----翻譯自G. Talli , M.J. Adams于2003年發(fā)表的論文
摘要
我們提出了一個行波半導(dǎo)體光放大器 (TW-SOA) 中放大自發(fā)輻射 (ASE) 的模型。所提出的模型考慮了整個 ASE 頻譜的傳播,還考慮了信號和 ASE 引起的飽和效應(yīng)。使用擬合到測量值的參數(shù),該模型可以準(zhǔn)確地在真實器件上測試重現(xiàn)。該模型可以仿真線性和飽和狀態(tài)下 SOA 的 ASE 譜。當(dāng) SOA 飽和時,該模型還用于仿真 ASE 光譜在兩個端面上的不同形狀,結(jié)果非常接近測量值。
簡介
行波半導(dǎo)體光放大器 (TW-SOA) 可能是下一代光網(wǎng)絡(luò)的關(guān)鍵組件之一,由于其強大的非線性性,它們既可以用作線性放大器,也可以用于開關(guān)和波長轉(zhuǎn)換應(yīng)用。
盡管如此,文獻中很少關(guān)注放大自發(fā)輻射 (ASE) 的建模及其效應(yīng)。解釋 ASE 效應(yīng)的最常見和最簡單的解決方案是,如果 SOA 中傳播多個波長,則只考慮信號或信號波長處的 ASE [1?6]。
這種方法雖然簡單,但也存在一些限制其有效性的基本問題。首先是確定自發(fā)輻射耦合系數(shù)β的值,盡管對于腔體結(jié)構(gòu)已有既定的解決方案,但無法將它們應(yīng)用于行波放大器,因為無法定義縱向模式,文獻 [1–6] 中給出的β值范圍為 5×10-5到 7.5×10-3。此外,這種建模方法沒有提供關(guān)于ASE光譜分布的信息 ,尤其是在波分復(fù)用 (WDM) 環(huán)境中。
解釋 ASE 光譜依賴性的模型可以在 [7–9] 中找到,但是,這些參考資料中使用的增益和自發(fā)輻射模型完全是理論上的。這種方法可用于估算器件特性,但不太適合對實際器件進行精確建模。
在接下來的部分中,我們將介紹一個考慮了ASE的SOA模型,以及一個基于實際器件測量結(jié)果的模型參數(shù)擬合過程。在第 2 節(jié)中,我們將簡要描述開發(fā)的模型。在第 3 節(jié)中,將概述對實際SOA 進行的測量和擬合過程。在第4節(jié)中,我們將展示數(shù)值模型的結(jié)果,并將其與實驗結(jié)果進行比較。此外,我們還將模擬SOA飽和時兩個器件端面的ASE光譜差異,并將其與測量結(jié)果進行比較。
2. 模型
我們用于模擬考慮ASE影響的TW-SOA的數(shù)值模型與文獻[9,8]中提出的模型相似。ASE 功率譜將分別由功率譜密度 Wsp+和 Wsp-(正向和反向傳播 ASE)來描述。在本文中,功率譜密度將根據(jù)波長定義,因此使用的單位將是 W/nm。因此,前向和后向 ASE 的傳播方程將為:
其中 g?是波長 λ?和載流子濃度 n?的模態(tài)增益函數(shù),α?是波導(dǎo)損耗,ρsp?是耦合到波導(dǎo)中的輻射復(fù)合光譜密度,單位為 m-1,h?是普朗克常數(shù),c?是光速,ρsp?之前的因子2?表示自發(fā)輻射的兩個偏振態(tài)。
由 ASE 引起的受激復(fù)合可以在載流子濃度的速率方程中解釋為:
其中 I是偏置電流,ηI是有源區(qū)載流子的注入效率,V是有源區(qū)的體積,R(n)是總復(fù)合速率,σ是有源區(qū)的橫截面,q是電子電荷。
總復(fù)合率通常表示為 [10]:
其中右側(cè)的第一項是由于材料缺陷引起的復(fù)合項,第二項是雙分子輻射復(fù)合,最后一項是由于俄歇復(fù)合。
對于模態(tài)增益,我們使用了擬合拋物線模型 [11]:
其中 n0為模型透明載流子濃度,λgap為模型帶隙波長,a1為增益系數(shù),Cv為與模態(tài)增益帶寬相關(guān)的參數(shù)。
為了對 ρsp進行建模,我們使用從測量中獲得的數(shù)據(jù)的插值,下節(jié)描述了獲取過程。
