芯片功耗特性包含動態功耗、靜態功耗及特定場景功耗三類,需依據應用場景需求進行多層級協同設計,實現性能與能效的合理分配。具體技術指標如下:
一、功耗構成分析?
動態功耗?
開關功耗?:邏輯單元狀態翻轉時負載電容充放電產生的能耗
短路功耗?:輸入信號跳變過程中NMOS/PMOS瞬時導通形成的直通電流,與信號邊沿速率和負載電容相關
靜態功耗?
晶體管關斷狀態下的漏電流來源:
亞閾值漏電流(弱反型層導通)
柵氧化層隧穿電流
PN結反偏漏電流
柵極誘導漏極泄漏電流
特殊場景功耗?
浪涌電流?:電路初始化階段的瞬時電流峰值
待機功耗?:低功耗模式下維持基礎功能的漏電流與模塊保活功耗
溫度影響?:溫度每升高10°C,亞閾值漏電流約增加一倍,同時影響晶體管開關響應
二、低功耗設計方法?
架構設計層?
電源門控?:切斷閑置功能模塊的供電網絡
動態調壓調頻?:基于實時負載調整工作電壓與時鐘頻率
電路設計層?
多閾值器件組合?:混合使用不同閾值電壓的晶體管
時鐘門控?:阻斷非活躍電路單元的時鐘信號傳輸
工藝實現層?
高K介質與FinFET?:通過三維晶體管結構與高介電常數材料抑制漏電流
三、應用場景特性對比?
應用場景 | 動態功耗比例 | 靜態功耗比例 | 核心優化策略 |
高性能計算 | 70%-90% | 10%-30% |
動態電壓調節、算法并行化 |
移動設備休眠 | <5%? | >95% | 模塊級斷電、漏電流補償電路 |
物聯網傳感節點 | 30%-60% | 40%-70% | 近閾值電壓操作、事件觸發喚醒 |
審核編輯 黃宇
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低功耗
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