實驗 箔式應變計與半導體應變計性能比較
實驗目地：
通過實驗對兩種應變電路的特性有充分的了解
實驗所需部件：
直流穩壓電源、箔式應變計、半導體應變計、應變式傳感器實驗模塊、螺
旋測微儀、數字電壓表、應變加熱器、溫度計（自備）
實驗步驟：
1、分別進行箔式應變單臂電橋與半導體應變單臂電橋實驗，直流激勵源
統一為±2V，差動放大器增益置一固定位置，接線如圖（1）。
調整系統，在相同的外部環境下測得兩組數據并填入下表：

2、將電橋中R1固定電阻分別換成箔式片與半導體片，做半橋實驗，測得的兩組數據也填入上表。
3、在同一坐標上做出四條V-X 曲線進行比較。
4、打開應變加熱器，測得箔式應變電橋與半導體應變電橋的溫飄，進行溫度特性比較。

注意事項：半導體應變計加熱后溫飄是非常大的，即使是加熱到了相對的熱平衡，但只要溫度不是絕對穩定，電橋輸出往往還是不能穩定，這不是儀器的毛病