過程.................................873.1 集成電路的特性測試
2008-09-24 10:06:01
集成電路（Integrated Circuit，簡稱IC）芯片的三大測試環(huán)節(jié)包括前端測試、中間測試和后端測試。
2023-06-26 14:30:05
443 集成電路芯片的測試（ICtest）分類包括：分為晶圓測試（wafertest）、芯片測試（chiptest）和封裝測試（packagetest）。
2023-06-14 15:33:36347 數(shù)字集成電路的測試主要包括直流參數(shù)測試 (DC Test)、交流參數(shù)測試(AC Test)、功能測試（Function Test)、可測性設(shè)計（DFT）測試等。典型的數(shù)字集成電路測試順序如圖所示。
2023-05-26 10:08:331186 
集成電路封裝測試是指對集成電路封裝進行的各項測試，以確保封裝的質(zhì)量和性能符合要求。封裝測試通常包括以下內(nèi)容。
2023-05-25 17:32:52705 , WLP)、硅通孔(Through Silicon Via, TSV)、三維集成等先進封裝工藝，帶來了新的測試工序和復(fù)雜光機電集成失效特性：這些技術(shù)的演進也導(dǎo)致集成電路測試變得日益復(fù)雜。互聯(lián)網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)、云計算、大數(shù)據(jù)等新應(yīng)用、新業(yè)態(tài)的出現(xiàn)，不斷推動集成電路測試技術(shù)的發(fā)展和信息化進程。
2023-05-25 09:48:39673 
集成電路測試可以按照測試目的、測試內(nèi)容、按照器件開發(fā)和制造階段分類。參照需要達到的測試目的對集成電路測試進行分類，可以分為:驗證測試、制造測試、老化測試、入廠測試等。按照測試所涉及內(nèi)容，集成電路測試
2023-04-25 15:58:33253 半導(dǎo)體集成電路測試技術(shù)伴隨著集成電路的飛速發(fā)展而發(fā)展，對促進集成電路的進步和廣泛應(yīng)用作出了巨大的貢獻。在集成電路研制、生產(chǎn)、應(yīng)用等各個階段都要進行反復(fù)多次的檢驗、測試來確保產(chǎn)品質(zhì)量和研制開發(fā)出符合
2023-04-13 09:17:34344 
了解CMOS集成電路的技術(shù)參數(shù)及特性，有助于更好地幫助我們提高集成電路的設(shè)計效率，也能進一步鞏固我們的自身基礎(chǔ)知識，所以今天我們將詳談CMOS集成電路
2023-03-03 15:17:071028 半導(dǎo)體集成電路引線牢固性測試是檢查器件的引線、引線鍍涂、引線焊接和密封承受施加于引線和密封上的彎曲應(yīng)力的能力。這些應(yīng)力在器件的實際使用和組裝過程中，或在環(huán)境試驗前用中等彎曲應(yīng)力對引線進行預(yù)處理
2023-01-04 17:08:13609 基于基于Qt的集成電路測試軟件設(shè)計方案
2021-06-19 12:02:35
30 基于ATE的集成電路測試原理和方法綜述
2021-06-17 09:34:44108 集成電路封裝測試與可靠性分析。
2021-04-09 14:21:51106 越來越多的人認識到了集成電路IC對電子工業(yè)的重要性，對集成電路的設(shè)計和生產(chǎn)的投入也越來越大。集成電路的電磁兼容也同樣重要，電磁兼容EMC的測試，可以分成組部件級，設(shè)備級和系統(tǒng)級，每個級別都有相應(yīng)的EMC測試標準。
2021-01-04 16:53:305138 
按集成度高低分類集成電路按集成度高低的不同可分為小規(guī)模集成電路、中規(guī)模集成電路、大規(guī)模集成電路、超大規(guī)模集成電路、特大規(guī)模集成電路和巨大規(guī)模集成電路。??
