硅知識產(chǎn)權(quán)核,矽智慧財產(chǎn)權(quán)核,Silicon IP Core
IP的設(shè)計有別于 IC 設(shè)計。IP的使用對象是第三方設(shè)計公司,要想使IP在第三方設(shè)計的 SoC 系統(tǒng)....
密碼算法實現(xiàn)的FIA防護
安全控制器中的密碼算法實現(xiàn)模塊同樣能有效抵御各種故障注入攻擊(FIA),目前主要的防護手段包括檢錯技....
密碼算法實現(xiàn)的SCA防護
對于安全控制器而言,密碼算法的實現(xiàn)與安全性緊密相關(guān),密碼算法實現(xiàn)
韓國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展,ICIndustry Development in South Korea
韓國是全球集成電路產(chǎn)業(yè)大國,其半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)規(guī)模占全國 CDP 的 5%,目前擁有兩萬至家企業(yè)支撐著其半....
從工業(yè)時代到信息時代,從工業(yè)時代到資訊時代
根據(jù)IC Insights 統(tǒng)計,2016 年,全球電子產(chǎn)品市場規(guī)模達到 1.46 萬億美元從下圖可....

電子管、晶體管的發(fā)明與應(yīng)用
最初,電子設(shè)備的核心部件是電子管,電子管控制電子在真空中的運動
集成電路與集成電路產(chǎn)業(yè),積體電路與積體電路座業(yè)
集成電路自發(fā)明以來,經(jīng)過20世紀 60年代和70 年代的發(fā)展,逐步形成了集成電路產(chǎn)業(yè)。1965年,仙....
半導(dǎo)體器件封裝標準
國際上對封裝外形標淮化工作開展得較早,一般采用標淮增補單或外死注冊形式。 IEC SC47D 發(fā)布的....
溫度-機械應(yīng)力失效主要情形
集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)....

集成電路封裝失效機理
集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)....
集成電路封裝失效分析方法
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確....
集成電路封裝可拿性試驗標準
集成電路封裝可拿性試驗標準是指用于指導(dǎo)和規(guī)范集成電路封裝可靠性評估、驗證試驗過程的一系列規(guī)范性文件,....
集成電路封裝可靠性試驗的分類與作用
集成電路封裝可拿性試驗是指對集成電路進行封裝可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段,即對封裝或材料施加一定....
通過建立故障模型模擬芯片制造過程中的物理缺陷
通過建立故障模型,可以模擬芯片制造過程中的物理缺陷,這是芯片測試的基礎(chǔ)。
物聯(lián)網(wǎng)芯片/微機電系統(tǒng)芯片測試方法
物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 芯片主要包括傳感器芯片、嵌人式處理芯片、無線傳輸鏈接芯片等。IoT 芯片的性能/....
高速信號集成電路測試方法
隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展,高速信號的設(shè)計技術(shù)指標不斷更新,系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)傳輸速率已經(jīng)提高到數(shù)十 Gbit....

存儲器集成電路測試,記憶體積體電路測試,Memory IC Test
單獨的半導(dǎo)體存儲器可以利用存儲器專用測試設(shè)備進行測試,該設(shè)備通常包含硬件算法圖形生成器 ( Algo....
