近日，廣立微榮膺卓勝微2024年度優秀供應商稱號。這一殊榮不僅是對廣立微在半導體和汽車電子領域卓越表現的認可，也是對我們在技術創新和產品質量方面持續努力的肯定。

廣立微與卓勝微的深度合作涵蓋了多個關鍵領域，包括晶圓級電性參數測試設備、大數據分析軟件以及良率提升解決方案。廣立微憑借其先進的測試解決方案和大數據平臺，幫助卓勝微在生產過程中提高了產品良率和整體效率。

其DataExp系列產品中的智能良率和品質異常檢測系統DE-Alarm，以及整合全流程數據的DE-YMS 2.0版本，均為卓勝微的生產線提供了強有力的技術支持。

DE-YMS 提供一站式良率數據管理

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系統具有芯片全生命周期的數據管理、分析和追溯的功能，支持集成電路生產制造過程中的CP、FT、WAT、INLINE、DEFECT、封裝測試等多類型數據的智能化分析，為芯片設計公司、制造企業以及封測廠提供“一站式”良率及產線數據管理分析方案。

1、質量管理

DATAEXP-YMS具備強大的INK模塊，內置車規標準，且支持產線特數據缺陷與良率數據關聯分析，為客戶芯片質量管理提供高效支撐。

2、良率數據及產線數據管理

DATAEXP-YMS實現良率產線數據格式、數據類型的全面覆蓋。工程師可通過YMS系統，減少數據分析時間、自動生成報表，大幅提高工作效率。

3、良率數據分析

DATAEXP-YMS中Drill-Down模塊具備靈活的分析功能，且內置快捷的半導體分析模板，可以輕松將分析想法通過系統落地，更高效深入的發掘數據價值。

Alarm平臺助力全流程質量監控

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1、OSAT 數據管理難題重重

長期以來，OSAT管理與測試數據的異常監控領域面臨著諸多挑戰與痛點。其中，質量管控過度依賴人工經驗、使用分析工具碎片化、異常原因錯綜復雜等問題尤為突出。加之數據量龐大，令工程師們望而卻步，不僅極大地加重了質量管控的工作負擔，還難以徹底規避人為失誤的風險。

2、廣立微為卓勝微打造監控平臺

在嘗試對接多個OSAT以實現統一規范管控的過程中，由于人力資源有限，這一目標的實現難度更是顯著增大。經過深入的需求調研、規則對接與流程開發，廣立微為卓勝微量身打造了一套數據監控的Alarm平臺，成功構建了一個涵蓋工廠端、分析端、審批端至工廠卡控端的全方位生產數據質量監控閉環。

3、Alarm 平臺：智能精準卡控

該平臺前置的DHC（Data Health Check）模塊，能夠預先檢查測試流程中生產數據的規范性，進而對測試生產線實施有效管控。依托廣立微在良率生產分析領域二十余年的深厚積累，該平臺集成了多達30余項卡控規則。除了能夠設定如SYL/SBL/Parameter OOS等常規質量規則外，更引入了先進的AI技術，通過模擬學習歷史數據，對當前數據進行精準異常監控。在晶圓異常監控方面，該平臺更是創新性地運用了機器學習技術，對晶圓產生的特定Pattern進行精確卡控。

目前，廣立微正協助卓勝微將該平臺對接進所有測試供應商，以實現全供應商測試質量監管。

廣立微Testchip測試芯片方案

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TESTKEY

1. 通過廣立微的testkey和卓勝微CP良率之間的比對，找到較強的correlation，從而幫助其快速定位低良發生的原因。

2.廣立微技術核心在于挖掘提升數據驅動效率的方法論。以工藝開發為例， 傳統的工藝開發流程主要通過產品測試分辨失效根因，在問題溯源上方向指引性不強，容易遇到瓶頸，而廣立微的 testkey方案具備完善全面的DoE參數設計，通過不同DoE表現出的不同電性特征，可以快速推導出工藝上可能存在的問題點。

3. 為客戶的工藝優化提供合適的電性表征手段，配合客戶的Wafer split，快速實現工藝優化與調整。

晶圓級電性測試設備助力品質提升

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廣立微的WAT測試設備支持電流、電壓、電容等多項電性參數的測試，測試精度和分辨率均達到了行業領先水平。同時，其高效的測試產能和超并行測試能力，大大提高了測試效率，為卓勝微產品的品質提升提供了有力保障。

此次獲獎不僅凸顯了廣立微在行業中的卓越地位，還進一步鞏固了我們作為卓勝微關鍵合作伙伴的角色。展望未來，廣立微將繼續專注于技術創新與合作共贏，力求為客戶提供卓越的產品和服務。

杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設備供應商，公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監控技術，是國內外多家大型集成電路制造與設計企業的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設備以及與芯片成品率提升技術相結合的整套解決方案，在集成電路設計到量產的整個產品周期內實現芯片性能、成品率、穩定性的提升，成功案例覆蓋多個集成電路工藝節點。