2019-10-12 10:26:018583 電子技術(shù)的電控電路常采用CMOS邏輯控制系統(tǒng)，通過多年的維修實踐，我們自行設(shè)計和安裝了簡易集成邏輯門電路測試儀。只要掌握了各種邏輯門電路輸入和輸出的邏輯關(guān)系，通過該測試儀即可很快判斷集成電路的好壞。
2019-02-06 19:19:007462 
本文開始介紹了什么是集成電路與集成電路擁有的特點，其次介紹了集成電路的分類和集成電路的原材料，最后詳細的介紹了集成電路的四個封裝形式及集成電路電路符號和應(yīng)用電路識圖方法。
2018-01-24 18:25:4926825 分為wafer test（晶圓檢測）、chip test（芯片檢測）和package test（封裝檢測）。關(guān)于集成電路測試
檢測之前要做的工作就是要充分了解集成電路的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路，主要參數(shù)指標，各個引出線的作用及其正常電壓。第一部工作做的好，后面的檢查就會順利很多。
2017-12-20 16:39:0222895 
本文主要介紹了什么是集成電路,集成電路的結(jié)構(gòu)與特點、集成電路對集成電路的種類和作用進行了詳細的介紹，最后簡單的闡述了集成電路的發(fā)展。
2017-12-20 11:49:0883911 本文以集成電路測試儀為中心、主要介紹了什么是集成電路測試儀、集成電路測試儀有哪些種類、電路測試儀的組成以及集成電路測試儀的選購技巧。
2017-12-20 11:33:5112668 電子專業(yè)單片機相關(guān)知識學(xué)習(xí)教材資料—集成電路測試技術(shù)簡單介紹
2016-09-01 17:24:5345 通過對IMS 公司生產(chǎn)的集成電路測試系統(tǒng)ATS 的描述，討論了集成電路(IC)的測試技術(shù)及其在ATS 上的應(yīng)用方法，并以大規(guī)模集成電路芯片8255 為例，給出一種芯片在該集成電路測試系統(tǒng)上從功能分析到具體測試的使用過程。
2016-09-01 17:24:5369 電子專業(yè)單片機相關(guān)知識學(xué)習(xí)教材資料——很好的集成電路測試資料
2016-09-01 16:40:0761 基于集成電路應(yīng)力測試認證的失效機理中文版
2016-02-25 16:08:117 最新集成電路應(yīng)用最新集成電路應(yīng)用最新集成電路應(yīng)用
2015-11-05 16:58:288 集成電路的測試技術(shù)隨著集成電路開發(fā)應(yīng)用的飛速發(fā)展而發(fā)展。集成電路測試儀也從最初測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。
2014-10-07 17:05:562030 
大容量存儲器集成電路的測試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金項目,是根據(jù)大容量存儲器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的發(fā)展趨勢而研究開發(fā)的測試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測試
2012-04-26 10:54:221686 集成電路測試是保證集成電路質(zhì)量、發(fā)展的關(guān)鍵手段。CMOS 器件進入超深亞微米階段, 集成電路繼續(xù)向高集成度、高速度、低功耗發(fā)展, 使得IC 在測試和可測試性設(shè)計上都面臨新的挑戰(zhàn)。
2011-05-20 16:48:2082 集成電路代換方法與技巧
1、 集成電路型號的識別
要全面了解一塊集成電路的用途、功能、電特性，
2010-09-19 11:34:281719 一．實驗?zāi)康?、通過對集成電路外特性的測試，了解集成電路的電氣性能和特點；2、進一步掌握示波器和信號源的使用方法。二．實驗器材實驗儀器：PC機、軟件EWB5.0。
2010-08-06 11:50:4445 混合集成電路,混合集成電路是什么意思
由半導(dǎo)體集成工藝與薄（厚）膜工藝結(jié)合而制成的集成電路。混合集成電路是在基片上用成膜方法制作厚
2010-03-20 16:19:023991 集成電路代換方法與技巧
1、 集成電路型號的識別
要全面了解一塊集成電路的用途、功能、電特性，那必須知道該塊集成電
2010-01-26 10:41:351536 《VXI 數(shù)模混合集成電路測試系統(tǒng)》的開發(fā)，對于集成電路設(shè)計驗證、集成電路測試都有著極其重要的意義。VXI 總線測試系統(tǒng)由于其開放性、可擴展性及模塊化結(jié)構(gòu)使其應(yīng)用廣泛
2009-12-19 15:23:1623 集成電路替換技巧
集成電路型號的識別
要全面了解一塊集成電路的用途、功能、電特性，那必須知道
2009-11-24 08:33:27783 集成電路測試儀電源電路的仿真設(shè)計研究與應(yīng)用
0 引 言
集成電路測試儀可用來測量集成電路的好壞，在電子實驗室中應(yīng)用廣泛。在實際使
2009-11-23 08:55:27618 集成電路測試儀電源電路的仿真設(shè)計研究與應(yīng)用
0 引 言
集成電路測試儀可用來測量集成電路的好壞，在電子實驗室中應(yīng)用廣泛。在實際使用中，發(fā)現(xiàn)部分廠家
2009-11-21 09:33:14461 
本文介紹了集成電路電磁兼容測試的相關(guān)標準和測試方法。對其中的1Ω/150Ω直接耦合法和工作臺法拉第籠法進行了詳細介紹和分析，并提出集成電路電磁兼容測試平臺解決方案以滿
2009-10-07 23:03:0748 集成電路電磁騷擾測試方法:摘要：本文分析了高頻數(shù)字集成電路產(chǎn)生電磁發(fā)射的原因及其電磁發(fā)射的測量原理，簡要說明了集成電路電磁騷擾的幾種測試方法及其理論依據(jù)，介紹
2009-10-07 23:01:4833 單片集成電路電容測試儀
這個電路可用于匹配
2009-09-23 16:42:41398 
中規(guī)模集成電路功能測試儀的設(shè)計
設(shè)計了一款針對學(xué)校實驗室常用的中規(guī)模集成電路芯片的功能測試儀。測試儀的核心AT89C55單片機管理和控制整個
2009-09-19 09:15:47976 
半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理:GB/T 6798-1996
本標準規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性測試方法的基本原理本標準適用于半導(dǎo)體集成電路電壓比較器
2009-08-04 11:02:2455
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