與 [9] 中一樣,為了對模型進行數(shù)值求解,我們使用了分段方法。每段的載流子濃度被視為常數(shù),因此可以為每段編寫一個單一的速率方程。在速率方程中,信號功率和 ASE 功率密度在段長度上的平均值將用于評估受激復(fù)合。
為了求解該段的速率方程,我們使用了標(biāo)準(zhǔn)常微分方程 (ODE) 求解器來計算載流子濃度隨時間的變化。由于仿真處于連續(xù)波狀態(tài),因此會一直計算載流子濃度,直到它穩(wěn)定到穩(wěn)態(tài)值。
3. 模型參數(shù)的測量和擬合
上述SOA的數(shù)值模型已經(jīng)與真實器件的特性相吻合。所使用的SOA是康寧研究中心提供的多量子阱偏振不敏感TW SOA,其有源區(qū)結(jié)構(gòu)類似于[12]中的器件。
為了表征器件在線性區(qū)域的特性,我們使用圖 1 中的測試環(huán)境測量了在不同偏置電流下器件增益與波長的對應(yīng)關(guān)系。輸入光源我們使用可調(diào)諧激光器,輸入功率設(shè)置小到可忽略飽和效應(yīng)。輸入信號光功率使用光功率計測量,而輸出光功率使用光譜分析儀 (OSA) 測量。對于每個偏置電流,我們使用 OSA 測量了器件輸出端的 ASE 頻譜。
圖 1.用于 SOA 的特性測量的設(shè)置
飽和效應(yīng)的表征是使用相同的測試設(shè)置進行的,但波長固定在 1550 nm,并測量了隨偏置電流和輸入信號功率的變化。同樣,在這種情況下,也測量了器件增益和端面的ASE光譜。器件的幾何參數(shù)以及用于仿真的復(fù)合系數(shù)值可在表 1 中找到。為了擬合器件的飽和特性,波導(dǎo)損耗 α 和注入效率 ηI分別被設(shè)置為被設(shè)置為50 cm-1和80%。
如上所述,增益參數(shù)和 ρsp是根據(jù)測量值計算得出的。首先計算 ρsp ,求解方程 (1),考慮由長度為 L 的單段形成的器件、恒定的載流子濃度和沒有 ASE 進入器件的邊界條件,我們可以計算器件端面處的 ASE:
其中 L 為器件的長度。在相同的均勻載流子濃度假設(shè)下,我們可以輕松地從器件增益的測量值中計算出模態(tài)增益。這一假設(shè)之所以合理,是因為SOA處于線性區(qū)域,因此載流子濃度沿長度的變化是有限的,并且可以用平均值來解釋。
使用我們計算的模態(tài)增益,很容易從端面的 ASE 頻譜測量值中計算出 ρsp ,如下所示 由于 ASE 測量的波長分辨率比增益光譜的分辨率更精細,為了求解上述的方程,我們使用波長的簡單拋物線函數(shù)對每個測量電流的增益進行建模。
載流子濃度恒定的假設(shè)允許我們?yōu)檎麄€器件編寫一個簡單的速率方程
當(dāng)輸入信號引起的飽和可以忽略不計時,右側(cè)的積分項代表了 ASE 引起的載流子耗盡,是沿放大器長度平均的 ASE 頻譜,可以從方程 (1) 開始推導(dǎo)出來。求解測量偏置電流的速率方程,我們能夠評估器件內(nèi)部的載流子濃度。
一旦推導(dǎo)出了與每個測量偏置電流相對應(yīng)的載流子濃度,就可以使用最小二乘最小化算法,將方程 (4) 描述的模型的增益參數(shù)擬合到模態(tài)增益測量中。擬合后,我們可以使用方程 (4) 的增益模型重新計算方程 (6) 中的ρsp。現(xiàn)在可以迭代應(yīng)用該過程,優(yōu)化載流子濃度計算和增益參數(shù)的擬合。然而,對于目前的測量,由于獲得了良好的收斂性,該算法在第二次迭代時停止。
4. 仿真結(jié)果
使用表 1 中的參數(shù)和 ρsp的計算值,我們仿真了 ASE 光譜和偏置電流的函數(shù)。在以下所有仿真中,該器件分為八個段。這個段數(shù)量使我們能夠從仿真中獲得準(zhǔn)確的結(jié)果,同時具有較短的仿真時間 [9]。
在圖 2 中,我們給出了偏置電流從 50 mA 到 80 mA ,步長為 10 mA下的模型結(jié)果(點)與測量光譜(實線)的比較。由于 ρsp模型是根據(jù)這些測量值計算的,因此ASE 的仿真結(jié)果與測量值顯示出非常好的一致性。
