片上芯片SoC挑戰傳統測試方案(3)

2012年01月28日 17:14 來源：本站整理 作者：葉子 我要評論(0)

低成本生產測試

　　SoC生產技術的成功，依靠的是廠商以最低的生產成本實現大量的生產能力。隨 制造商創造了結合先進數字電路和模擬功能的SoC，就需要不斷提高自動測試儀(ATE)的強大功能。芯片內功能提高了數字數據傳輸速率。而今，防火墻、千兆赫茲以太網和圖形加速接口等功能都集于芯片上，因此需要測試儀的數據速率要達到800Mbps或更高。制造商們正在尋找適應性強和容易升級的操作平臺以滿足新要求，而非過去那樣追加投資，開發新一代產品。

　　對于混合信號的SoC，可配置的ATE系統在經濟上可以承受大批量生產對測試功能和靈活性的要求。模塊式結構是這些系統的核心，為制造商提供了一個適應性強的高性能共享測試平臺。就IC電路的總體而言，大功率多性能ATE能夠滿足SoC日益增加的功能條件，如管腳的增加、速度的提高、對液體冷卻的需求等。好在先進的冷卻設計可以選用空氣冷卻高速高功耗的CMOS電路，而降低了ATE的復雜性。

　　系統設計和檢測儀表性能的改善顯著地減少了ATE的費用，加上應用了各種程序開發工具語言，增加了測試開發環境的功效。工程師們利用共享圖形用戶界面(GUI)和現有測試程序模板，使現有的測試程序符合特定的測試用途，從而提高了生產效率。這種以模板為基礎的方法把測試開發時間削減了數周，這對于把握SoC市場稍縱即逝的機會格外重要。

　　在產業開始復蘇的今天，對市場機會的快速應變能力是SoC制造業重于一切的要務。在現有條件下取得最大效益的能力，對于制造商仍然非常關鍵。系統兼容性在高效的開發環境及生產測試設備中是一個日益重要的特性，將有助于使生產能力達到最高水平。廠商通過有效配置所有測試設備，把測試轉移到最有效的平臺上進行，不斷滿足生產條件的變化要求。

上一頁123

本文導航

標簽：SOC(172)片上芯片(1)