無狹縫平場 XUV 光譜儀和光束分析儀
特點：
● 光源直接成像
● 1-200nm 平場光譜儀
● 無狹縫設計提供高效率: 沒有對對準敏感的入射狹縫
● ~20倍于常規光譜儀的光線收集能力，并成比例的提高信噪比
高精度/高效率
● 光柵絕對位置監測確保光柵準直
● 高效率像差校正平場光柵
● 集成波束分析儀
● 雙雜光濾波片
● 便捷的軟件控制
可定制
● 每套光譜儀完美匹配客戶特殊應用
● 實驗室設備對接接口
● 特定的設備尺寸
● 用戶自定義過濾器安裝件
信號增強樣本測試結果，在相同的光源強度下，maxLIGHT (實線)的分辨率明顯高于標準光譜儀(虛線)。在相同的分辨率下，標準光譜儀需要加載細小的狹縫，這樣會明顯降低信號強度。而無狹縫技術能同時提高信號分辨率和強度。(data courtesy of Prof. C. Hauri, Paul Scherrer Inst.)
maxLIGHT高分辨率樣品測試結果，該高次諧波信號是由單個飛秒脈沖與固體目標作用后濾波得到的，而諧波產生過程中的內在子結構被XUV光譜儀清晰的記錄下來。Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)
規格參數：
審核編輯 黃宇
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