開發(fā)的模型還能夠仿真器件的飽和效應(yīng)。圖 3 顯示了偏置電流為 60、70 和 80 mA 以及信號波長為 1550 nm 的 SOA 增益特性的仿真結(jié)果(線)與測量值(點)的比較。建模的增益特性與所有三種電流的測量值都具有良好的一致性。
圖 4 顯示了 SOA 在偏置電流為 70 mA時的仿真 ASE 光譜,無輸入信號(點),在 輸入波長為1550 nm 功率為-10 dBm(三角形)和 -3 dBm(方形)時的飽和信號,與相同條件下的測量光譜(實線)的對比。同樣,對于飽和的ASE 光譜,我們可以看到與測量結(jié)果的良好一致性,盡管擬合是在線性情況下的測量進行的,這證明了模型的有效性。
圖2. 康寧SOA在不同偏置電流下的 ASE 光譜:仿真(點)和測量(實線)
圖3.康寧 SOA 在 1550 nm 波長輸入信號下不同偏置電流下的增益飽和特性
圖4. 在偏置電流為 70 mA,1550nm的輸入光,無輸入功率(點)、-10 dBm輸入(三角形)和 -3 dBm輸入(方形)時的 SOA 輸出光譜。
圖 5.在 -3 dBm 的輸入光和 70 mA 偏置電流下,正向(實線)和反向(虛線)的測量的輸出光譜。
圖 6.在 -3 dBm 的輸入功率和 70 mA 偏置電流下,計算的正向(實線)和反向(虛線)ASE 光譜。
與高飽和 SOA 長度沿線的載流子濃度差異相關(guān)的一個有趣效應(yīng)是 SOA 兩個端面上 ASE 譜圖的形狀不同。對于使用反向傳播光束配置進行全光開關(guān)或波長轉(zhuǎn)換的系統(tǒng),兩個端面的 ASE 形狀的這種差異可能特別重要。這種飽和度效應(yīng)已經(jīng)在 [13] 中進行了實驗觀察。盡管如此,據(jù)我們所知,這種效果從未被 SOA 模型復(fù)制過。
圖 5 顯示了在 1550 nm 處輸入信號為 -3 dBm 且偏置電流為 70 mA 時,在器件正向(實線)和反向(虛線)測得的 ASE 光譜。可以看出,即使對于相對較低的偏置電流,兩個光譜之間的差異也非常明顯。
相同條件下的建模結(jié)果如圖 6 所示。所提出的模型不僅能夠仿真這種效應(yīng),而且建模的光譜和測得的光譜也非常一致。
5. 結(jié)論
我們描述了一個解釋 ASE 光譜特性的 TW SOA 模型。我們還概述了一個仿真過程,用于將模型參數(shù)擬合到真實器件上的測量值,模型的仿真結(jié)果與測量結(jié)果非常吻合。特別是,當(dāng)器件處于飽和狀態(tài)時, SOA 兩個端面的 ASE 光譜差異也被成功仿真,與測量值幾乎完全一致。
注:本文由天津見合八方光電科技有限公司挑選并翻譯,旨在推廣和分享相關(guān)半導(dǎo)體光放大器如1550nm、1310nm等全波段SOA基礎(chǔ)知識,助力SOA技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用。特此告知,本文系經(jīng)過人工翻譯而成,雖本公司盡最大努力保證翻譯準(zhǔn)確性,但不排除存在誤差、遺漏或語義解讀導(dǎo)致的不完全準(zhǔn)確性,建議讀者閱讀原文或?qū)φ臻喿x,也歡迎指出錯誤,共同進步。
天津見合八方光電科技有限公司,是一家專注半導(dǎo)體光放大器SOA研發(fā)和生產(chǎn)的高科技企業(yè),目前已推出多款半導(dǎo)體光放大器SOA產(chǎn)品(1060nm, 1310nm, 1550nm),公司已建立了萬級超凈間實驗室,擁有較為全面的光芯片的生產(chǎn)加工、測試和封裝設(shè)備,并具有光芯片的混合集成微封裝能力。目前公司正在進行小型SOA器件、DFB+SOA的混合集成器件、可見光波長SOA器件、大功率SOA器件的研發(fā)工作,并可對外承接各種光電器件測試、封裝和加工服務(wù)。
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原文標(biāo)題:TW-SOA中的ASE:建模和實驗
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