50G突發誤碼分析儀

rBT3250是專門針對下一代25G/50G無源光網絡(PON)應用的光線路終端(OLT)測試新型突發誤碼分析儀，用于評估突發模式下的25G及50G OLT接收機性能。

rBT3250提供2個獨立的突發碼型發生器和誤碼探測器通道，支持連續模式或突發模式誤碼分析，具有兩路突發時分碼型序列產生和誤碼分析能力，碼型時序靈活可調。并針對器件測試需求，給相應測試通道提供同步的激光器使能、復位信號等低速控制通道。產品內置時鐘恢復，可以自動測距，輕松應對長纖測試。

50GPON模塊測試

(a)

(b)

如圖a所示，搭建50G PON突發測試環境，主要由兩個ONU模塊和一個OLT模塊組成。突發誤碼測試儀兩個突發通道PPG時分交替發送具備突發幀結構的數據（preamble & Data）及激光器使能信號（enable），使兩個ONU模塊交替發送突發數據，分別經過衰減器，模擬不同長度光纖上的功率衰減，經過分光路器合成一路光，接入OLT模塊。突發誤碼測試儀ED向OLT發送reset信號并接收突發數據，進行兩路突發誤碼比較。

如圖b所示，在雙突發測試過程中，突發誤碼測試儀通過配置兩個突發通道的突發幀長度（preamble & Data），以及衰減器的衰減量，可以充分檢測OLT模塊在接收不同光功率，不同突發數據長度時的性能。

產品優勢

01，支持突發和連續模式信號輸出及誤碼測試：

支持2路突發時序可配置的碼型發生器通道和2路突發誤碼測試通道

02，突發模式支持速率：

24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps

03，支持2路同步的ONU激光器使能控制通道誤碼測試通道：

控制電平是LVTTL 3.3V不需外接電平轉換。

04，支持2路雙復位控制通道：

復位位置可調，復位寬度可調

主要應用

01，50G PON OLT模塊研發及生產測試

02，突發線性TIA芯片測試：

需要驗證突發信號情況下TIA(跨阻放大器)的器件的工作狀態

03，對碼型時序有特殊要求的一些場合

04，多通道信號輸出,多路信號碼型同步、時延同步

05，SDI碼型或者成幀信號產生及誤碼探測

技術指標

關于聯訊

聯訊儀器是國內高端測試儀器和設備供應商。主要專注于高速通信、光芯片、電芯片和第三代半導體功率芯片等測試儀表和設備的研發制造。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網絡流量測試儀、高精度快速波長計、精密數字源表、低泄漏矩陣開關等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE、半導體激光器CoC老化、裸Die芯片測試、硅光晶圓測試、SiC晶圓老化、SiC裸Die功率芯片KGD測試分選、WAT晶圓允收測試系統、WLR/PLR可靠性測試系統等高端測試設備。