寬禁帶半導體作為第三代半導體功率器件，在電源處理器中充當了越來越重要的角色。其具有能量密度高、工作頻率高、操作溫度高等先天優勢，成為各種電源或電源模塊的首選。而其中功率半導體上下管雙脈沖測試，成為動態參數測試的最經典評估項目。

那么，何為雙脈沖測試呢？

顧名思義，雙脈沖測試就是給功率半導體器件兩個脈沖作為驅動控制信號，第一個脈沖相對較寬，以獲得一定的電流。同時第一個脈沖的下降沿作為關斷過程的觀測時刻，而第二個脈沖的上升沿則作為開通過程的觀測時刻。用這兩個脈沖的輸出信號來評估兩個功率管的動態指標：

通常開關電源都需要進行上、下管測試，其經典的雙脈沖測試示意圖是這樣的：

上、下管的測試要求不同。上管的Vds測試要求共模抑制比要高，因此需盡量采用共模抑制比較高的探頭（優選光電隔離探頭）來進行，而電流的測量由于通常需要穿板進行，因此會選用柔性探頭（如羅氏線圈）來進行。下管測試相對來說比較容易實現，選用低噪聲的單端探頭就能進行電壓測量，電流探頭也可以采用帶寬更高的電流探頭來配合使用。而圖中需要并聯的大電感，也需要配合在上管測試的時候與下管并聯，反之對調。

通常，雙脈沖測試有專門的設備來進行，配合測試夾具、自動化測試軟件、儀器和探頭，但是這套裝置投資成本高，對研發工程師來說，未必是最佳的選擇。在日常測試中， 我們用EXR示波器配合任意波發生器，選配電源與信號完整性分析軟件就可以輕松的完成。EXR系列示波器高達6GHz帶寬，16GS/s采樣率，1.6G存儲深度，多種屏幕顯示與多種自動測量功能，應用軟件的組合，將為測試如虎添翼。電源工程師只要專心做好電路的設計工作，在進行第三代半導體電源器件的動態雙脈沖測試時雙管齊下，無需再操心測量的問題。

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