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Semi Connect

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硅知識產(chǎn)權(quán)核,矽智慧財產(chǎn)權(quán)核,Silicon IP Core

IP的設(shè)計有別于 IC 設(shè)計。IP的使用對象是第三方設(shè)計公司,要想使IP在第三方設(shè)計的 SoC 系統(tǒng)....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 10-17 16:53 ?1258次閱讀

密碼算法實現(xiàn)的FIA防護

安全控制器中的密碼算法實現(xiàn)模塊同樣能有效抵御各種故障注入攻擊(FIA),目前主要的防護手段包括檢錯技....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 10-12 09:55 ?928次閱讀

密碼算法實現(xiàn)的SCA防護

對于安全控制器而言,密碼算法的實現(xiàn)與安全性緊密相關(guān),密碼算法實現(xiàn)
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 10-11 09:12 ?967次閱讀

韓國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展,ICIndustry Development in South Korea

韓國是全球集成電路產(chǎn)業(yè)大國,其半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)規(guī)模占全國 CDP 的 5%,目前擁有兩萬至家企業(yè)支撐著其半....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 08-03 16:51 ?2378次閱讀

從工業(yè)時代到信息時代,從工業(yè)時代到資訊時代

根據(jù)IC Insights 統(tǒng)計,2016 年,全球電子產(chǎn)品市場規(guī)模達到 1.46 萬億美元從下圖可....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 07-19 15:06 ?1945次閱讀
從工業(yè)時代到信息時代,從工業(yè)時代到資訊時代

集成電路制造的發(fā)展歷程

廣義的集成電路制造主要包括設(shè)計、制造和封裝(含測試)三個方面。?
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 07-18 09:50 ?2748次閱讀
集成電路制造的發(fā)展歷程

半導(dǎo)體材料的發(fā)展歷程

第一代半導(dǎo)體材料以錯和硅為主。
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 07-17 11:22 ?2808次閱讀

電子管、晶體管的發(fā)明與應(yīng)用

最初,電子設(shè)備的核心部件是電子管,電子管控制電子在真空中的運動
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 07-12 09:55 ?2564次閱讀

集成電路與集成電路產(chǎn)業(yè),積體電路與積體電路座業(yè)

集成電路自發(fā)明以來,經(jīng)過20世紀 60年代和70 年代的發(fā)展,逐步形成了集成電路產(chǎn)業(yè)。1965年,仙....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 07-10 11:08 ?1483次閱讀

民用封裝標準主要包括哪些

中國制定的民用封裝標準主要包括術(shù)語定義、外形尺寸、測試方法,以及引線框架和封裝材料的相關(guān)標準。 GB....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 07-03 09:02 ?1774次閱讀
民用封裝標準主要包括哪些

半導(dǎo)體器件封裝標準

國際上對封裝外形標淮化工作開展得較早,一般采用標淮增補單或外死注冊形式。 IEC SC47D 發(fā)布的....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-30 10:17 ?2679次閱讀

溫度-機械應(yīng)力失效主要情形

集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-26 14:15 ?1852次閱讀
溫度-機械應(yīng)力失效主要情形

集成電路封裝失效機理

集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-26 14:11 ?2245次閱讀

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-21 08:53 ?1772次閱讀

集成電路封裝可拿性試驗標準

集成電路封裝可拿性試驗標準是指用于指導(dǎo)和規(guī)范集成電路封裝可靠性評估、驗證試驗過程的一系列規(guī)范性文件,....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-19 09:33 ?3532次閱讀

集成電路封裝可靠性試驗的分類與作用

集成電路封裝可拿性試驗是指對集成電路進行封裝可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段,即對封裝或材料施加一定....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-16 13:51 ?1752次閱讀

集成電路的可靠性判斷

集成電路可拿性是指.在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時問內(nèi),集成電路完成規(guī)定功能的能力。可通過可靠度、失效率、....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-14 09:26 ?2314次閱讀
集成電路的可靠性判斷

通過建立故障模型模擬芯片制造過程中的物理缺陷

通過建立故障模型,可以模擬芯片制造過程中的物理缺陷,這是芯片測試的基礎(chǔ)。
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-09 11:21 ?1617次閱讀

物聯(lián)網(wǎng)芯片/微機電系統(tǒng)芯片測試方法

物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 芯片主要包括傳感器芯片、嵌人式處理芯片、無線傳輸鏈接芯片等。IoT 芯片的性能/....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-08 16:44 ?1661次閱讀

系統(tǒng)芯片與晶片測試

系統(tǒng)芯片 (Sxstem on Chip,SoC)通過軟硬件結(jié)合的設(shè)計和驗證方法
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-07 16:14 ?1045次閱讀
系統(tǒng)芯片與晶片測試

可編程邏輯器件測試方法

可編程邏輯器件 (Programmable Loeie Device,PLD)是一種用戶編程實現(xiàn)某種....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-06 15:35 ?2222次閱讀
可編程邏輯器件測試方法

射頻集成電路測試

射頻信號是一種具有遠距離傳輸能力的高頻電磁波,廣義上的射頻(RF)包括了 300kHz~300GHz....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-04 16:07 ?1774次閱讀
射頻集成電路測試

高速信號集成電路測試方法

隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展,高速信號的設(shè)計技術(shù)指標不斷更新,系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)傳輸速率已經(jīng)提高到數(shù)十 Gbit....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 06-02 13:43 ?2593次閱讀
高速信號集成電路測試方法

存儲器集成電路測試,記憶體積體電路測試,Memory IC Test

單獨的半導(dǎo)體存儲器可以利用存儲器專用測試設(shè)備進行測試,該設(shè)備通常包含硬件算法圖形生成器 ( Algo....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 05-31 17:03 ?1349次閱讀
存儲器集成電路測試,記憶體積體電路測試,Memory IC Test

模擬集成電路測試方法

模擬集成電路包括運算放大器、濾波器、電源管理電路、模擬開關(guān)、PLL、射頻前端等,其典型參數(shù)包括泄漏電....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 05-29 10:57 ?1920次閱讀
模擬集成電路測試方法

混合信號集成電路測試方法

混合信號集成電路是指包括數(shù)宇模塊和模擬模塊的集成電路。將數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號的電路稱為數(shù)模轉(zhuǎn)換器(....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 05-29 10:56 ?2527次閱讀
混合信號集成電路測試方法

數(shù)字集成電路測試流程

數(shù)字集成電路的測試主要包括直流參數(shù)測試 (DC Test)、交流參數(shù)測試(AC Test)、功能測試....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 05-26 10:08 ?5194次閱讀
數(shù)字集成電路測試流程

集成電路測試定義

集成電路進人后摩爾時代以來,安全、可靠的軟硬件協(xié)同設(shè)計、冗余定制、容錯體系結(jié)構(gòu)和協(xié)議、光機電一體化等....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 05-25 09:48 ?2552次閱讀
集成電路測試定義

SiP和SoC的協(xié)同發(fā)展

隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路正沿著三個方向發(fā)展:一是集成電路芯片的特征尺寸向不斷縮小的方向發(fā)展;....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 05-23 10:58 ?2464次閱讀
SiP和SoC的協(xié)同發(fā)展

可制造性、可靠性和可測性協(xié)同設(shè)計

可制造性設(shè)計 (Design for Manufacturabiity, DFM)、可靠性設(shè)計 (D....
的頭像 Semi Connect 發(fā)表于 05-18 10:55 ?4261次閱讀
可制造性、可靠性和可測性協(xié)同設(shè)計
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