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從原理到實操:SIM卡&銀行卡芯片推力測試全解

科準測控 ? 來源:科準測控 ? 作者:科準測控 ? 2025-02-28 10:30 ? 次閱讀

在當今快速發展的電子產業中,芯片作為核心組件,其性能和質量直接決定了電子產品的整體表現和使用壽命。無論是日常通訊中不可或缺的SIM卡,還是金融交易中廣泛使用的銀行卡,芯片的焊接強度和粘接質量都是保障其穩定性和安全性的關鍵所在。因此,芯片測試不僅是確保產品質量的必要環節,更是滿足行業標準、保障用戶信任的重要手段。
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本文科準測控小編將深入探討SIM卡和銀行卡芯片推力測試的方法及設備選擇,為電子制造行業的質量把控提供參考依據。

一、測試目的

芯片測試的主要目的是評估其焊接強度和粘接質量。通過模擬實際使用中的機械應力,測試可以提前發現潛在的焊接缺陷,優化生產工藝,并確保產品在實際使用中的可靠性。對于SIM卡和銀行卡芯片而言,推力測試是評估其焊點強度和芯片粘接質量的關鍵手段。

二、工作原理

通過高精度傳感器和數據采集系統,對被測芯片施加精確的推力或拉力,并實時監測力值和位移的變化。當芯片焊點或粘接部位達到極限強度并發生破壞時,測試機會記錄下最大力值,從而評估芯片的焊接強度和粘接質量。其24Bit超高分辨率數據采集系統和高速力值采集技術,確保了測試數據的高精度和高重復性,同時配備的自動工作臺和安全設計,進一步提高了測試效率和設備使用的可靠性。

三、常用檢測設備

1、Alpha W260推拉力測試機
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1、設備介紹

Alpha W260推拉力測試機是一款專為微電子領域設計的動態測試設備,廣泛應用于半導體IC封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試以及PCBA電子組裝測試等領域。該設備支持多種測試模式,包括推力、拉力、剪切力等,能夠滿足不同封裝形式的測試需求。

A、高精度:采用24Bit超高分辨率數據采集系統,確保測試數據的高精度、高重復性和高再現性。

B、多功能:支持晶片推力、金球推力、金線拉力等多種測試。

C、操作簡便:配備搖桿操作和X、Y軸自動工作臺,提高測試效率。

D、安全設計:每個工位均設有獨立安全高度和限速,防止誤操作損壞測試針頭。

2、SIM卡與銀行卡芯片測試的應用

SIM卡和銀行卡的芯片測試主要關注焊接強度和粘接質量。Alpha W260推拉力測試機可以通過以下方式應用于這些測試:

芯片推力測試:通過施加逐漸增大的軸向推力,實時監測并記錄推力值和位移變化。當芯片達到其結構極限并發生破壞時,測試機捕捉到的最大推力值即為芯片的極限抗推力。

焊點拉力測試:用于評估焊點與基板之間的粘接強度,確保在實際使用中不會因外力而脫落。

剪切力測試:模擬芯片在實際使用中可能受到的剪切力,評估其結構的穩定性。

3、實測案例展示
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四、測試流程

1、設備與配件檢查:確保測試機及其所有配件完整且功能正常,推刀和夾具等關鍵部件已完成校準。

2、模塊安裝與電源連接:將待測試的芯片正確安裝到測試機上,連接電源并啟動設備。

3、推刀安裝與校準:根據測試需求選擇合適的推刀,并將其牢固鎖定。

4、測試夾具固定:將芯片精確放置在測試夾具中,并確保其位置正確。

5、測試參數設定:在軟件界面上輸入測試方法、傳感器選擇、測試速度等參數。

6、測試執行:在顯微鏡輔助下確認芯片和推刀的相對位置正確無誤,啟動測試程序。

7、結果分析:根據測試結果進行失效分析,判斷芯片是否符合質量標準。

以上就是小編介紹的有關于SIM卡&銀行卡芯片推力測試相關內容了,希望可以給大家帶來幫助!如果您還想了解更多關于推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關注我們,也可以給我們私信和留言,【科準測控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。

審核編輯 黃宇

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