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發布了文章 2025-06-06 17:08
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發布了文章 2025-06-06 17:02
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發布了文章 2025-05-23 16:03
晶圓隱裂檢測提高半導體行業效率
半導體行業是現代制造業的核心基石,被譽為“工業的糧食”,而晶圓是半導體制造的核心基板,其質量直接決定芯片的性能、良率和可靠性。晶圓隱裂檢測是保障半導體良率和可靠性的關鍵環節。晶圓檢測通過合理搭配工業相機與光學系統,可實現亞微米級缺陷檢測,提升半導體制造的良率和效率。SWIR相機晶圓隱裂檢測系統,使用紅外相機發揮波段長穿透性強的特性進行材質透檢捕捉內部隱裂缺陷142瀏覽量 -
發布了文章 2025-05-21 16:55
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發布了文章 2025-05-21 16:49
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發布了文章 2025-05-21 16:15
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發布了文章 2025-05-16 17:04
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發布了文章 2025-04-25 17:05
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發布了文章 2025-04-16 17:33