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• 上傳了資料 2023-10-26 10:51

  WD4000無圖晶圓檢測機：助力半導體行業高效生產的利器

  半導體晶圓 晶圓 表面檢測

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• 發布了方案 2023-10-26 10:47

  白光干涉儀(光學輪廓儀)：揭秘測量坑的形貌的利器！

  

  SuperViewW1白光干涉儀結合數字圖像處理技術和三維重建算法來提高測量的精度和效率，揭秘并測量坑的形貌，為科學研究和工程實踐提供更有力的支持。

  光學 器件 測量 白光干涉儀 表面輪廓儀

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• 發布了產品 2023-10-25 13:42

  一鍵快速影像測量儀

  

  產品型號：VX8000系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2023-10-25 13:37

  探針式臺階輪廓儀

  

  產品型號：CP200 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了文章 2023-10-25 13:31

  WD4000無圖晶圓檢測機：助力半導體行業高效生產的利器

  

  WD4000無圖晶圓檢測機集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組，非接觸厚度、三維維納形貌一體測量，使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測量，助力半導體行業高效生產！

  半導體 半導體晶圓 晶圓 檢測機

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• 發布了文章 2023-10-25 13:29

  臺階儀和輪廓儀區別是什么？

  

  臺階儀和輪廓儀在工業制造領域的區別和應用領域解析測量和檢測是工業制造領域的重要環節，而臺階儀和輪廓儀則是各有其特點和應用范圍的兩種儀器。臺階儀和輪廓儀區別在哪？一、臺階儀1、產品概述臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器。它是利用光學干涉原理，對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。2、產品特點臺階儀在工業生產中，常用來保證產

  儀器 工業 測量儀器 表面輪廓儀

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• 發布了文章 2023-10-24 16:28

  一鍵式影像測量儀能測出什么？

  

  尺寸較小的產品及零部件需要批量測量時，一鍵式影像測量儀則是一個很好的選擇。一鍵式影像測量儀為企業打開了高精度、高效率測量的大門，并很大限度地為客戶簡化了測量過程。

  儀器 影像 測量儀

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• 發布了文章 2023-10-24 09:42

  一種晶圓表面形貌測量方法-WD4000

  

  WD4000無圖晶圓幾何量測系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等參數，同時生成Mapping圖；2、采用白光干涉測量技術對Wafer表面進行非接觸式掃描同時建立表面3D層析圖像，顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖，高效分析表

  半導體 晶圓 測量

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• 發布了產品 2023-10-23 11:17

  三坐標測量設備

  

  產品型號：Mars575 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2023-10-23 11:13

  閃測影像儀

  

  產品型號：Novator系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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