本文回顧了過去的封裝技術(shù)、介紹了三維集成這種新型封裝技術(shù),以及TGV工藝。
一、半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展趨勢
以集成電路芯片為代表的微電子技術(shù)不僅在信息社會(huì)的發(fā)展歷程中起到了關(guān)鍵性作用,也在5G通信、人工智能等前沿科技領(lǐng)域和無人駕駛、物聯(lián)網(wǎng)等新興應(yīng)用領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。
電子元器件逐步向著低成本、小型化、高度集成化的方向發(fā)展。這也要求集成電路技術(shù)(Integratedcircuit, IC)應(yīng)該具有更高的I/O密度和更短的線寬、線距來提高芯片集成度。
目前最前沿的光刻技術(shù)已進(jìn)入到3-5nm階段且后續(xù)尺寸縮小進(jìn)展緩慢,芯片特征尺寸開始接近物理極限。過去微電子技術(shù)的發(fā)展歷程,性能的提升很大程度上依賴于光刻技術(shù)的進(jìn)步所帶來的晶體管特征尺寸的減小。然而近年來隨著技術(shù)節(jié)點(diǎn)的不斷演進(jìn),晶體管的特征尺寸已逐漸逼近物理極限,想要繼續(xù)延續(xù)“摩爾定律”縮減特征尺寸越來越困難。
為了繼續(xù)提升集成電路性能,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)界近年來一方面繼續(xù)減小晶體管特征尺寸,通過改進(jìn)制造工藝來提升晶體管性能。
其中,鰭式場效應(yīng)管(FinFET)及其衍生技術(shù)自22nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)以來在晶體管特征尺寸的縮減中扮演了重要角色。如圖所示,相比于傳統(tǒng)平面型晶體管,F(xiàn)inFET晶體管的柵極對溝道形成了三面環(huán)繞,從而增強(qiáng)了柵電壓對溝道載流子的調(diào)控能力,減小了漏電流,提升了晶體管的電性能。
另一方面是采用新型封裝技術(shù)來提升集成電路的整體性能,例如系統(tǒng)級(jí)封裝(SiP)、三維集成(3-D integration)等通過將多層管芯(die)垂直堆疊,并使用硅通孔(TSV)實(shí)現(xiàn)管芯間的垂直互連,可大幅減小全局互連長度,從而減小延時(shí)和功耗,提升集成電路的整體性能。
接下來可以看下二維封裝到三維封裝的技術(shù)演變。
下圖是傳統(tǒng)二維封裝方式:
下圖是SIP(系統(tǒng)級(jí)封裝)方式:
下圖是三維集成封裝方式:
其中,三維集成是非常有潛力的一種新型封裝技術(shù),近年來逐漸在實(shí)際產(chǎn)品中得到應(yīng)用。
2.5D/3D先進(jìn)封裝技術(shù)是芯片系統(tǒng)關(guān)于延續(xù)摩爾定律的有效解決方案之一,該技術(shù)主要目的是通過在垂直方向上堆疊芯片以實(shí)現(xiàn)更高密度的集成。
其中,3D封裝技術(shù)與2.5D封裝技術(shù)的差別主要在于3D封裝技術(shù)是通過硅通孔(Through Silicon Via, TSV)或玻璃通孔(Through Glass Via, TGV)把所有芯片都垂直連接,而2.5D封裝技術(shù)指的是將多個(gè)芯片平鋪在中介層上,中介層上有再布線層,用于芯片間的水平互連,而中介層再通過通孔把芯片與封裝基板相連,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)多個(gè)芯片的垂直互連,這種將多種不同材質(zhì)、尺寸、功能封裝到一個(gè)系統(tǒng)內(nèi)的技術(shù)也被稱作三維異質(zhì)集成技術(shù),其中實(shí)現(xiàn)中介層互連功能的關(guān)鍵工藝則是相應(yīng)的通孔制備及孔金屬化。
2.5D封裝技術(shù)的關(guān)鍵之一是轉(zhuǎn)接板為主要構(gòu)成的中介層,目前轉(zhuǎn)接板根據(jù)材料的不同有玻璃基、硅基、有機(jī)物三種類型,其中硅基轉(zhuǎn)接板技術(shù)相對成熟,已經(jīng)在實(shí)際生產(chǎn)中實(shí)現(xiàn)應(yīng)用,然而硅基轉(zhuǎn)接板在實(shí)際應(yīng)用中存在高頻損耗高和成本昂貴等問題,因此人們開始尋找硅的替代品。
現(xiàn)在硅基轉(zhuǎn)接板最有潛力的替代者是玻璃基轉(zhuǎn)接板,玻璃基轉(zhuǎn)接板的優(yōu)勢在于它是絕緣體,高電阻不僅帶來了更低的高頻損耗以及更少的信號(hào)串?dāng)_,還可以避免制備介質(zhì)層,降低了工藝難度;其次玻璃的熱膨脹系數(shù)接近硅,這使得玻璃中介層與硅芯片構(gòu)成的系統(tǒng)有著比有機(jī)中介層更高的熱穩(wěn)定性和機(jī)械穩(wěn)定性,提高了可靠性;最后是玻璃表面光滑平整,這對于高密度布線而言是十分重要的。
二、先進(jìn)封裝技術(shù)
