半導體生產的高精度高低溫測試設備,憑借其技術性能和廣泛的應用場景,已成為5G通訊、航空航天、芯片制造等高科技領域可靠性測試的控溫工具
一、技術突破:構建嚴苛溫度環境下的準確控制
半導體高精度高低溫測試設備基于模塊化設計理念,集成制冷、加熱、循環于一體,支持-115℃至250℃寬域溫控,控溫精度達±0.1℃。
1、超寬溫度范圍與高精度控制
設備支持-115℃至250℃的控溫范圍,部分型號溫度波動控制在±0.1℃以內,滿足半導體器件在嚴苛低溫和高溫下的測試需求。
2、快速溫變與熱沖擊模擬
通過射流式高低溫沖擊技術,設備能在10分鐘內完成從-55℃到150℃的劇烈溫度變化,模擬產品在實際使用中可能遭遇的熱沖擊。這種能力對于測試光模塊、電池包等產品的熱穩定性至關重要。
3、多參數耦合與自動化測試
高精度高低溫測試設備可集成濕度、氣壓等參數,模擬復雜環境下的綜合應力。配合PC遠程控制和自動故障診斷功能,大幅縮短研發周期。
4、變頻與穩定性設計
高精度高低溫測試設備采用全密閉循環系統和變頻技術,能耗降低以上,同時延長設備壽命。

二、行業應用:賦能多領域可靠性測試解決方案
1、射頻模塊熱穩定性驗證
模擬-40℃~125℃嚴苛溫度循環,測試芯片的信號完整性,控溫精度±0.1℃,確保射頻功率放大器增益波動。
2、多通道協同測試
支持多通道并行溫控,每個通道獨立設定溫度,驗證天線陣列的相位一致性,測試效率提升。
(二)光模塊可靠性驗證
1、三溫循環測試(-40℃~85℃)
針對光模塊,執行多次溫度沖擊,監測光功率漂移與誤碼率。
2、高溫老化壽命評估
在高溫環境下持續測試,評估光模塊封裝材料的耐濕熱性能,冠亞設備通過接口直連實時上傳數據至平臺。
(三)集成電路與芯片測試
1、封裝級熱失效分析
高精度高低溫測試設備模擬芯片在嚴苛溫度下的熱膨脹系數匹配度,在-55℃~150℃范圍內模擬芯片瞬時功耗,通過導熱油循環快速導出熱量。
2、芯片制造與封裝
在芯片封裝階段,設備模擬-55℃至150℃環境,測試熱應力下的性能衰減。其AI循環風控制系統通過±0.2℃的精度控制,助力先進制程的良率提升。
(四)航空航天與天文探測設備
1、深空探測器熱循環測試
模擬嚴苛溫差,測試航天器電路板的結構完整性。
2、衛星電源模塊高低溫循環
執行-55℃~105℃循環測試,驗證鋰離子電池組在軌溫度適應性,溫控系統集成過壓/欠壓保護功能。
(五)新能源電池與氫燃料電池
1、電池包熱失控防護測試
在-30℃~85℃環境下模擬電池模組熱擴散過程,通過多點溫度監測(±0.5℃精度)評估BMS溫控策略有效性,冠亞設備支持多通道同步觸發報警。
2、PEM電解槽低溫啟動驗證
測試氫燃料電池在-40℃冷啟動性能,控溫系統調節冷卻液流量,確保膜電在低溫下離子傳導率。

三、應用對象:多領域目標應用領域解析:
1、5G通訊&光模塊:
測試基站芯片、光器件、收發模塊等在高溫、低溫及溫度循環下的性能穩定性和可靠性。溫度是影響信號完整性和器件壽命的關鍵因素。
2、集成電路&芯片:
進行晶圓級、封裝級、芯片級的溫度特性測試(如參數測試、功能測試)、老化測試(Burn-in)、失效分析、可靠性驗證(HTOL,LTOL等)。高精度溫控對芯片性能評估至關重要。
3、航空航天:
驗證電子設備、傳感器、材料等在太空嚴苛低溫環境或發動機艙高溫環境下的性能和耐受能力。
4、天文探測:
模擬深空超低溫環境,測試探測器、光學儀器等敏感設備的性能。
5、電池包:
測試動力電池、儲能電池在不同溫度下的充放電性能、容量、內阻、壽命、安全特性(如熱失控)等。溫度是電池性能和安全的決定性因素之一。
6、氫能源:
測試燃料電池堆、關鍵部件在低溫啟動、高溫運行以及溫度循環工況下的性能和耐久性。
半導體高精度高低溫測試設備憑借其溫控性能與智能化管理能力,通過持續技術創新與行業場景深度適配,提供整套溫度環境測試解決方案,用于產品研發、質量驗證及可靠性評估中的溫度循環、高低溫沖擊、恒溫老化等關鍵測試。
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