腳。如果測量結果中，有一個電阻值接近無窮大（∞），另一個電阻值較小（幾百歐姆至幾千歐姆），則黑色表筆連接的引腳為陽極（A），紅色表筆在較小電阻值時接觸的引腳為陰極（K）。
   • 測量A和G引腳 ：重復上述步驟，但將紅色表筆接觸柵極（G）。良好的可控硅在A和G之間應呈現高電阻（兆歐級）。
   • 測量G和K引腳 ：最后，用黑色表筆接柵極（G），紅色表筆接陰極（K）。良好的可控硅在G和K之間應呈現低電阻（幾十至幾百歐姆）。

四、測量可控硅的好壞

在確定了可控硅的極性后，接下來通過測量其電阻值來判斷其好壞。

1. 測量A和K引腳 ：
   • 將黑色表筆接陽極（A），紅色表筆接陰極（K）。好的可控硅在未觸發時，應呈現高電阻（兆歐級）。
   • 切換表筆，再次測量，結果應相同。
2. 測量A和G引腳 ：
   • 將黑色表筆接陽極（A），紅色表筆接柵極（G）。好的可控硅在A和G之間應呈現高電阻（兆歐級）。
   • 切換表筆，再次測量，結果應相同。
3. 測量G和K引腳 ：
   • 將黑色表筆接柵極（G），紅色表筆接陰極（K）。好的可控硅在G和K之間應呈現低電阻（幾十至幾百歐姆）。
   • 切換表筆，再次測量，電阻值可能略有增加，但應保持在較低范圍。