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• 發布了文章 2024-06-28 08:34

  13.560MHZ晶振的作用和選型

  

  13.56mhz讀寫原理13.56mhz是非接觸性IC卡讀卡器的工作頻率。二者之間的頻率為13.56MHZ。非接觸性IC卡本身是無源卡，當讀寫器對卡進行讀寫操作時，讀寫器發出的信號由兩部分疊加組成。電源信號，該信號由卡接收后，與本身的L/C產生一個瞬間能量來供給芯片工作。指令和數據信號，指揮芯片完成數據的讀取、修改、儲存等，并返回信號給讀寫器，完成一次讀寫操

  IC卡 電源信號 讀卡器

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• 發布了文章 2024-06-20 08:33

  有源晶振和無源晶振的方向怎么區分

  

  有源晶振和無源晶振在電子應用中均發揮著重要作用，但它們在方向性方面存在顯著的差異。本文中華昕電子旨在探討如何區分有源晶振和無源晶振的方向，以幫助讀者在實際應用中更準確地選擇和使用這兩種器件。無源晶振首先，我們來了解一下無源晶振。無源晶振，也被稱為諧振器，具有無方向性的特點，沒有正負極之分。不管無源晶振為插件式還是貼片式，或有兩個腳、三個腳還是四個腳，貼片或焊

  無源晶振 有源晶振 諧振器

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• 發布了文章 2024-05-31 08:33

  有源晶振選型指南：常規有源、溫補晶振與差分晶振的比較與選擇

  

  在電子線路中，晶體振蕩器作為提供穩定時鐘信號的核心組件，其選型對于整個系統的性能和穩定性至關重要。有源晶振作為其中的一種類型，具有廣泛的應用領域。本文將分別從常規有源晶振、溫補晶振和差分晶振三個方面進行介紹，為您提供選型指南。常規有源晶振OSC常規有源晶振是一種完整的振蕩器，內部包含石英晶體、晶體管和阻容元件等。與無源晶振相比，有源晶振無需外部時鐘電路即可產

  差分晶振 有源晶振 溫補晶振

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• 發布了文章 2024-05-25 08:33

  揭秘晶振生產：精細流程打造高質量產品

  

  晶片加工高精度的切割設備將石英材料切割成預定尺寸的晶片，進行精細的研磨和腐蝕處理。研磨過程使晶片達到規定的厚度和大小，而腐蝕環節則是對晶片表面進行精細處理，以優化其性能。排片自動排片機把切割好的晶片均勻的排列到夾具中，最大限度地利用晶片的表面積，并確保晶片之間的間距和位置符合設計要求，同時為后續渡濺工序做好準備，方便渡濺時更準確，更均勻的操作。清洗自動清洗機

  切割 晶振 晶片

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• 發布了文章 2024-05-25 08:33

  國產晶振之光：華昕電子，品質與技術的完美結合

  

  華昕電子成立隨著科技的飛速發展，創新成為推動社會進步和經濟發展的重要動力。在這個充滿機遇與挑戰的時代，深圳市華昕電子有限公司（以下簡稱“華昕電子”）憑借其創新能力、高超的研發水平及高效的生產能力，給客戶提供一站式晶振技術服務，從而在頻率器件行業獲得一席之地。華昕電子成立于1996年，公司總部位于深圳龍華，自創立之初便以“專注頻率器件研產銷，致力于整體方案解決

  封裝 晶振 頻率器件

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• 發布了文章 2024-05-18 08:34

  有源晶振需要加負載電容嗎？

  

  我們要明確負載電容的概念。負載電容是指晶振的兩條引線連接IC塊內部及外部所有有效電容之和，它在電路中起到了關鍵的作用。然而，在討論有源晶振是否需要負載電容時，我們需要注意到，有源晶振與無源晶振在工作原理和應用方面有著顯著的差異。對于無源晶振來說，負載電容的選擇至關重要。因為無源晶振屬于被動元器件，需要借助外部的元器件來幫助自己工作。其負載電容需要與兩邊的電容

  有源晶振 電路 負載電容

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• 發布了文章 2024-05-18 08:34

  TES電子智能制造 CITE電子信息博覽會

  

  近期，華昕電子剛剛完成了連續兩場的展會舉辦，華昕展位迎來了國內外各行業同仁蒞臨參觀、咨詢，耳畔似乎依舊人聲鼎沸，參展人流穿梭不息。此次展會的交流、洽談精彩片段都歷歷在目，值得我們回味。此次展會中ITES電子智能制造匯集品牌終端買家926家，涉及電子及產品制造、新能源技術、家電廚衛、醫療器械等行業，到場專業觀眾25236人次。CITE電子信息博覽會匯聚海內外1

  CITE 智能制造

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• 發布了文章 2024-05-10 08:33

  晶振負性阻抗測試與計算

  

  匹配試驗項目負性阻抗負性阻抗-R也稱為發振余裕度，用于評價晶振在發振回路上的發振能力。發振余裕度不足時，會導致振蕩電路振蕩不穩定甚至啟動失效等問題。負性阻抗-R需滿足-R>(3～5)Rr，晶振電路才能穩定發振。晶振電路負性阻抗-R的測試電路原理。圖中RQ為可調電阻。具體測試方法：通過不斷增大RQ阻值，直到晶振停止振蕩，記錄此時的RQ阻值，根據測得的RQ值，可

  振蕩電路 晶振 測試

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• 發布了文章 2024-05-10 08:33

  華昕晶振驅動功率測試與計算

  

  匹配試驗項目驅動功率在晶振振蕩電路設計之前，我們通常從IC方案中獲取晶振的相關信息，包括晶振封裝、頻率、頻差、負載電容和工作電壓等。然而，在實際應用中，我們可能會遇到一些具體問題。例如，按照BOM采購晶振后，在電路板上電時，可能會出現晶振不良導致電路板顯示不上電或某些功能失效等問題。在許多方案設計中，晶振用于進行開機邏輯診斷。這意味著，如果晶振在開機時無法起

  IC 晶振 測試

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• 發布了文章 2024-05-10 08:33

  華昕晶振電路參數匹配

  

  匹配試驗項目晶體振蕩器俗稱晶振，是晶振電路的核心元器件。晶振電路用于產生時間頻率基準，為微控制器系統(MicrocontrollerUnit，MCU)提供精準的時基。在實際應用中，如果晶振電路負載參數匹配不當，一方面，可能會造成晶振電路工作頻率出現偏差，進而造成計時不準，通信不能同步；另一方面，在睡眠喚醒時，電路擾動較小，可能會導致晶振電路起振困難。無論哪種

  控制器 晶振電路 測試

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