漏極電流(Id)
漏極電流是指在特定柵極電壓(Vgs)和漏極電壓(Vds)下,通過晶體管的電流。它是衡量晶體管導通能力的重要參數。
閾值電壓(Vth)
閾值電壓是指使晶體管開始導通的柵極電壓。對于MOSFET,當Vgs達到Vth時,溝道開始形成,漏極電流開始顯著增加。
導通電阻(Ron)
導通電阻是指在晶體管完全導通時,漏極和源極之間的電阻。它直接影響晶體管的功耗和效率。
跨導(gm)
跨導是指漏極電流隨柵極電壓變化的比率,通常表示為gm = ΔId / ΔVgs??鐚г礁?,晶體管的放大能力越強。
輸出電導(gds)
輸出電導是指漏極電流隨漏極電壓變化的比率,通常表示為gds = ΔId / ΔVds。它反映了晶體管輸出端的電阻特性。
飽和電流(Idss)
飽和電流是指在特定柵極電壓下,漏極電壓增加到一定程度后,漏極電流不再顯著增加的值。它通常用于描述JFET和耗盡型MOSFET的特性。
擊穿電壓(BV)
擊穿電壓是指晶體管在反向偏置下,能夠承受的最大電壓。超過此電壓,晶體管可能會發生擊穿,導致器件損壞。
漏電流(Ioff)
漏電流是指在晶體管關閉狀態下,通過漏極和源極的微小電流。它是衡量晶體管關斷特性的重要參數。
柵極電容(Cgs, Cgd, Cds)
柵極電容包括柵源電容(Cgs)、柵漏電容(Cgd)和漏源電容(Cds)。這些電容影響晶體管的開關速度和頻率響應。
體效應參數(γ)
體效應參數描述了體電壓對閾值電壓的影響。在MOSFET中,體效應會導致閾值電壓隨體電壓的變化而變化。
這些參數共同決定了半導體器件在電路中的表現,是設計和優化電子電路的重要依據。
審核編輯 黃宇
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