中圖儀器文章

• 高精度三坐標測量機怎么使用？2023-03-17 11:12

  

  高精度三坐標測量機配備高精度的導軌、測頭和控制系統，并結合計算機程序來自動控制檢測流程，從而計算輸出測量結果，支持測頭更換架以及影像相機，同時支持精密轉臺等，能夠對各種零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關系進行檢測，也可以對軟材質或復雜零件進行光學掃描測量。中圖儀器Mars系列高精度三坐標測量機將零部件置于三坐標測量機的測量空間，即可獲得各測點的坐標位置，測量

  測量機 高精度 2050瀏覽量

• 共聚焦顯微測量的原理及方法2023-03-16 13:55

  

  共聚焦顯微鏡是激光共聚焦掃描顯微鏡LCSM的簡稱，它顯微成像主要采用3D捕獲的成像技術，使其具有較高的三維圖像分辨率。這些都是通過構建顯微照片來實現的。共聚焦顯微鏡成像原理共焦顯微鏡裝置是在被測對象焦平面的共軛面上放置兩個小孔，其中一個放在光源前面，另一個放在探測器前面，如圖所示。共焦顯微鏡光路示意圖得到的圖像是來自一個焦平面的光通過針孔數碼相機聚焦拍攝，通

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• 滾動軸承，您了解多少？2023-03-15 15:45

  

  滾動軸承組成、分類滾動軸承一般由內圈、外圈、滾動體和保持架組成。對于密封軸承，再加上潤滑劑和密封圈（或防塵蓋）。滾動軸承分類滾動軸承代號：軸承型號一般有前置代號，基本代號和后置代號組成。一般情況下，軸承型號只用基本型號表示。基本型號一般包含三部分，類型代號，尺寸代號和內徑代號。后置代號是用字母和數字等表示軸承的結構、公差及材料的特殊要求等。前置代號用來表示軸

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• 三坐標測量機——汽車零部件幾何量測量與品質控制系統2023-03-13 14:26

  

  對于汽車沖壓件缺陷的檢測，一般用檢具、鋼直尺、塞尺及面差表等測量器具，就可以對沖壓件的料邊尺寸、型面尺寸、孔徑及孔位等進行測量，同時結合產品的數模，可確認沖壓件的尺寸狀況。但這種人工測量如檢驗員的測量手法、裝夾順序等人為操作會對測量結果有一定的影響。而利用三坐標觸發、掃描和非接觸式探測系統，能準確測量零件的孔位、型面尺寸等，完成各種汽車零部件幾何量測量與品質

  測量 測量機 1563瀏覽量

• 認識三坐標測量機的結構形式2023-03-13 14:23

  

  活動橋式結構為最常用的三坐標結構。移動橋式三坐標測量機結構簡單、緊湊，上下料有比較大的空間，運動速度快，精度高。

  測量 測量機 1635瀏覽量

• 共聚焦顯微鏡在太陽能光伏行業的應用2023-03-02 15:45

  

  隨著太陽能光伏產業的快速發展，對太陽能電池質量要求越來越高，這其中柵線質量、單晶硅絨面質量十分關鍵，如何快速高效檢測相關參數成為行業關注重點。太陽能電池片VT6000共聚焦顯微鏡是中圖儀器推出的一款全新的微觀3D測量儀器，能夠對太陽能電池片微觀結構進行三維形貌重建。具有測量精度高、全自動化、快速測量、處理數據便捷等優點。在太陽能電池制作工程中，柵線的高寬比決

  光伏 顯微鏡 703瀏覽量

• 簡述三坐標測量機的工作原理2023-03-02 10:20

  

  三坐標測量機是一種具有可作三個方向移動的探測器，可在X、Y、Z三個相互垂直的導軌上移動，此探測器以接觸或非接觸等方式傳送訊號，三個軸之位移量測系統（如光學尺）經數據處理器或計算機等計算出工件的各點坐標（x,y,z）及各項功能量測的儀器。是在三維可測的空間范圍內，能夠根據測頭系統探測工件，返回工件表面的點數據，通過三坐標的軟件系統（如RationalDIMS三

  坐標系 測量 測量機 2935瀏覽量

• 共聚焦激光掃描顯微鏡在材料生產領域中有哪些應用？2023-03-01 08:52

  

  VT6000共聚焦激光掃描顯微鏡具有高對比度、高分辨率及可重建三維圖像的優勢，查看各種顯微照片更加清晰，在材料生產、科研和檢測領域中可測量表征微觀形貌的輪廓尺寸及粗糙度，具有廣泛的應用。

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• 白光干涉儀拼接功能怎么用？2023-03-01 08:49

  

  SuperViewW1白光干涉儀XY載物臺標準行程為140*110mm，可以測到12mm，也可以測到更小的尺寸，局部位移精度可達亞微米級別，可以測量非常微小尺寸的器件；也可以使用自動拼接測量、定位自動多區域測量功能將測量的每一個小區域整合拼接成完整的圖像，從而獲得物體整個區域的表面情況。

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• 激光共聚焦顯微鏡有幾類？2023-02-28 09:50

  

  激光共聚焦顯微鏡主要組成包括：顯微鏡、激光光源、掃描裝置、檢測器、計算機系統(包括數據采集，處理，轉換，應用軟件)、圖像輸出設備、光學裝置和共聚焦系統。普通光學顯微鏡收集的光為來自焦平面上下的非測量光以及樣品反射光、衍射光的疊加，分辨率較低。而共聚焦顯微鏡利用共聚焦原理，將焦平面上非測量光點形成的雜散光和樣品不同焦平面的反射光、衍射光過濾，只使焦平面的光穿過

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