當(dāng)前集成電路產(chǎn)品中很可能同時(shí)使用了三維集成技術(shù)和FinFET技術(shù)。
如圖所示為當(dāng)前一種典型的三維集成技術(shù)場景——高帶寬內(nèi)存(HBM),其中多層管芯堆疊之間的垂直互連由硅通孔實(shí)現(xiàn),各層管芯的有源電路則可能是基于FinFET工藝制造。
下圖為新興的單片三維集成(monolithic 3-D integration)技術(shù),其中使用單片層間過孔來實(shí)現(xiàn)多層FinFET有源器件的互連,以實(shí)現(xiàn)更高的性能和更小的尺寸。其中,上下層Tier 之間由單片層間過孔(MIVs)實(shí)現(xiàn)互連。
由此可見,通過硅通孔實(shí)現(xiàn)垂直互連,每層管芯中的有源電路則可能是基于FinFET工藝制造,堆疊的管芯與倒裝管芯之間通過插入層實(shí)現(xiàn)互連。
此外,在以印制電路板(Printed circuit boards, PCB)為主要構(gòu)成的外界系統(tǒng)方面,提高集成度的方案是高密度互連技術(shù)(High Density Interconnection, HDI)。
這種技術(shù)通過通孔、盲孔、埋孔的共同作用實(shí)現(xiàn)多層布線以及層間互連,以此來滿足器件小型化和高度集成化的需求。
孔金屬化過程主要包括制備金屬種子層和電鍍填孔兩個(gè)部分,其中金屬種子層的作用是使不導(dǎo)電基板覆蓋一層導(dǎo)體達(dá)到導(dǎo)電效果,金屬種子層的連續(xù)性及完整性是孔導(dǎo)通兩端、實(shí)現(xiàn)電信號(hào)互連的基礎(chǔ)。
三、TGV工藝介紹
制備TGV玻璃通孔的方式很多,包括有噴砂工藝、超聲波鉆孔(ultra-sonic drilling, USD)、激光誘導(dǎo)深度刻蝕(laser induced deep etching, LIDE)等方法,其中應(yīng)用最為廣泛的是激光誘導(dǎo)深度刻蝕的方法。
激光誘導(dǎo)深度刻蝕采用的超快激光光源,超快激光加工最顯著的特征就是熱影響區(qū)域小。對于傳統(tǒng)激光而言,由于使用的激光脈沖寬度達(dá)到納秒量級(jí)甚至更長,聚焦后的光斑為微米量級(jí),因此在加工過程中,熱擴(kuò)散現(xiàn)象非常明顯,嚴(yán)重影響加工精度。而超快激光的脈沖寬度非常窄,因此當(dāng)超快激光作用在材料表面時(shí),它的短脈沖時(shí)間意味著能量密度非常高,能夠在非常短的時(shí)間內(nèi)將能量局部集中在材料表面上。由于能量密度非常高,材料瞬間被加熱到極高溫度,于是材料就被以汽相形式蒸發(fā),并且會(huì)帶走部分材料內(nèi)部的熱量,使得周圍區(qū)域的溫度變化非常小,所以周圍熱影響區(qū)域很小。
該方法采用不同頻率,不同聚焦類型的激光在玻璃上打出孔徑在1μm以下的小孔,之后在以氫氟酸為主要構(gòu)成的刻蝕液中濕法刻蝕特定時(shí)間來制備相應(yīng)大小的TGV。
該方法目前可以制備的TGV側(cè)壁垂直度和深寬比范圍廣,典型的TGV深寬比為1:10。此外,該制備方案還可以制備玻璃盲孔,經(jīng)過金屬填充后的玻璃盲孔可以實(shí)現(xiàn)信號(hào)屏蔽的功能,在特定器件上起到關(guān)鍵性作用。
TGV的金屬化主要包括有制備金屬種子層和電鍍填孔兩個(gè)部分,其中電鍍填孔主要與孔的形狀、施加電流類型以及鍍液內(nèi)的添加劑成分有著較強(qiáng)的關(guān)聯(lián)性。
制備金屬種子層則是TGV實(shí)現(xiàn)三維互連的關(guān)鍵技術(shù)之一,一方面金屬種子層是導(dǎo)電層進(jìn)行電鍍的基礎(chǔ),缺失了種子層的位置無法導(dǎo)電進(jìn)行電鍍。另一方面,因?yàn)榻涣麟姯h(huán)境下電流具有趨膚效應(yīng),大部分電流都會(huì)通過種子層進(jìn)行流通,因此一個(gè)完整連續(xù)的金屬種子層對于TGV金屬化而言十分重要的。
四、TGV金屬化工藝
金屬種子層制備方式包括物理氣相沉積(Physical vapor deposition, PVD)、化學(xué)氣相沉積(Chemical vapor deposition, CVD)、原子層沉積(Atomic layer deposition, ALD)、化學(xué)鍍(Electroless plating)等,其中最常用于TGV金屬化的是磁控濺射工藝,該工藝是PVD工藝的一種。
磁控濺射技術(shù)
典型的磁控濺射工藝需要先在基板上濺射Ti、Ta及其氮化物作為阻擋層,在阻擋電鍍的Cu擴(kuò)散至襯底的同時(shí)還作為粘附層加強(qiáng)Cu和玻璃間的結(jié)合力,這種方法在物件表面制備的薄膜均勻性好,沉積速率適中。
參考文獻(xiàn)
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(6)華金證券 走進(jìn)“芯”時(shí)代系列深度之六十七“25D、3D封裝”[C].
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